材料研究方法及電子掃描顯微鏡(編輯修改稿)
2025-01-19 23:59 本頁面
【文章內容簡介】 產生的次級 X射線稱為熒光 X射線。 其產生機理與X射線管產生 X射線的機理是一樣的，不同的是熒光 X射線以X射線作激發(fā)源。 高能電子束轟擊試樣，會產生特征 X射線和連續(xù) X射線，特征 X射線會激發(fā)另一些元素的內層電子而產生次級特征 X射線。這種由特征 X射線激發(fā)出來的二級特征 X射線，叫做特征 X熒光 。從樣品中發(fā)射出來的連續(xù) X射線，也會激發(fā)出一些二級 X射線。這種由連續(xù) X射線激發(fā)出來的二級連續(xù) X射線叫做 連續(xù) X熒光 。 電子探針定量分析時，必須考慮 X射線熒光效應的影響，進行 X熒光校正。 X射線 材料研究方法 陰極熒光實際上是 由陰極射線 （電子束） 激發(fā)出來的一種波長較長的電磁波 ，一般是指可見光，有些書上把紅外光和紫外光也包括在內。 產生陰極熒光的物質主要是那些含有雜質元素或晶格缺陷 (如間隙原子、晶格空位等 )的絕緣體或半導體。 材料研究方法 如右圖所示 ， 入射電子束作用在試樣上 ， 使得價帶 (滿帶 )上的電子激發(fā) ， 從價帶赿過禁帶進入導帶 。 導帶上的電子躍回價帶時 ， 可以是直接躍回價帶 ， 多余的能量以電磁幅射的形式一次釋放出來 ， 其波長由導帶與價帶的能級差(△E=EdEj)決定 。 如果其波長在可見光的范圍 ，就會發(fā)出可見熒光 。 如果其波長比可見光短 ，比 X光長 ， 那樣就會發(fā)出紫外熒光 。 導帶上的電子躍回價帶時，也可能先躍到雜質能級 (或者說被雜質能級捕獲 )然后再從雜質能級躍回價帶。這種情況下，其多余的能量將分兩次釋放出來，如果都是以電磁波的形式釋放，那么其波長將由導帶能級、價帶能級和雜質能級來決定。如果波長在可見光范圍，就會發(fā)出可見熒光，如果波長比可見光的長，就可能發(fā)出紅外熒光。 陰極發(fā)光可用來 研究礦物的發(fā)光性、所含雜質類型和晶格缺陷 等。 材料研究方法 各種物理信號的產生深度和廣度范圍 材料研究方法 掃描電子顯微鏡 材料研究方法 掃描電子顯微鏡的簡稱為掃描電鏡 ， 英文縮寫為 SEM (Scanning Electron Microscope)。 SEM與電子探針 （ EPMA） 的功能和結構基本相同 ， 但SEM一般不帶波譜儀 （ WDS） 。 它是用細聚焦的電子束轟擊樣品表面 ，通過電子與樣品相互作用產生的
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