【正文】 87 B計(jì)算控制限 nunuuL C LnuuU C LnCuCLnnncccuuuuukk?+?+???++++++????33. . .. . . ... . .. . . ..212188 過程解釋、過程能力解釋 ? 過程控制解釋 ? 同 p圖解釋 ? 過程能力解釋 ? 過程能力為 u平均，即每報(bào)告單元缺陷數(shù)平均值。 “ u”圖的繪制和 “ p”圖相似，不同之處如下： 86 A收集數(shù)據(jù) ? 各子組樣本的容量彼此不必都相同，盡管使它的容量在其平均值的正負(fù) 25%以內(nèi)可以簡(jiǎn)化控制限的計(jì)算。除了缺陷量是按每單位產(chǎn)品為基本量表示以外，它是與 c圖相似的。 ? 主要不同之處如下： 82 A數(shù)據(jù)收集 ? 檢驗(yàn)樣本的容量要求相等，這樣描繪的 c值將反映質(zhì)量性能的變化（缺陷的發(fā)生率）而不是外觀的變化（樣本容量 n），在數(shù)據(jù)表中記錄樣本容量； ? 記錄并描繪每個(gè)字組內(nèi)的缺陷數(shù)（ c） 83 B計(jì)算控制限 CCCL C LCCU C LkCCCLkcccccccck??+???+++???33. . .. .2184 過程控制解釋、過程能力解釋 ? 過程控制解釋：同 p圖解釋 ? 過程能力解釋 ? 過程能力為 c平均，即固定樣本容量 n的樣本缺陷數(shù)平均值。 ? D過程能力的解釋 ： 如下 p :c h a r t np of c a pa bi l i t y t h e80 不合格品數(shù) np圖 1 09876543210543210S a m p l e N u m b e rSample CountN P C h a r t f o r C 2N P = 1 . 2 0 03 . 0 S L = 4 . 4 6 7 3 . 0 S L = 0 . 0 0 0100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 1 2 1 0 1 2 1 2 0 2 81 不合格數(shù)的 c圖 ? “C”圖內(nèi)來測(cè)量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的缺陷的數(shù)量， C圖要求樣本的容量或受檢材料的數(shù)量恒定，它主要用以下兩類檢驗(yàn)： ? 不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上（例如每匹尼龍上的瑕疵，玻璃上的氣泡或電線上的絕緣層薄的點(diǎn)），以及可以用不合格的平均比率表示的地方（如每 100平方米尼龍上瑕疵）。樣本容量應(yīng)足夠大，使每個(gè)子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個(gè)不合格品，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量。（與 p圖的不同點(diǎn)）當(dāng)滿足下列情況時(shí)可選用 np圖： ? 不合格品的實(shí)際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報(bào)告； ? 各階段子組的樣本容量相同 ? np圖詳細(xì)說明與 p圖很相似，不同之處如下： 77 A收集數(shù)據(jù) ? 受檢驗(yàn)樣本的容量必須相等。 76 不合格品數(shù)的 np圖 ? np圖用來度量一個(gè)檢驗(yàn)中的不合格品的數(shù)量。可作為現(xiàn)行控制的基礎(chǔ)。 ? 在過程改變時(shí)期出現(xiàn)的特殊原因變差被識(shí)別并糾正后，過程將按一個(gè)新的過程均值處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)。 ? 對(duì)過程進(jìn)行改變時(shí)，應(yīng)小心地監(jiān)視控制。 75 D4繪制并分析修改后的過程控制圖 ? 當(dāng)對(duì)過程采取了系統(tǒng)的措施后，其效果應(yīng)在控制圖上明顯地反應(yīng)出來。 ?可以使用諸如排列如分析法及因果分析圖等解決問題技術(shù)。必須對(duì)系統(tǒng)本身直接采取管理措施，否則過程能力不可能得到改進(jìn)。這些連續(xù)的受控時(shí)期子組的 p值是該過程當(dāng)前能力更好的估計(jì)值 73 D2評(píng)價(jià)過程能力 過程穩(wěn)定，不良率水平 維持在一定的水平當(dāng)中 降低不良率 采取管理上的措施 降低偶因，如此才能 縮小控制線，降低不良率 縮小控制限 74 D3改善過程能力 ?過程一旦表現(xiàn)出處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，該過程所保持的不合格平均水平即反映了該系統(tǒng)的變差原因 —— 過程能力。它們便變成了操作控制限，當(dāng)將來的數(shù)據(jù)收集記錄了后，就對(duì)照它來評(píng)價(jià)。 控制圖的及時(shí)性 process 過程 TIME 時(shí)間 REAL TIME FIND THE CAUSE 適時(shí)發(fā)現(xiàn)原因 68 C3重新計(jì)算控制限 ? 當(dāng)進(jìn)行初始過程研究或?qū)^程能力 重新評(píng)價(jià)時(shí)，應(yīng)重新計(jì)算試驗(yàn)控制限 ，以便排除某些控制時(shí)期的影響，這些時(shí)期中控制狀態(tài)受到特殊原因的影響，但已被糾正。 ? 盡量讓樣本數(shù)一致，如果樣本數(shù)一直在變化則會(huì)如下圖： 100 200 300 100 200 100 100 200 300 100 1 2 1 2 1 2 1 2 3 2 65 建立 P圖的步驟 C Ｃ過程控制用控制圖解釋 C1分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定數(shù)據(jù) C2尋找并糾正特殊原因 C3重新計(jì)算控制界限 超出控制限的點(diǎn) 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 66 C1分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定的證據(jù) ? 超出任一控制限的點(diǎn) ? 鏈 ? 明顯的非隨機(jī)圖形 根據(jù)以上三種方式作判定 67 C2尋找并糾正特殊原因 ? 由于特殊原因是通過控制圖發(fā)現(xiàn)的，要求對(duì)操作進(jìn)行分析，并且希望操作者或現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。 62 建立 P控制圖的步驟 B Ｂ計(jì)算控制限 B1計(jì)算過程平均不合格品率 B2計(jì)算上、下控制限 B3劃線并標(biāo)注 63 計(jì)算平均不合格品率及控制線 npppL C LnpppU C LndpCLnnndddnnnpnpnpnppppkkkkk)1(3)1(3.......... ........2121212211?+???++++++?++++++???中心線64 1 098765432100 . 0 40 . 0 30 . 0 20 . 0 10 . 0 0S a m p l e N u m b e rProportionP C h a r t f o r C 2P = 0 . 0 1 0 0 03 . 0 S L = 0 . 0 3 9 8 5 3 . 0 S L = 0 . 0 0 0劃線并標(biāo)注 ? 均值用水平實(shí)線 ，一般為黑色或藍(lán)色是線。 ? 點(diǎn)描完后，粗覽一遍看它們是否合理。縱坐標(biāo)刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大不合格率值的 ～ 2倍。 ? 子組數(shù)量：要大于 25組以上，才能判定其穩(wěn)定性。 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 注： n為樣本容量 2?dR??54 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 ? 不合格品率的 p圖 ? 不合格品數(shù)的 np 圖 ? 不合格數(shù)的 c圖 ? 單位產(chǎn)品不合格數(shù)的 u圖 55 不良和缺陷說明 結(jié)果舉例 控制圖 車輛不泄漏／泄漏 P圖 NP圖 燈亮／不亮 孔的直徑尺寸太大或太小 給銷售商發(fā)的活正確／不正確 風(fēng)窗玻璃上的氣泡 C圖 U圖 門上油漆缺陷 發(fā)票上的錯(cuò)誤 56 P控制圖制作流程 B收集數(shù)據(jù) C計(jì)算控制限 D過程控制解釋 E過程能力解釋 A確定項(xiàng)目 57 建立 P圖的步驟 A Ａ階段收集數(shù)據(jù) A2選擇子組的容量、頻率及數(shù)量 子組容量 分組頻率 子組數(shù)量 A3計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率 A4選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 A5將不合格頻率描繪在控制圖中 A1確定項(xiàng)目 、 明確分析的目的 58 A1子組的容量、頻率及數(shù)量 ? 字組容量：用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖，一般要求較大的子組容量（例如 50～ 200）以便檢驗(yàn)出性能的變化。但是這要注意，如果過程分布不是對(duì)稱的，用前面所述的用于 X圖的規(guī)則來解釋時(shí)，可能會(huì)給出實(shí)際上不存在的特殊原因信號(hào)。由于這個(gè)原因，在解釋趨勢(shì)時(shí)要特別注意。 51 單值和移動(dòng)極差圖（ X－ MR） ? B計(jì)算控制限 mRmRmRmXmXxRDL C LRDU C LRCLREXL C LREXU C LXCLX3422~????+??全距管制圖值管制圖值控制圖 極差控制圖 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 * * * * * E2 注： n為樣本容量，樣本容量小于 7時(shí)，沒有極差的控制下限 52 單值和移動(dòng)極差圖（ X－ MR） ? C過程控制解釋 ? 檢查移動(dòng)極差途中超出控制限的點(diǎn)，這是存在特殊原因的信號(hào)。通常最好是記錄每對(duì) 連續(xù)讀數(shù) 間的差值。 ? 單值控制圖不能區(qū)分過程零件間重復(fù)性，做好能使用 X－ R圖 ? 由于每一子組僅有一個(gè)單值，所以平均值和標(biāo)準(zhǔn)差會(huì)有較慢的變性，直到子組數(shù)達(dá)到 100以上。 RDL C LRDU C LRCLRAmXL C LRAmXU C LXCLXRRRXXX342323~~~~????+??全距管制圖值管制圖X值控制限 極差控制限 ～ ?計(jì)算控制限 48 中位數(shù)圖 ? 過程控制 （與同 XbarRR圖相同） ? 過程能力計(jì)算（與 XbarR圖基本相同，不同之處如下：） ? 估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 注：