材料研究方法及電子掃描顯微鏡(參考版)
2025-01-03 23:59本頁面
【正文】 新鮮金屬斷口可直接放入電鏡進(jìn)行觀察，既簡單又不致在制備過程中引入假象；掃描電鏡允許在很寬的倍率范圍內(nèi)連續(xù)觀察，可以對斷口進(jìn)行低倍大視域觀察，并在此基礎(chǔ)上確定感興趣的區(qū)域進(jìn)行高倍觀察分析，現(xiàn)實(shí)斷口姓毛的細(xì)節(jié)特稱，揭示斷裂機(jī)理。 ，它是利用對樣品微區(qū)原子序數(shù)或者化學(xué)成分變化敏感的物理信號作為調(diào)制信號的道德一種顯示微區(qū)化學(xué)成分差別的像襯度。 ：利用與樣品形貌比較敏感的物理信號作為顯像管的調(diào)制信號，所得到的的像襯度稱為表面形貌襯度。 材料研究方法 掃描電鏡的像襯度 掃描電鏡像襯度的形成主要基于樣品微區(qū)諸如表面形貌、原子序數(shù)、晶體結(jié)構(gòu)、表面電廠和磁場等方面存在著差異。否則，在電子束照射到試樣上時，會形成電子堆積，阻擋入射電子束進(jìn)入和樣品內(nèi)電子射出樣品表面。樣品的直徑和厚度一般從幾毫米到幾厘米，視樣品的性質(zhì)和電鏡樣品室空間而定。 這對斷口的失效分析特別重要 ?？梢钥闯?， 長工作距離 、 小物鏡光闌 、 低放大倍率能得到大景深圖像 。 材料研究方法 景深大 景深大的圖像立體感強(qiáng) ， 對粗糙不平的斷口樣品觀察需要大景深的SEM。 目前用 W燈絲的 SEM， 分辨率已達(dá)到 3nm6nm, 場發(fā)射源 SEM分辨率可達(dá)到 1nm 。 要提高分辨率可以通過減小照明波長來實(shí)現(xiàn) 。 對光學(xué)顯微鏡 ?＝ 70?－ 75?， n=。 材料研究方法 分辨率高 分辨率指能分辨的兩點(diǎn)之間的最小距離 。如果選擇高于40000倍的放大倍率，不會增加圖像細(xì)節(jié)，只是虛放，一般無實(shí)際意義。放大倍率不是越大越好，要根據(jù)有效放大倍率和分析樣品的需要進(jìn)行選擇。掃描電鏡不僅能做表面形貌分析，而且能配置各種附件，做表面成分分析及表層晶體學(xué)位向分析等。 所以 ， SEM也是顯微結(jié)構(gòu)分析的主要儀器 ， 已廣泛用于材料 、冶金 、 礦物 、 生物學(xué)等領(lǐng)域 。 它是用細(xì)聚焦的電子束轟擊樣品表面 ，通過電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子 、 背散射電子等對樣品表面或斷口形貌進(jìn)行觀察和分析 。 材料研究方法 各種物理信號的產(chǎn)生深度和廣度范圍 材料研究方法 掃描電子顯微鏡 材料研究方法 掃描電子顯微鏡的簡稱為掃描電鏡 ， 英文縮寫為 SEM (Scanning Electron Microscope)。如果波長在可見光范圍，就會發(fā)出可見熒光，如果波長比可見光的長，就可能發(fā)出紅外熒光。 導(dǎo)帶上的電子
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