穿透式電子顯微鏡tem(參考版)
2025-07-23 07:00本頁(yè)面
【正文】 gs_sm=camp。aqi=g9gs1amp。oq=TEM+amp。gbv=2amp。biw=1366amp。chap=7amp。TABFLAG=1amp。這些高解析度的成份分析技術(shù)，將為探討 晶界偏析 、 次微米層狀結(jié)構(gòu) 的成份分佈等問題，提供更上一層的分析領(lǐng)域。 TEM分析也有其限制，缺點(diǎn)包括： 總結(jié) ? 穿透式顯微鏡在未來已將材料結(jié)構(gòu)的分析推到接近 原子級(jí)的分辨率 。之間。 ? (f)配備冷卻 /加熱 /可變電性的試片基座，即可在顯微鏡內(nèi)同步觀察材料結(jié)構(gòu)的變化 TEM分析具有以下的優(yōu)點(diǎn) (3/3) ? (a)試片的大小必須在 3mm以下。 ? (d)藉著電子繞射圖樣分析，在試片觀察時(shí)擁有方向感可以確認(rèn)： (1)晶體結(jié)構(gòu) (FCC, BCC, HCP, …) 。 (2)製程的損傷。 (4)同質(zhì)同型結(jié)構(gòu)。 (2)同質(zhì)異型結(jié)構(gòu) (Ex:石墨與鑽石 )。成像過程與一般攝影過程相似。當(dāng)電子穿透樣本後，其中一組透鏡會(huì)把 電子重新聚焦 ? 另外一組透鏡則用於 放大影像 ，及把影像投影至屏幕。 樣本架 (4/5) ? 樣本架是一個(gè)裝有機(jī)械臂的平臺(tái)，用以 乘載樣本 和 控制它的位置 。
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