【總結(jié)】電子顯微鏡知識講座顯微鏡的歷史大約在400年前(1590年),由荷蘭科學(xué)家楊森和后來的博物學(xué)家列文虎克發(fā)明和完善的顯微鏡,向人們揭示了一個陌生的微觀世界,他們是開辟人類顯微分析的始祖。早期的顯微鏡因為早期的顯微鏡以玻璃鏡片做透鏡,使用可見光為光源,所以人們把它稱為光學(xué)顯微鏡。現(xiàn)在,最好的光學(xué)顯微鏡可以達到1500倍的放
2025-02-21 09:59
【總結(jié)】實用電子顯微鏡技術(shù)測試中心陳義芳2021年緒論電子顯微鏡技術(shù)發(fā)展簡史第一節(jié)電子顯微鏡發(fā)展簡史第二節(jié)電子顯微鏡技術(shù)的發(fā)展與應(yīng)用第三節(jié)其他顯微技術(shù)的發(fā)展第一節(jié)電子顯微鏡發(fā)展簡史電子顯微鏡通常分為透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡兩種類型。利用電子顯微鏡可對樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)及樣品表面形貌進
2025-05-13 21:48
【總結(jié)】電子顯微鏡光學(xué)顯微鏡分辨本領(lǐng)L:透鏡D:光闌α:透鏡對物點張角的一半。?愛瑞(Airy)斑:由于衍射效應(yīng),一個發(fā)光物點的像是一個一定尺寸的亮斑和周圍幾個亮環(huán)。一般將亮環(huán)忽略不計,中央亮斑為物點的像,稱為愛瑞斑。光學(xué)顯微鏡分辨本領(lǐng)?瑞利(Rayleigh)判據(jù):A1和A2逐漸接近時,A
2024-12-30 02:54
【總結(jié)】第三章掃描電子顯微鏡LightvsElectronMicroscope?掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡稱SEM)是繼透射電鏡之后發(fā)展起來的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學(xué)顯微鏡或透射電子顯微鏡不同,它是以類似電視攝影的方式,利用細聚焦電子束在樣品表面掃描時激發(fā)出來的各種物理
2025-01-15 04:37
【總結(jié)】第五章掃描電子顯微鏡和電子探針分析2?掃描電子顯微鏡(ScanningelectronmicroscopeSEM)是以類似電視攝影顯像的方式,通過細聚焦電子束在樣品表面掃描激發(fā)出的各種物理信號來調(diào)制成像的顯微分析技術(shù)。?SEM在60’s商品化,應(yīng)用范圍很廣;SEM成像原理與TEM完全不同,不用電磁透鏡放大成像;新式SEM的二次電子
2025-05-04 06:57
【總結(jié)】掃描電子顯微鏡基礎(chǔ)黃銳.ScanningElectronMicroscopeOutline?掃描電鏡?光學(xué)顯微鏡與掃描電鏡—OM&SEM?掃描電鏡的特點—FeaturesofSEM?掃描電鏡的原理—MechanismofSEM
2025-05-01 18:11
【總結(jié)】?掃描電鏡襯度的形成:主要利用樣品表面微區(qū)特征,如形貌、原子序數(shù)、化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)或位向等的差異,在電子束作用下產(chǎn)生不同強度的物理信號,使陰極射線管熒光屏上不同的區(qū)域呈現(xiàn)出不同的亮度,獲得具有一定襯度的圖象。第六節(jié)掃描電鏡襯度像?形貌襯度的形成:二次電子產(chǎn)額強烈依賴于入射束與試樣表面法線間的夾角?。如
2024-12-08 11:08
【總結(jié)】第八章透射電子顯微鏡透射電鏡的結(jié)構(gòu)原理射透電鏡的主要性能3/1/20231透射電鏡的結(jié)構(gòu)原理目前,風行于世界的大型電鏡,分辨本領(lǐng)為2~3埃,電壓為100~500kV,放大倍數(shù)50~1202300倍。由于材料研究強調(diào)綜合分析,電鏡逐漸增加了一些其它專門儀器附件,如掃描電鏡、掃描透射電鏡、X射線能譜儀、
2025-02-13 18:51
【總結(jié)】1上海水產(chǎn)大學(xué)生命學(xué)院周平凡光鏡與電鏡技術(shù)2第二部分:電子顯微鏡技術(shù)(電子顯微鏡和電子顯微術(shù)的總稱)3一、概述:第一章:電子顯微鏡的原理和結(jié)構(gòu)第一節(jié):幾個常用的基本概念第二節(jié):透射電子顯微鏡第三節(jié):掃描電子顯微鏡第四節(jié):其他類型的電子顯微鏡
2025-04-30 05:23
【總結(jié)】穿透式電子顯微鏡TEM班級:光電二乙組員:劉昌明499L0001施峻富499L0096余家興499L0107指導(dǎo)老師:葉義生日期:2022/12/01目錄?什麼是TEM?TEM歷史簡介?TEM工作原理?TEM結(jié)構(gòu)系統(tǒng)介紹?TEM分析優(yōu)點及缺點?總結(jié)
2025-07-20 07:00
【總結(jié)】透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscope簡稱TEM)吳志國蘭州大學(xué)等離子體與金屬材料研究所現(xiàn)代材料物理研究方法第十一講2透射電子顯微鏡在形貌分析上的應(yīng)用?基本知識?透射電鏡原理?透射電鏡的結(jié)構(gòu)?電子衍射原理?高分辨透射電鏡?樣品制備
2025-01-04 21:10
【總結(jié)】掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscopySEM)材化0801孟巖李民王洪志張俊掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscopySEM)1942年第一臺掃描電子
2025-05-01 18:02
【總結(jié)】1設(shè)備名稱:掃描電子顯微鏡系統(tǒng)2數(shù)量:壹套3報價幣種:人民幣;報價方式:到港價。4交貨日期:合同簽字生效后6個月內(nèi)。5設(shè)備用途及基本要求:該套設(shè)備用于對各種固態(tài)材料進行微觀形貌觀察,斷口分析,并對樣品表面微區(qū)進行成份測定。該套設(shè)備所含的必要輔助設(shè)備為X射線能譜儀、動態(tài)拉伸臺、超高樣品臺,它們之間應(yīng)實現(xiàn)最佳匹配,并滿足各自的技術(shù)指標和性能,
2025-06-20 02:32
【總結(jié)】一、簡介二、基本物理概念三、主要參數(shù)四、工作模式與襯度原理五、主要部件六、應(yīng)用舉例七、電子探針掃描電子顯微鏡與電子探針(ScanningElectronMicroscope簡稱SEMandElectronProbeMicro-analysis簡稱EPMA)一、簡介SEM是利用
2025-05-07 18:13