【正文】 chart單位產(chǎn)品不合格數(shù)控制圖 ~控制 圖 的 類型24確定要使用控制圖的特性否 否是是使用 np或 p圖否使用 p圖否使用 u圖是是使用 c或 u圖是是使用單值圖 XMR是計量型數(shù)據(jù)嗎？關(guān)心的是不合格產(chǎn)品的百分比嗎？關(guān)心的是不合格數(shù)嗎？樣本容量是否恒定？樣本容量是否恒定？性質(zhì)上是否均勻或不能按子組取樣—例如：化學(xué)槽液、批量油漆等？接下頁控制 圖 的 選用程序25是否 使用X—R 圖是否 使用X—R 圖使用X— s圖注：本圖假設(shè)測量系統(tǒng)已經(jīng)過評價 ,并且是適用的。使用 XbarR控制 圖 的步 驟 A30 建立抽樣計劃 定義 子 組容量，較大的子組更容易發(fā)現(xiàn)微小的過程變化；規(guī)定子組頻率，通常按時間順序來取子組，如 15分鐘一次或每班一次；子組數(shù)量應(yīng)滿足如下原則：應(yīng)該收集足夠的子組以確保影響過程變差的主要原因有機會出現(xiàn)，通常在 25或更多個子組內(nèi)包括 100或更多的單值讀數(shù)可以很好地用來檢驗穩(wěn)定性?？刂茍D格式見 SPC手冊 5152頁。使用 XbarR控制 圖 的步 驟 A34 計算控制統(tǒng)計量 從子組的測量數(shù)據(jù)中計算用于描點的控制統(tǒng)計量；控制統(tǒng)計量： 樣本均值、中位數(shù)、極差、標(biāo)準(zhǔn)差 等；使用 XbarR控制 圖 的步 驟 A按照控制圖的類型選擇適當(dāng)?shù)墓接嬎憧刂平y(tǒng)計量。37步驟B 建立控制限使用 XbarR控制 圖 的步 驟 BB 計 算 中心線 ；B 計 算 控制限 （上控制限 UCL、 下控制限 LCL ）；B 在控制 圖 上 畫 出 中心線 和 控制 限 ?？刂葡薜挠嬎愎絥 2 3 4 5 6 7 8 9 10D4 D3 ? ? ? ? ? A2 41? 在均值圖上畫出中心線（ 過程平均值）和上、下控制限（ UCLXbar、 LCLXbar） ；? 將 極 差 圖上畫出中心線（極 差 平均值 ）和上、下控制限（ UCLR、 LCLR） ；? 中心線 畫成 黑色 水平實線；? 控制限畫成 紅色 水平虛線。（即其中之一或兩者均不受控）進而采取適當(dāng)?shù)拇胧? 因為子組極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差，因此， 首先應(yīng)分析 R圖。在那一點之前可能已經(jīng)發(fā)生了特殊原因。UCLCLLCL如何定義 “不受控 ”信號48UCLLCL RUCL RLCL不受控制的過程的極差（存在高于和低于極差均值的兩種鏈）不受控制的過程的極差（存在長的上升鏈）49不受控制的過程的均值（長的上升鏈）不受控制的過程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈）UCL XLCLUCL XLCL50n 控制限內(nèi)的模式或趨勢 ——明 顯 的非 隨機模式 ：n 通常大約 2/3的 描點應(yīng) 落 在控制限內(nèi) 中 間的 1/3區(qū) 域 ， 大約 1/3的 描點應(yīng) 落 在控制限內(nèi)外面的 2/3區(qū) 域 。n 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯 (極差和均值相差太遠的幾個子組更改或刪除）如何定義 “不受控 ”信號51n 控制限內(nèi)的模式或趨勢 ——明 顯 的非 隨機模式 ：n 如果顯著少余 2/3以上的描點落在離中心線很近之處（對于 25子組，如果 40%或更少的點落在控制限中間的 1/3區(qū)域），則應(yīng)調(diào)查是否存在下列一種或兩種情況： n 控制限或描點計算錯誤或描錯 。 如何定義 “不受控 ”信號52UCL XLCLUCL XLCL均值失控的過程（點離過程均值太近）均值失控的過程（點離控制限太近）53? 在進行初次過程研究或重新評定過程能力時，不受控的特殊原因已被識別和消除或制度化，然后應(yīng)重新計算控制限，以排除不受控時期的影響；? 排除所有受已被識別和消除或制度化的特殊原因影響的子組，然后重新計算新的中心線和控制限，并在圖中繪出；? 確保當(dāng)與新的控制限相比時，兩個圖都沒有不受控的情況。重新計算控制限54? 由于識別為特殊原因而從 R圖中去掉的子組，也應(yīng)該從Xbar圖中去掉。? 由于識別為特殊原因而從 Xbar圖中去掉的子組，也應(yīng)該從 R圖中去掉。 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是 “丟棄壞數(shù)據(jù) ”。并且一定要改變過程，以使特殊原因不會作為過程的一部分重現(xiàn)。2 小心不要應(yīng)用多重準(zhǔn)則，除非在那些有意義的事情上。58ABCCBAUCLLCLABCCBAUCLLCL特殊原因識別準(zhǔn)則 :2/3A連續(xù) 3點 中有 2點 在 A區(qū) 或 A區(qū)以外特殊原因識別準(zhǔn)則 2: 4/5B連續(xù) 5點 中有 4點 在 B區(qū) 或B區(qū) 以外典型特殊原因識別準(zhǔn)則59ABCCBAUCLLCLABCCBAUCLLCL特殊原因識別準(zhǔn)則 :6連 串連續(xù) 6點持續(xù) 地上升或下降特殊原因識別準(zhǔn)則 : 8缺 C連續(xù) 8點 在中心 線 的 兩側(cè) ,但 C區(qū)沒有點典型特殊原因識別準(zhǔn)則60ABCCBAUCLLCLABCCBAUCLLCL特殊原因識別準(zhǔn)則 : 7單側(cè)連續(xù) 7點位于中心線一側(cè)特殊原因識別準(zhǔn)則 : 14升降連續(xù) 14點交替上下變化典型特殊原因識別準(zhǔn)則61ABCCBAUCLLCLABCCBAUCLLCL特殊原因識別準(zhǔn)則： 15C連續(xù) 15點 在中心 線 上下 兩側(cè) 的C區(qū)特殊原因識別準(zhǔn)則 : 1界外有 1點 在 A區(qū) 以外典型特殊原因識別準(zhǔn)則62使用 XbarR控制 圖 的步 驟 Ｃ案例練習(xí)：　 請應(yīng)用典型特殊原因識別準(zhǔn)則判定過程是否存在特殊原因？63D 為持續(xù)控制延長控制限使用 XbarR控制 圖 的步 驟 D當(dāng)初始的（或歷史的）數(shù)據(jù)都一致地落在試用的控制限內(nèi)，就可以延長控制限以適用未來的控制需要。這些控制限將用于過程的持續(xù)監(jiān)控，操作者和所屬的管理者根據(jù)在 X或 R圖上所出現(xiàn)的關(guān)于位置和變差不受控的信號而采取迅速的措施。使用 XbarR控制 圖 的步 驟 D65UCL XLCLUCLRLCL子組編號日期時間x1x2X3X4X5均值 Xbar極差 R按照延長的控制限描新的點。 如果一個控制圖從來沒有顯示失控，那么我們應(yīng)該認真的思考一下這個過程是否應(yīng)該使用控制圖。本章的小結(jié)67統(tǒng)計過程控制(SPC)四、過程能力和性能雙邊公差的指數(shù)（ Cp和 Cpk、 Pp和 Ppk、 CR和 PR）單邊公差的指數(shù)（ Cpk、 Ppk）過程能力和過程性能概念68過程能力和過程性能的概念過程能力：僅適用于統(tǒng)計穩(wěn)定的過程，是過程固有變差的 6 范圍。如果過程處于統(tǒng)計受控狀態(tài)，過程能力將非常接近過程性能，當(dāng)過程的能力和性能 6 之間存在較大差別時表示有特殊原因存在。過程能力與由公差表示的最大可允許的變差進行比較。計算公式如下：Cp不受過程位置的影響，這個指數(shù)只是針對雙邊公差而計算的。它考慮了過程的位置和能力。 Cpk 和 Cp應(yīng)該總是一起進行評價和分析。Cpk是 CPU或者 CPL的最小值，公式如下：233dRLSLxCPLxUSLCPU===Cp和 Cpk僅僅當(dāng)過程處于穩(wěn)定狀態(tài)時才有效。案例練習(xí)76? 材料經(jīng)熱處理后其硬度公差要求為 57177。3σ=177。過程性能與由公差表示的最大可允許的變差進行比較。計算公式如下：6SLSLUSL=78USL USLLSL LSL雙邊公差的過程測量指數(shù)6sigma 6sigmaX XM79雙邊公差的過程測量指數(shù)Ｐ pk： 性能 指數(shù)。對于雙邊公差， Ｐ pk 將總是小于或者等于Ｐ p。 如果Ｐ p 值遠大于對應(yīng)的Ｐ pk 值，表明有機會改進。 C和 P之間出現(xiàn)較大差異，表明有特殊原因出現(xiàn)。82? 請 依 照 上 個課堂練習(xí) 的 數(shù)據(jù) ， 計 算下列 指數(shù)：n Pp、 Ppk。課堂練習(xí)83? 材料經(jīng)熱處理后其硬度規(guī)格要求為 57177。3σ=177。過程能力與由公差表示的最大可允許的變差進行比較。如果產(chǎn)品的特性具有物理極限（例如：平面度不可能小于 0）， Cp就可以用物理極限（ 0）作為下限的替代值來計算。它同時考慮了過程的位置和能力。過程能力與由公差表示的最大可允許的變差進行比較。如果產(chǎn)品的特性具有物理極限（例如：平面度不可能小于 0）， Pp就可以用物理極限（ 0）作為下限的替代值來計算。它同時考慮了過程的位置和性能。89統(tǒng)計過程控制(SPC)六、設(shè)備能力研究90? 根據(jù)美國工業(yè)界的經(jīng)驗，長期的過程變差的７５％來自設(shè)備變差。設(shè)備能力指數(shù)Ｃ mk設(shè)備普通原因人員設(shè)備材料測量環(huán)境方法 91? 設(shè)備能力研究：連續(xù) 50件產(chǎn)品，排除