【正文】 大不合格率值的 ～ 2倍。 劃圖區(qū)域 61 A4將不合格品率描繪在控制圖上 ? 描繪每個字組的 P值，將這些點連成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。 ? 點描完后，粗覽一遍看它們是否合理。 ? 記錄過程的變化或者可能影響過程的異常情況。 62 建立 P控制圖的步驟 B Ｂ計算控制限 B1計算過程平均不合格品率 B2計算上、下控制限 B3劃線并標注 63 計算平均不合格品率及控制線 npppL C LnpppU C LndpCLnnndddnnnpnpnpnppppkkkkk)1(3)1(3.......... ........2121212211?+???++++++?++++++???中心線64 1 098765432100 . 0 40 . 0 30 . 0 20 . 0 10 . 0 0S a m p l e N u m b e rProportionP C h a r t f o r C 2P = 0 . 0 1 0 0 03 . 0 S L = 0 . 0 3 9 8 5 3 . 0 S L = 0 . 0 0 0劃線并標注 ? 均值用水平實線 ，一般為黑色或藍色是線。 控制線用水平虛線 ，一般為紅色虛線。 ? 盡量讓樣本數(shù)一致，如果樣本數(shù)一直在變化則會如下圖： 100 200 300 100 200 100 100 200 300 100 1 2 1 2 1 2 1 2 3 2 65 建立 P圖的步驟 C Ｃ過程控制用控制圖解釋 C1分析數(shù)據(jù)點，找出不穩(wěn)定數(shù)據(jù) C2尋找并糾正特殊原因 C3重新計算控制界限 超出控制限的點 鏈 明顯的非隨機圖形 66 C1分析數(shù)據(jù)點，找出不穩(wěn)定的證據(jù) ? 超出任一控制限的點 ? 鏈 ? 明顯的非隨機圖形 根據(jù)以上三種方式作判定 67 C2尋找并糾正特殊原因 ? 由于特殊原因是通過控制圖發(fā)現(xiàn)的，要求對操作進行分析，并且希望操作者或現(xiàn)場檢驗員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正?？衫弥T如排列圖分析和因果分析等解決問題技術。 控制圖的及時性 process 過程 TIME 時間 REAL TIME FIND THE CAUSE 適時發(fā)現(xiàn)原因 68 C3重新計算控制限 ? 當進行初始過程研究或?qū)^程能力 重新評價時，應重新計算試驗控制限 ，以便排除某些控制時期的影響，這些時期中控制狀態(tài)受到特殊原因的影響，但已被糾正。 ? 一旦歷史數(shù)據(jù)表明 一致性均在實驗的控制限內(nèi)，則可將控制線延伸到將來的時期 。它們便變成了操作控制限，當將來的數(shù)據(jù)收集記錄了后，就對照它來評價。 69 控制限運用說明 收集數(shù)據(jù) 繪圖及計算 控制限 是否異常 延伸控制限 N 找出異常點原因并 提出相應措施 制成有變化 人機料法環(huán)測量 Y 70 建立 P圖的控制步驟 D Ｄ過程能力解釋 D1計算過程能力 D2評價過程能力 D3改進過程能力 D4繪制并分析修改后的過程控制圖 71 過程能力解釋 偶因和異因并存 找出異因 只剩偶因 運用控制圖 過程穩(wěn)定 （連續(xù) 25點不超限） 計算過程能力 72 D1計算過程能力 ? 對于 P圖，過程能力是通過 p來表示，如需要，還可以用符合規(guī)范的比率（ 1－ p）來表示； ? 對過程能力的初步估計值應使用歷史數(shù)據(jù)，但應剔除與特殊原因有關的數(shù)據(jù)點； ? 當正式研究過程能力時，應使用新的數(shù)據(jù)，最好是 25個或更多時期子組，且所有的點都受同級控制。這些連續(xù)的受控時期子組的 p值是該過程當前能力更好的估計值 73 D2評價過程能力 過程穩(wěn)定，不良率水平 維持在一定的水平當中 降低不良率 采取管理上的措施 降低偶因，如此才能 縮小控制線，降低不良率 縮小控制限 74 D3改善過程能力 ?過程一旦表現(xiàn)出處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，該過程所保持的不合格平均水平即反映了該系統(tǒng)的變差原因 —— 過程能力。在操作上診斷特殊原因（控制）變差問題的分析方法不適用于診斷影響系統(tǒng)的普通原因變差。必須對系統(tǒng)本身直接采取管理措施，否則過程能力不可能得到改進。有必要使用長期的解決問題的方法來糾正造成長期不合格原因。 ?可以使用諸如排列如分析法及因果分析圖等解決問題技術。但是如果僅使用計數(shù)型數(shù)據(jù)將很難理解問題所在，通常盡可能地追溯變差的可疑原因，并借助計量型數(shù)據(jù)進行分析將有利于問題的解決。 75 D4繪制并分析修改后的過程控制圖 ? 當對過程采取了系統(tǒng)的措施后，其效果應在控制圖上明顯地反應出來。控制圖成為驗證措施有效性的一種途徑。 ? 對過程進行改變時，應小心地監(jiān)視控制。這個變化時期對系統(tǒng)操作會是破壞性的，可能造成新的控制問題，掩蓋系統(tǒng)變化后的真實效果。 ? 在過程改變時期出現(xiàn)的特殊原因變差被識別并糾正后，過程將按一個新的過程均值處于統(tǒng)計控制狀態(tài)。這個新的均值反映了受控制狀態(tài)下的性能?？勺鳛楝F(xiàn)行控制的基礎。但是還應繼續(xù)對系統(tǒng)進行調(diào)查和改進。 76 不合格品數(shù)的 np圖 ? np圖用來度量一個檢驗中的不合格品的數(shù)量。 p 圖表示不合格品的樣本比率。（與 p圖的不同點）當滿足下列情況時可選用 np圖： ? 不合格品的實際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報告； ? 各階段子組的樣本容量相同 ? np圖詳細說明與 p圖很相似，不同之處如下： 77 A收集數(shù)據(jù) ? 受檢驗樣本的容量必須相等。分組的周期應按照生產(chǎn)間隔和反饋系統(tǒng)而定。樣本容量應足夠大，使每個子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個不合格品，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量。 ? 記錄并描繪每個字組內(nèi)的不合格品數(shù)（ np） 78 B計算控制限 )1()1(3)1(3... ..21ppnppnpnLC LppnpnU C LkddpnCLknpnpnppnnpnpnpnpk??+????+++???79 過程控制解釋、過程能力解釋 ? C過程控制解釋 ： 同 p圖的解釋； 。 ? D過程能力的解釋 ： 如下 p :c h a r t np of c a pa bi l i t y t h e80 不合格品數(shù) np圖 1 09876543210543210S a m p l e N u m b e rSample CountN P C h a r t f o r C 2N P = 1 . 2 0 03 . 0 S L = 4 . 4 6 7 3 . 0 S L = 0 . 0 0 0100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 1 2 1 0 1 2 1 2 0 2 81 不合格數(shù)的 c圖 ? “C”圖內(nèi)來測量一個檢驗批內(nèi)的缺陷的數(shù)量， C圖要求樣本的容量或受檢材料的數(shù)量恒定，它主要用以下兩類檢驗： ? 不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上（例如每匹尼龍上的瑕疵，玻璃上的氣泡或電線上的絕緣層薄的點），以及可以用不合格的平均比率表示的地方（如每 100平方米尼龍上瑕疵）。 ? 在單個的產(chǎn)品檢驗中可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛在原因造成的不合格（例如：在一個修理部記錄，每輛車或元件可能存在一個或多個不同的不合格）。 ? 主要不同之處如下： 82 A數(shù)據(jù)收集 ? 檢驗樣本的容量要求相等，這樣描繪的 c值將反映質(zhì)量性能的變化（缺陷的發(fā)生率）而不是外觀的變化（樣本容量 n），在數(shù)據(jù)表中記錄樣本容量； ? 記錄并描繪每個字組內(nèi)的缺陷數(shù)（ c） 83 B計算控制限 CCCL C LCCU C LkCCCLkcccccccck??+???+++???33. . .. .2184 過程控制解釋、過程能力解釋 ? 過程控制解釋：同 p圖解釋 ? 過程能力解釋 ? 過程能力為 c平均，即固定樣本容量 n的樣本缺陷數(shù)平均值。 85 單位產(chǎn)品不合格數(shù)的 u圖 “ u”圖用來測量具有容量不同的樣本（受檢材料的量不同）的子組內(nèi)每檢驗單位產(chǎn)品之內(nèi)的缺陷數(shù)量。除了缺陷量是按每單位產(chǎn)品為基本量表示以外，它是與 c圖相似的。 U圖和 c圖適用于相同的數(shù)據(jù)狀況，但如果樣本含有多余一個 “ 單位產(chǎn)品 ” 的量，為使報告值更有意義時，可以使用 “ u”圖，并且在不同時期內(nèi)樣本容量不同時必須使用 “ u”圖。 “ u”圖的繪制和 “ p”圖相似，不同之處如下： 86 A收集數(shù)據(jù) ? 各子組樣本的容量彼此不必都相同，盡管使它的容量在其平均值的正負 25%以內(nèi)可以簡化控制限的計算。 ? 記錄并描繪每個子組內(nèi)的單位產(chǎn)品缺陷數(shù) u=c/n ? 試中 C為發(fā)現(xiàn)的不合格數(shù)量， n為子組中樣本容量 (檢驗報告單位的數(shù)量 )， c和 n都應記錄在數(shù)據(jù)表中。 87 B計算控制限 nunuuL C LnuuU C LnCuCLnnncccuuuuukk?+?+???++++++????33. . .. . . ... . .. . . ..212188 過程解釋、過程能力解釋 ? 過程控制解釋 ? 同 p圖解釋 ? 過程能力解釋 ? 過程能力為 u平均，即每報告單元缺陷數(shù)平均值。