顯微分析技術(shù)電子顯微鏡(參考版)
2025-05-15 18:43本頁面
【正文】 各種電鏡的比較 分辨 工作環(huán)境 對試樣影響 檢測深度 評價 TEM SEM STM AFM d⊥d∥ 無 d⊥d∥ d⊥d∥ 低 6～ 10nm 高真空 高真空 大氣 ,液體 ,真空 中等 小 無損 小于 1μm 1～ 2原子層 歷史最久 應(yīng)用最廣 可觀察原子整體形貌 STM的改進與發(fā)展 。 分辨率優(yōu)于 25nm，主要用于觀察磁場邊界、磁場強度等，如可用于觀察磁盤存貯的數(shù)據(jù)等 是由 STM派生出來，用于研究薄居下界面性質(zhì)并具有納米空間分辨率的一種顯微鏡。 ◆ ◆ 掃描隧道和原子力電子顯微鏡 一般掃描電子顯微鏡放大倍數(shù)為幾十萬倍．透射電子顯微鏡的放大倍數(shù)可達百萬倍以上 掃描隧道電子顯微鏡的放大倍數(shù)通?？蛇_幾千萬倍 ?? 用 STM測量高定向熱解石墨 應(yīng)用舉例 其它顯微鏡 LFM 激光力顯微鏡 MFM 磁力顯微鏡 BEEM 彈道電子發(fā) 射顯微鏡 可用于觀察樣品表面的起伏狀態(tài)。它是利用移動探針與原子間產(chǎn)生的相互作用力，將其在三維空間的分布狀態(tài)轉(zhuǎn)換成圖像信息，從而得到物質(zhì)表面原子及它們的排列狀態(tài) 。 通過移動著的探針與物質(zhì)表面的相互作用，表面與針尖間的隧穿電流反饋出表面某個原子間電子的躍遷，由此可以確定出物質(zhì)表面的單一原子及它們的排列狀態(tài)。 將物質(zhì)表面原子的排列狀態(tài)轉(zhuǎn)換為
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