掃描電子顯微鏡與電子探針?lè)治鲑Y料(參考版)
2025-01-04 05:38本頁(yè)面
【正文】 53謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH。49雙相鋼 50復(fù)合材料 51ZnO納 米 線 的二次 電 子 圖 像 多孔氧化鋁模板制備的金納米線的形貌（ a）低倍像（ b）高倍像納米材料形貌分析52原子序數(shù)襯度及其應(yīng)用? 原子序數(shù)襯度 是對(duì)樣品微區(qū)原子序數(shù)或化學(xué)成分變化敏感的物理信號(hào)作為調(diào)制信號(hào)得到的一種顯示微區(qū)化學(xué)成分差別的像襯度。48C 斷裂過(guò)程的動(dòng)態(tài)研究 有的型號(hào)的掃描電鏡帶有較大拉力的拉伸臺(tái)裝置，這就為研究斷裂過(guò)程的動(dòng)態(tài)過(guò)程提供了很大的方便。 44（ 2）表面形貌襯度像的應(yīng)用A 斷口分析 材料斷口的微觀形貌往往與其化學(xué)成分、顯微組織、制造工藝及服役條件存在密切聯(lián)系，所以斷口形貌的確定對(duì)分析斷裂原因常常具有決定性作用。2）平面上的 SE產(chǎn)額較小，亮度較低。 41如圖所示，隨入射束與試樣表面法線夾角增大，二次電子產(chǎn)額增大。（ 5－10 nm范圍）? 成像原理為：二次電子產(chǎn)額對(duì)微區(qū)表面的幾何形狀十分敏感。3839 掃描電鏡的像襯度及其應(yīng)用掃描電鏡的像襯度主要是利用樣品表面微區(qū)特征 (如形貌、原子序數(shù)或化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)或位向等 )的差異，在電子束作用下產(chǎn)生不同強(qiáng)度的物理信號(hào)，導(dǎo)致陰極射線管熒光屏上不同的區(qū)域不同的亮度差異，從而獲得具有一定襯度的圖像。對(duì)于導(dǎo)電性較差或絕緣的樣品若采用常規(guī)掃描電鏡來(lái)觀察，則必須通過(guò)噴鍍金、銀等重金屬或碳真空蒸鍍等手段進(jìn)行導(dǎo)電性處理。 掃描電鏡的景深為 比一般光學(xué)顯微鏡景深大 100500倍，比透射電鏡的景深大 10 倍。 介于光學(xué)顯微鏡和透射電鏡之間。 日立 s570： 34(2)放大倍數(shù) 掃描電鏡的放大倍數(shù)可用表達(dá)式 M=AC/AS式中 AC是熒光屏上圖像的邊長(zhǎng)， AS是電子束在樣品上的掃描振幅。32SEM的分辨率高低與 檢測(cè) 信號(hào)種 類(lèi) 有關(guān)。? 入射電子束束斑
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