電子探針分析原理ppt課件(參考版)
2025-05-04 18:02本頁面
【正文】 第七節(jié) 電子探針分析標(biāo)樣選用 。 二、天然礦物標(biāo)樣制備 可用于標(biāo)樣的礦物需滿足以下條件：①礦物是均一的；②各元素在樣品中均勻分布；③樣品在電子束作用下穩(wěn)定；化學(xué)成分盡可能簡單。 因此，在盡量保證外因影響最弱的情況下，就必須進行內(nèi)因的修正，即 ZAF較正。 內(nèi)因：①試樣和標(biāo)樣對入射電子的原子序數(shù)效應(yīng)；②試樣和標(biāo)樣對 X射線的吸收效應(yīng)；③試樣和標(biāo)樣對 X射線的熒光效應(yīng)。這是因為 X射線強度比與元素濃度比之間并非呈簡單的線性關(guān)系。 ?nnn ??試樣在經(jīng)過背景修正和死時間修正后，可作為一級近似將 X射線強度比當(dāng)作元素濃度比。 )39。因此要對 X射線強度進行死時間修正。在此間隔內(nèi)，計數(shù)系統(tǒng)不再接收記錄，直到新的脈沖到來。 (2)如果背景強度與波長不呈線性關(guān)系，通常在離譜峰兩側(cè)，然后繪出背景軌跡，直接讀取峰位處的背景強度 Bg作為背景值。 kIICCiiii ??)()(（一）背景修正 實驗測得的特征 X射線強度必須扣除連續(xù) X射線所造成的背景強度，即進行背景修正。 但 WDS也有其缺點： ①用時多，速度慢； ② WDS需用較大的電流。 ， EDS 1000ppm 177。 2d為分光晶體的面網(wǎng)間距， λ為特征 X射線峰的波長， n為 X射線反射級數(shù)。
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