電子顯微分析與電子探針-展示頁

【摘要】第二十三章掃描電子顯微分析與電子探針第一節(jié)掃描電子顯微鏡工作原理及構造?一、工作原理圖22-1掃描電子顯微鏡原理示意圖二、構造與主要性能?掃描電子顯微鏡由電子光學系統(tǒng)(鏡筒)、偏轉系統(tǒng)、信號檢測放大系統(tǒng)、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、電源系統(tǒng)和

2025-05-12 08:20

11電子探針分析-展示頁

【摘要】現(xiàn)代材料微觀分析方法羅勇博士，副教授15262027150材料學院B203第十一章電子探針顯微分析第十章電子探針顯微分析?本章主要學習的內容:第十章電子探針顯微分析?本章重點:?本

2025-01-10 02:44

電子探針顯微分析儀-展示頁

【摘要】第11章電子探針顯微分析儀(X射線顯微分析儀)(EPMA)X射線顯微分析儀?1.引言?此章的目的是講述電子探針顯微分析儀器(EPMA,EMA)的工作原理及應用。EMA與掃描電鏡(SEM)有很密切的關系，然而，就當初研制的目的來說卻是完全不同的。第一臺商品EMA出現(xiàn)在50年代后期，比掃描電鏡子5年。Raymond

2025-05-21 18:58

【材料課件】13電子探針顯微-展示頁

【摘要】第十三章電子探針顯微分析?電子探針的原理?電子探針儀的結構?波譜儀(WDS)?能譜儀(EDS)?電子探針儀分析方法3/1/20231HNU-ZLP電子探針的原理?用細聚焦電子束入射樣品表面，激發(fā)出樣品中各元素的特征（標識）X射線：–定性分析分析特征X射線的波長（或特征能量），得到元素的種類；

2025-02-19 18:51

電子顯微分析與電子探針(1)-展示頁

【摘要】第二十三章掃描電子顯微分析與電子探針第一節(jié)掃描電子顯微鏡工作原理及構造?一、工作原理圖22-1掃描電子顯微鏡原理示意圖二、構造與主要性能?掃描電子顯微鏡由電子光學系統(tǒng)(鏡筒)、偏轉系統(tǒng)、信號檢測放大系統(tǒng)、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、電源系統(tǒng)和

2025-05-12 08:20

sem電子顯微鏡與電子探針-展示頁

【摘要】一、簡介二、基本物理概念三、主要參數(shù)四、工作模式與襯度原理五、主要部件六、應用舉例七、電子探針掃描電子顯微鏡與電子探針(ScanningElectronMicroscope簡稱SEMandElectronProbeMicro-analysis簡稱EPMA)一、簡介SEM是利用

2025-05-16 18:13

材料研究方法--電子探針-展示頁

【摘要】電子探針x射線顯微分析ElectronProbeMicroanalysis4.電子探針x射線顯微分析?電子探針儀（EPMA）是一種微區(qū)成分分析儀器。?采用被聚焦成小于1的高速電子束轟擊樣品表面，利用電子束與樣品相互作用激發(fā)出的特征x射線，測量其λ和Ι，確定微區(qū)的定性、定量的化學成分。?S

2025-01-07 23:37

電子探針x射線顯微分析授課版-展示頁

【摘要】電子探針X射線顯微分析一、引言?電子探針X射線顯微分析（簡稱電子探針顯微分析）（ElectronProbeMicroanalysis，簡稱EPMA），它用一束聚焦得很細（50nm～１μｍ）的加速到5kV-30kV的電子束，轟擊用光學顯微鏡選定的待分析試樣上某個“點”（一般直徑為1-50um），利用試樣受到轟擊時發(fā)射的X射線的波

2025-05-09 01:47

關于電子探針x射線顯微分析-展示頁

【摘要】電子探針x射線顯微分析ElectronProbeMicroanalysis4.電子探針x射線顯微分析n電子探針儀（EPMA）是一種微區(qū)成分分析儀器。n采用被聚焦成小于1的高速電子束轟擊樣品表面，利用電子束與樣品相互作用激發(fā)出的特征x射線，測量其λ和Ι，確定微區(qū)的定性、定量的化學成分。nSEM-EPMA組合型儀

2025-01-07 02:34

獨居石電子探針th-pb年齡測試方法-展示頁

【摘要】獨居石電子探針定年－理論、方法和應用北京大學造山帶與地殼演化教育部重點實驗室劉樹文獨居石電子探針定年－理論、方法和應用?電子探針化學定年法的研究歷史與現(xiàn)狀?電子探針化學定年法的優(yōu)勢和限度?獨居石的基本特性?基本原理?實驗技術和分析方法?計算方法?應用范圍和應用實例一.

2025-05-10 05:52

掃描電子顯微鏡與電子探針分析資料-展示頁

【摘要】第五章掃描電子顯微鏡和電子探針分析?掃描電子顯微鏡（ScanningelectronmicroscopeSEM）是以類似電視攝影顯像的方式，通過細聚焦電子束在樣品表面掃描激發(fā)出的各種物理信號來調制成像的顯微分析技術。?SEM在60’s商品化，應用范圍很廣；SEM成像原理與TEM完全不同，不用電磁透鏡放大成像；新式SEM的二次電子分辨率已達1n

2025-01-08 05:38

無機材料測試技術11電子探針x射線顯微分析-展示頁

【摘要】第十一章電子探針X射線顯微分析?概述?顯微分析特點?構造與工作原理?樣品制備?分析方法一、概述?電子探針是電子探針X射線顯微分析儀的簡稱，英文縮寫為EPMA(ElectronprobeX-raymicroanalyser)。?電子探針儀是一種微區(qū)成分分析儀器，它利用

2025-01-09 22:41

基因探針ppt課件-展示頁

【摘要】基因探針CHENPUYAN基因探針基因探針又稱核酸分子雜交技術，是在1968年由華盛頓卡內基學院（CavnegieInstituteofWashington）的RoyBritten及其同事發(fā)明的?；蛱结樖侵改芘c特定的靶分子序列發(fā)生特異性相互作用的標記分子

2025-01-17 00:27

材料分析方法第八章掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析-展示頁

【摘要】第八章掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析?內容提要：?第一節(jié)電子束與固體樣品相互作用時產生的物理信號?第二節(jié)掃描電子顯微鏡的結構和工作原理?第三節(jié)表面形貌襯度原理及其應用?第四節(jié)原子序數(shù)襯度原理及其應用?第五節(jié)電子探針X射線顯微分析引言?SEM

2025-04-20 22:11

材料分析測試技術chapter8掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析-展示頁

【摘要】第八章掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析序?掃描電子顯微鏡（ScanningElectronMicroscope，簡稱SEM）是繼透射電鏡（TEM）之后發(fā)展起來的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學顯微鏡或透射電子顯微鏡不同，它是以電子束作為照明源，把聚焦得很細的電子束以光柵狀掃描方式照射到試樣上，產生各種與試

2025-01-25 16:16

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