【摘要】電子探針顯微分析第十二章§12-1電子探針儀的結(jié)果與原理?電子探針的主要功能是進(jìn)行微區(qū)成分分析。?使用細(xì)聚焦電子束入射樣品表面,激發(fā)出樣品元素的特征X射線,分析X射線的波長(zhǎng),即可知道樣品中所含元素的種類(lèi)。?分析特征X射線的強(qiáng)度,可知樣品中對(duì)應(yīng)元素的相對(duì)含量。?電子探針儀信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)是X射線
2025-05-04 13:17
【摘要】1第十章掃描電子顯微分析與電子探針p第一節(jié)掃描電子顯微鏡工作原理及構(gòu)造一、工作原理二、構(gòu)造與主要性能p第二節(jié)像襯原理與應(yīng)用一、像襯原理二、應(yīng)用p第三節(jié)電子探針X射線顯微分析(EPMA)一、能譜儀二、波譜儀
2025-05-06 18:13
【摘要】電子探針EPMA(ElectronProbeMicro-analyzer)一、設(shè)備介紹:電子探針原產(chǎn)地:日本島津公司,處于國(guó)內(nèi)先進(jìn)水平①背散射電子②二次電子④特征X射線吸收電子EPMA的檢測(cè)信號(hào)③透射電子樣品二、應(yīng)用領(lǐng)域和實(shí)驗(yàn)對(duì)象:特征X射線2次電子
【摘要】樣品制備步驟(1)將所需研究的樣品切割,磨制成光片或光薄片,如果是薄片,上面不可有蓋玻璃,所有粘合劑不能用加拿大樹(shù)膠,只能用環(huán)氧樹(shù)脂或502膠;(2)在光學(xué)顯微鏡下仔細(xì)尋找所要觀察的區(qū)域,用墨水筆圈出,并畫(huà)出各物相的關(guān)系;(3)將樣品涂上一層碳膜。(4)用于形態(tài)分析的碳末樣品的特殊制樣方法:在玻璃載玻片上用雙面膠帶粘上粘土或其它粉末,壓
2025-05-04 18:02
【摘要】第十三章電子探針顯微分析【教學(xué)內(nèi)容】【重點(diǎn)掌握內(nèi)容】電子探針儀的分析方法與應(yīng)用【教學(xué)難點(diǎn)】定量分析的基本原理?電子探針X射線顯微分析(簡(jiǎn)稱電子探針顯微分析)(ElectronProbeMicro
2025-05-04 18:10
【摘要】第五章電子探針顯微分析2電子探針顯微分析電子探針(ElectronProbeMicroanalysis-EPMA)的主要功能是進(jìn)行微區(qū)成分分析。它是在電子光學(xué)和X射線光譜學(xué)原理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的一種高效率分析儀器。其原理是:用細(xì)聚焦電子束入射樣品表面,激發(fā)出樣品元素的特征X射線,分析特征X射線的波長(zhǎng)(或能量)可知元素種類(lèi);分析特征
2025-05-03 01:47
【摘要】第二十三章掃描電子顯微分析與電子探針第一節(jié)掃描電子顯微鏡工作原理及構(gòu)造?一、工作原理圖22-1掃描電子顯微鏡原理示意圖二、構(gòu)造與主要性能?掃描電子顯微鏡由電子光學(xué)系統(tǒng)(鏡筒)、偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)、信號(hào)檢測(cè)放大系統(tǒng)、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、電源系統(tǒng)和
2025-05-06 08:20
【摘要】現(xiàn)代材料微觀分析方法羅勇博士,副教授15262027150材料學(xué)院B203第十一章電子探針顯微分析第十章電子探針顯微分析?本章主要學(xué)習(xí)的內(nèi)容:第十章電子探針顯微分析?本章重點(diǎn):?本
2025-01-06 02:44
【摘要】第11章電子探針顯微分析儀(X射線顯微分析儀)(EPMA)X射線顯微分析儀?1.引言?此章的目的是講述電子探針顯微分析儀器(EPMA,EMA)的工作原理及應(yīng)用。EMA與掃描電鏡(SEM)有很密切的關(guān)系,然而,就當(dāng)初研制的目的來(lái)說(shuō)卻是完全不同的。第一臺(tái)商品EMA出現(xiàn)在50年代后期,比掃描電鏡子5年。Raymond
2025-05-15 18:58
【摘要】第十三章電子探針顯微分析?電子探針的原理?電子探針儀的結(jié)構(gòu)?波譜儀(WDS)?能譜儀(EDS)?電子探針儀分析方法3/1/20231HNU-ZLP電子探針的原理?用細(xì)聚焦電子束入射樣品表面,激發(fā)出樣品中各元素的特征(標(biāo)識(shí))X射線:–定性分析分析特征X射線的波長(zhǎng)(或特征能量),得到元素的種類(lèi);
2025-02-15 18:51
【摘要】一、簡(jiǎn)介二、基本物理概念三、主要參數(shù)四、工作模式與襯度原理五、主要部件六、應(yīng)用舉例七、電子探針掃描電子顯微鏡與電子探針(ScanningElectronMicroscope簡(jiǎn)稱SEMandElectronProbeMicro-analysis簡(jiǎn)稱EPMA)一、簡(jiǎn)介SEM是利用
2025-05-10 18:13
【摘要】電子探針x射線顯微分析ElectronProbeMicroanalysis4.電子探針x射線顯微分析?電子探針儀(EPMA)是一種微區(qū)成分分析儀器。?采用被聚焦成小于1的高速電子束轟擊樣品表面,利用電子束與樣品相互作用激發(fā)出的特征x射線,測(cè)量其λ和Ι,確定微區(qū)的定性、定量的化學(xué)成分。?S
2025-01-03 23:37
【摘要】電子探針X射線顯微分析一、引言?電子探針X射線顯微分析(簡(jiǎn)稱電子探針顯微分析)(ElectronProbeMicroanalysis,簡(jiǎn)稱EPMA),它用一束聚焦得很細(xì)(50nm~1μm)的加速到5kV-30kV的電子束,轟擊用光學(xué)顯微鏡選定的待分析試樣上某個(gè)“點(diǎn)”(一般直徑為1-50um),利用試樣受到轟擊時(shí)發(fā)射的X射線的波
【摘要】電子探針x射線顯微分析ElectronProbeMicroanalysis4.電子探針x射線顯微分析n電子探針儀(EPMA)是一種微區(qū)成分分析儀器。n采用被聚焦成小于1的高速電子束轟擊樣品表面,利用電子束與樣品相互作用激發(fā)出的特征x射線,測(cè)量其λ和Ι,確定微區(qū)的定性、定量的化學(xué)成分。nSEM-EPMA組合型儀
2025-01-03 02:34