【正文】 單值間的移動(dòng)極差（ MR）。 ? 過程性能指數(shù)表述，存在普通原因變差和特殊原因變差。 ? 當(dāng)出現(xiàn) 7點(diǎn)鏈時(shí) ,判定為有異常 ,應(yīng)采取措施。LCLR=NONE 步驟 B3 32 XbarR圖 Ｃ過程控制解釋 C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) C2識(shí)別并標(biāo)注特殊原因 (極差圖 ) C3重新計(jì)算控制限 (極差圖 ) C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 超出控制限的點(diǎn) 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 超出控制限的點(diǎn) 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 C5識(shí)別并標(biāo)注特殊原因 (均值圖 ) C6重新計(jì)算控制限 (均值圖 ) C7為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限 33 控制圖的判斷 ? 超出控制限的點(diǎn)：出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何一個(gè)控制限使該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要證據(jù) UCL CL LCL 異常 異常 異常 34 控制圖的判斷 ? 鏈 ： 有下列現(xiàn)象之一表明過程已改變 ? 連續(xù)點(diǎn)位于平均值的一側(cè)； ? 連續(xù)點(diǎn)上升（后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn)）或下降。 Xbar圖：坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值之差應(yīng)至少為子組均值（ Xbar）的最大值與最小值差的 2倍。 數(shù)據(jù)欄應(yīng)包括每個(gè)讀數(shù)的空間。圖中 UCL= ? +3?為上控制限， CL= ?為中心線， LCL= ? 3?為下控制限。 英、美等國開始著手研究用統(tǒng)計(jì)方法代替事后檢驗(yàn)的質(zhì)量控制方法。 滿足要求 受控 不受控 可接受 1類 3類 不可接受 2類 4類 10 如果僅存在變差的普通原因，隨著時(shí)間的推移，過程的輸出形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測。 ? 變差的普通原因： 指的是造成隨著時(shí)間的推移具有 穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布作用在過程 的許多變差的原因 ， 即常規(guī)的 、 連續(xù)的 、 不可避免的影響產(chǎn)品特性不一致的原因 。 6 普通原因和特殊原因變差的分析 ? 當(dāng)過程僅存在變差的普通原因時(shí) ， 過程處于受控狀態(tài) ， 這個(gè)過程處于穩(wěn)定過程 ， 產(chǎn)品特性服從正態(tài)分布 。 ? 為討論過程的性能提供共同的語言 ,為過程分析提供依據(jù) 。 ? 休哈特正是據(jù)此發(fā)明了控制圖。X=讀數(shù)數(shù)量和R = 最高 最低R = 均值R = U C L = D4R = L C L = D3R = *X = 均值X = U C L = X + A2R = L C L = X A2R=極差（R 圖）均值（X 圖）工廠： X X X機(jī)器編號(hào)： X X X部門： X X X日期： X X X工序： 彎曲夾片特性： 間隙、尺寸“A ”計(jì)算控制限日期 工程規(guī)范： . 5 0 —. 9 0 m m樣本容量/ 頻率: 5 / 2 h零件號(hào)： X X X零件名稱： X X X* 樣本容量小于7 時(shí)，沒有極差的下控制限X R 控 制 圖開始 A 1 步驟24 A2建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) XbarR 圖通常是將 Xbar圖畫在 R圖之上方，下面再接一個(gè)數(shù)據(jù)欄。 最小值最大值 XXRnXXXX n?+++? ?2126 12345和數(shù)讀日期時(shí)間在確定過程能力之前，過程必須受控。 X= 讀數(shù)數(shù)量 和 R=最高 最低 R=均值 R= UCL=D 4 R= LCL=D 3 R= * X=均值 X= .716 UCL=X+A 2 R=.819 LCL=XA 2 R= 極差（ R圖） 均值（ X圖） 工廠： XXX 機(jī)器編號(hào)： XXX 部門： XXX 日期： 6/86/16 工序： 彎曲夾片 特性： 間隙、尺寸 “ A” 計(jì)算控制限日期 工程規(guī)范： .50—.90mm 樣本容量 /頻率 : 5/2h 零件號(hào)： XXX 零件名稱： XXX *樣本容量小于 7時(shí)，沒有極差的下控制限 XR 控 制 圖 初始研究 68 8 .65 .70 .65 .65 .85 .70 .20 .75 .75 .85 .75 .85 .65 .77 .20 .80 .80 .70 .75 .60 .70 .70 .75 .65 .76 .68 .10 .15 .00 .10 .20 .30 .40 .50 .50 .55 .60 .65 .70 .75 .80 .85 .90 .95 10 12 14 69 8 10 12 14 610 8 .70 .75 .65 .85 .80 .75 .20 .60 .75 .75 .85 .70 .73 .25 .75 .80 .65 .75 .70 .73 .15 .60 .70 .80 .75 .75 .72 .20 .65 .80 .85 .85 .75 .78 .20 10 12 14 .60 .70 .60 .80 .65 .67 .20 .80 .75 .90 .50 .80 .75 .40 611 8 .85 .75 .85 .65 .70 .76 .20 .70 .70 .75 .75 .70 .72 .05 10 .65 .70 .85 .75 .60 .71 .25 12 14 .90 .80 .80 .75 .85 .82 .15 .75 .80 .75 .80 .65 .75 .15 612 8 .75 .70 .85 .70 .80 .76 .15 10 12 .75 .70 .60 .70 .60 .67 .15 14 .65 .65 .85 .65 .70 .70 .20 .60 .60 .65 .60 .65 .62 .05 615 8 .50 .55 .65 .80 .80 .66 .30 10 .60 .80 .65 .65 .75 .69 .20 .15 12 .80 .65 .75 .65 .65 .70 14 .65 .60 .65 .60 .70 .64 .10 616 8 .65 .70 .70 .60 .65 .66 1 2 3 4 5 和 數(shù) 讀 日期 時(shí)間 在確定過程能力之前， 過程必須受控。 ? 進(jìn)行控制所遵循的依據(jù)： ? 連續(xù) 25點(diǎn)以上處于控制界限內(nèi)； ? 連續(xù) 35點(diǎn)中，僅有 1點(diǎn)超出控制界限； ? 連續(xù) 100點(diǎn)中，不多于 2點(diǎn)超出控制界限。 ? 過程能力指數(shù)表述僅存在普通原因變差時(shí)的過程能力 。 RDL C LRDU C LRCLRAmXL C LRAmXU C LXCLXRRRXXX342323~~~~????+??全距管制圖值管制圖X值控制限 極差控制限 ～ ?計(jì)算控制限 48 中位數(shù)圖 ? 過程控制 （與同 XbarRR圖相同） ? 過程能力計(jì)算（與 XbarR圖基本相同，不同之處如下：） ? 估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 注： n為樣本容量 2?dR??49 單值和移動(dòng)極差圖（ X－ MR） 注意： ? 單值控制在檢查過程變化時(shí)不如 X－ R圖敏感。由于這個(gè)原因，在解釋趨勢時(shí)要特別注意?？v坐標(biāo)刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大不合格率值的 ～ 2倍。 控制圖的及時(shí)性 process 過程 TIME 時(shí)間 REAL TIME FIND THE CAUSE 適時(shí)發(fā)現(xiàn)原因 68 C3重新計(jì)算控制限 ? 當(dāng)進(jìn)行初始過程研究或?qū)^程能力 重新評(píng)價(jià)時(shí)，應(yīng)重新計(jì)算試驗(yàn)控制限 ，以便排除某些控制時(shí)期的影響，這些時(shí)期中控制狀態(tài)受到特殊原因的影響，但已被糾正。 ?可以使用諸如排列如分析法及因果分析圖等解決問題技術(shù)。可作為現(xiàn)行控制的基礎(chǔ)。 ? D過程能力的解釋 ： 如下 p :c h a r t np of c a pa bi l i t y t h e80 不合格品數(shù) np圖 1 09876543210543210S a m p l e N u m b e rSample CountN P C h a r t f o r C 2N P = 1 . 2 0 03 . 0 S L = 4 . 4 6 7 3 . 0 S L = 0 . 0 0 0100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 1 2 1 0 1 2 1 2 0 2 81 不合格數(shù)的 c圖 ? “C”圖內(nèi)來測量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的缺陷的數(shù)量， C圖要求樣本的容量或受檢材料的數(shù)量恒定，它主要用以下兩類檢驗(yàn)：