材料研究方法--電子探針(參考版)
2025-01-03 23:37本頁面
【正文】 a. Writing on Ferroelectric Materials b. Atomic resolution on carbon nanotubes c. Magic domain walls on a BaFe12O19 single crystal 電子顯微鏡分析在材料研究中的應(yīng)用 ? 形態(tài)分析 ? 元素的存在狀態(tài)分析 ? 玻璃的非晶態(tài)結(jié)構(gòu)分析 ? 材料斷面的研究 ? 晶界（微觀研究） ? 微區(qū)結(jié)構(gòu)分析 ? 高分子材料的研究 演講完畢，謝謝觀看！ 。最小的力 10141015N）、表面彈性、塑性、硬度、粘著力、摩擦力等性質(zhì)。 ? 發(fā)明者 1986年的諾貝爾獎?？v向分辨率10197。 ? 對微區(qū)、微粒、微量的成分分析具有分析元素范圍廣、靈敏度高、可定量等優(yōu)點(diǎn)，在各領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。 原因是：譜線強(qiáng)度與元素含量有關(guān)外，還與試樣的化學(xué)成分有關(guān)，通常稱為“基體效應(yīng)”，譜儀對不同波長（或能量） X射線探測的效率不同。 ? 線掃描、面掃描只作定性分析，不作定量分析。 面掃描分析 ? 亮區(qū)代表元素含量高，灰區(qū)代表元素含量較低，黑色區(qū)域代表元素含量很低或不存在。亮點(diǎn)為元素的所在處，根據(jù)亮點(diǎn)的 疏密程度 可確定元素在試樣表面的 分布 情況。 ? 垂直于擴(kuò)散界面的方向上進(jìn)行線掃描，可以很快顯示濃度與擴(kuò)散距離的關(guān)系曲線，若以微米級逐點(diǎn)分析，可相當(dāng)精確測定擴(kuò)散系數(shù)和激活能。（元素的 濃度 分布） ? 直接在 SE像、 BE像上疊加，顯示掃描軌跡和 x射線 I分布曲線，直觀反映 元素濃度分布 與 組織結(jié)構(gòu) 之間的關(guān)系。 基本工作方式： （ 1） 定點(diǎn)元素全分析 （定性或定量） ? 電子束固定在分析的某一點(diǎn)（ 微區(qū) ），改變晶體的衍射角，記錄該點(diǎn)不同元素 的 x射線 λ 和 I。 ? 定量 分析： 記錄樣品發(fā)射的特征 x射線 λ 和 I。（機(jī)械拋光、化學(xué)試劑、表面氧化膜和碳化產(chǎn)物、殘存的污染） 分析方法 ? 定性 分析： 記錄
教學(xué)課件相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1