tescan3型掃描電子顯微鏡操作規(guī)程(參考版)
2025-07-10 12:06本頁(yè)面
【正文】 （26）二次聚焦可用于精確測(cè)量樣品高度。SEM的最大放大倍率為10萬(wàn)倍。5）%為合適范圍）。（22）能譜分析時(shí)，主體元素（占總含量的10%以上）的real time 為十幾秒，次要元素（%）為幾十秒，微量元素（%以下）為一百多秒。（20）auto gun heating 燈絲飽和電流調(diào)整；auto gun centering 電子槍的對(duì)準(zhǔn)；auto column centering 鏡筒的對(duì)準(zhǔn)。（18）線掃時(shí)，1μm 內(nèi)至少有一個(gè)點(diǎn)，點(diǎn)數(shù)越密，獲得的曲線越平滑。（16）要用導(dǎo)電膠把小樣品臺(tái)與固體樣品導(dǎo)通，導(dǎo)電膠要一次性使用。（14）進(jìn)樣后，使樣品位于掃描窗口正中間，放大合適倍數(shù)，右擊窗口，自動(dòng)調(diào)焦（倍數(shù)越大越接近實(shí)際的工作距離）。（12）在焦距調(diào)好的情況下，可用工作距離判斷樣品表面與物鏡極靴的距離。（10）硬件方面：關(guān)機(jī)前確認(rèn)BSE探頭是否搖出，樣品臺(tái)降到最低。用洗耳球輕輕吹去粘結(jié)不牢固的顆粒，樣品量必須少。（8）粗粉體可以直接撒在試樣座的雙面碳導(dǎo)電膠上，用干凈表面平的物體，例如玻璃板壓緊，然后用洗耳球輕輕吹去粘結(jié)不牢固的顆粒。（6）
環(huán)評(píng)公示相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1