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欣興電子(印刷電路板pcb)統(tǒng)計(jì)制程管制spc培訓(xùn)教材-wenkub.com

2025-05-16 08:43 本頁(yè)面
   

【正文】 2) 每種料號(hào) (製程 )的抽樣樣本大小一致。 (2) 抽樣頻率不固定 :生產(chǎn)量小的料號(hào),取樣時(shí)間變得十分不固定,造成一週內(nèi)僅有一兩點(diǎn)數(shù)據(jù)的狀況。以壓合針孔凹陷數(shù)為例,不同大小板面所產(chǎn)生的缺點(diǎn)數(shù)並不能直接比較。這時(shí)不良率的值通常很小 (以 ppm計(jì) ),造成圖形不易區(qū)別,因此使用不良數(shù)做為繪圖數(shù)據(jù)點(diǎn)。 b. 持續(xù)蒐集數(shù)據(jù)並點(diǎn)圖 c. 管制界限之重新計(jì)算 – 當(dāng)不良率有明顯的變化時(shí) (變好或變差 ),應(yīng)重新計(jì)算管制界限,以符合製程不良率之現(xiàn)況。 c. 決定樣本分組方式 –通常皆以一定時(shí)間之產(chǎn)品為一組、或以每批產(chǎn)品為一組。 ? 管制圖建立步驟: 先建立解析用管制圖,待確定管制界限後,再建立管制用管制圖 1) 建立解析用管制圖 a. 選定管制項(xiàng)目 – 通常即為某一個(gè)站點(diǎn)的不良率。 ? OCAP應(yīng)該由現(xiàn)場(chǎng)的第一線作業(yè)人員執(zhí)行,以確保其時(shí)效性。以面銅厚度的例子而言,即是 Lottolot均勻性不好。當(dāng)然也有可能是突然出現(xiàn)的可歸屬原因 (例如 : 設(shè)備故障、作業(yè)員操作錯(cuò)誤 …. 等 )所造成的。 2) 在管制界限內(nèi)的點(diǎn)出現(xiàn)特殊圖樣 (Pattern)。 2) 大部份的點(diǎn) (約 70%)集中在中心線,但不能所有的點(diǎn)都靠近中心線。 World Class Quality CONFIDENTIAL 50 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 2) 建立管制用管制圖 經(jīng)解析用管制圖對(duì)製程解析後,確定製程能力能滿足規(guī)格需求,且將來(lái)係按此種同樣條件繼續(xù)生產(chǎn)時(shí),可以固定管制界限開始管制製程。 World Class Quality CONFIDENTIAL 49 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 如製程分佈範(fàn)圍比規(guī)格界限之寬度為寬時(shí),表示製程能力不足。 World Class Quality CONFIDENTIAL 48 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 k. 繪製直方圖 – 將所有數(shù)據(jù)作成次數(shù)分配,如不呈常態(tài)分配,則宜應(yīng)用層別,合理分組等方法,檢討原數(shù)據(jù),直到數(shù)據(jù)呈常態(tài)分配。 World Class Quality CONFIDENTIAL 47 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 如有點(diǎn)超出管制界限 ,則應(yīng)調(diào)查原因,並加以消除。 World Class Quality CONFIDENTIAL 45 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 e. 計(jì)算每組平均值 (X)及全距 (R) f. 計(jì)算總平均值 (X)及平均全距 (R)。 World Class Quality CONFIDENTIAL 44 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 b. 蒐集數(shù)據(jù) – 蒐集最近之?dāng)?shù)據(jù) 120個(gè)以上,分析其製程表現(xiàn) (是否合乎規(guī)格 ),若製程表現(xiàn)指標(biāo) (Ppk)太差,應(yīng)重新調(diào)整製程條件以改善現(xiàn)況。 2) 管制用管制圖 – 偵測(cè) 可歸屬原因 是否發(fā)生同時(shí) 追查 並迅速消除 此原因。管制圖可用來(lái)判斷品質(zhì)變異之顯著性,以測(cè)知製程是否在正常狀態(tài)。如發(fā)現(xiàn)有超出管制界限外之點(diǎn)或是出現(xiàn)特殊圖樣 (異?,F(xiàn)象 )時(shí),應(yīng)立即由人員、機(jī)械設(shè)備、材料、方法(4M)或環(huán)境 (1E)等方向進(jìn)行層別以追查原因,進(jìn)而改善製程。 World Class Quality CONFIDENTIAL 35 Unimicron 何謂統(tǒng)計(jì)製程管制 我們?yōu)楹我獙W(xué)統(tǒng)計(jì)製程管制? 品質(zhì)並不是某一個(gè)人或是某一部門的責(zé)任,如果要生產(chǎn)的產(chǎn)品能達(dá)到顧客所要求的「品質(zhì)」,公司裡每一個(gè)人包括生產(chǎn)線上的作業(yè)員、打字員、採(cǎi)購(gòu)員、工程師以及公司的總經(jīng)理等對(duì)產(chǎn)品的品質(zhì)都有責(zé)任。這些自然變異通常稱為機(jī)遇原因 (random causes)或是一般原因(mon causes),當(dāng)製程在只有機(jī)遇原因出現(xiàn)下操作,則稱其在管制中 (in control)。 在這種情況下, Ppk指標(biāo)比較能反映出製程實(shí)際的表現(xiàn)。在此階段,由於產(chǎn)品生產(chǎn)數(shù)量不多,不適用以樣本分組的方式估計(jì)製程標(biāo)準(zhǔn)差。 Cpk指標(biāo) 的計(jì)算 Cpk = (1 |Ca|) x Cp (當(dāng) Ca = 0 或無(wú)法計(jì)算時(shí), Cpk = Cp) 另一種直接的計(jì)算方法是: Cpl = (?LSL)/3? ^ ^ Cpu = (USL?)/3? ^ ^ Cpk = min { Cpl , Cpu } World Class Quality CONFIDENTIAL 27 Unimicron 製程能力綜合指標(biāo) Cpk 等級(jí) C p k 值 A+ 7 ≦ C p k A 3 ≦ C p k B 0 ≦ C p k C 7 ≦ C p k 0 D C p k ? Cpk的等級(jí)判定: Cpk值越大,表示製程精密度越好。 等級(jí) C p 值A(chǔ)+ 7 ≦ CpA 3 ≦ Cp B 0 ≦ Cp C 7 ≦ Cp 0D CpWorld Class Quality CONFIDENTIAL 22 Unimicron Cp的圖示 LSL USL m 6? 6? m World Class Quality CONFIDENTIAL 23 Unimicron 製程準(zhǔn)確度 Ca ? Ca值在衡量製程之實(shí)績(jī)平均值相對(duì)於規(guī)格中心值之偏移程度,為製程中心值偏移規(guī)格中心值時(shí)製程能力之矯正值(noncentering correction)。3? (亦即是6?)。 k = 20 組數(shù) World Class Quality CONFIDENTIAL 18 Unimicron 製程能力分析 (Process Capability Analysis) World Class Quality CONFIDENTIAL 19 Unimicron 製程能力分析 ? 評(píng)估製程能力 (Process Capability)時(shí)由兩個(gè)角度觀察:製程精密度 (Precision)及製程準(zhǔn)確度 (Accuracy)。 World Class Quality CONFIDENTIAL 15 Unimicron 利用樣本數(shù)據(jù)估算母體標(biāo)準(zhǔn)差 母體標(biāo)準(zhǔn)差的估計(jì) 在母體為常態(tài)分佈的情況下,利用「具代表性」的樣本數(shù)據(jù)可以有效地估計(jì)出母體的標(biāo)準(zhǔn)差。最近一個(gè)月內(nèi)共生產(chǎn)了二十批,抽樣後得到如右的數(shù)據(jù)。 ? 在統(tǒng)計(jì)學(xué)上,稱全部電鍍板的面銅厚度為 母體數(shù)據(jù) ,而抽樣得來(lái)的稱為 樣本數(shù)據(jù) 。3? 範(fàn)圍內(nèi) ? % % % 如果全部有 1000個(gè)數(shù)據(jù),大約只有 3個(gè)數(shù)據(jù)會(huì)落在平均值正負(fù)三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差以外的範(fàn)圍! World Class Quality CONFIDENTIAL 11 Unimicron 常態(tài)分佈的特性 範(fàn)例:全校男同學(xué)身高 假設(shè)一所學(xué)校共有 500位男同學(xué),這些同學(xué)的身高呈現(xiàn)常態(tài)分佈。 World Class Quality CONFIDENTIAL 9 Unimicron 常態(tài)分佈 ? 數(shù)據(jù)在分組之後,按照各組次數(shù)的分配,可以出現(xiàn)不同的分佈圖型。 以之前的線寬數(shù)據(jù)為例。眾數(shù)則是在一組數(shù)據(jù)中,出現(xiàn)次數(shù)最多之?dāng)?shù)值。 World Class Quality CONFIDENTIAL 5 Unimicron 製程數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì) ? 對(duì)於蒐集到的眾多製程數(shù)據(jù),可以用以下兩種指標(biāo)來(lái)代表數(shù)據(jù)的整體特性: 1. 集中趨勢(shì)指標(biāo) – 大部份的數(shù)據(jù)集中在哪裏 ? 2. 離散趨勢(shì)指標(biāo) – 數(shù)據(jù)的分散程度如何 ? 集中趨勢(shì)指標(biāo) (Central Tendency) 在統(tǒng)計(jì)學(xué)裏,最常用的集中趨勢(shì)指標(biāo)是 平均值 。例如在製造現(xiàn)場(chǎng)收集到 20個(gè)線寬的數(shù)據(jù),分別為: World Class Quality CONFIDENTIAL 6 Unimicron 數(shù)據(jù)的集中趨勢(shì)指標(biāo) 集中趨勢(shì)指標(biāo) (續(xù) ) 經(jīng)過(guò)計(jì)算後,得到平均值為 3。 平均數(shù)對(duì)離群值 (outliers)非常敏感,而中位數(shù)或眾數(shù)對(duì)離群值較不敏感,因此,當(dāng)資料中有離群值時(shí),則用中位數(shù)或眾數(shù),否則, 則用平均數(shù)。全距即是 – = 註 : 使用全距做為離散趨勢(shì)指標(biāo)的好處是容易計(jì)算,但卻沒(méi)有考慮到數(shù)據(jù)次數(shù)分配的問(wèn)題。而最常見的即是常態(tài)分佈 (Normal Distribution) 註 :常態(tài)分佈又稱高斯分佈 World Class Quality CONFIDENTIAL 10 Unimicron 常態(tài)分佈的特性 ? 數(shù)據(jù)若呈現(xiàn)常態(tài)分佈,則會(huì)有以下的特性: % 的數(shù)據(jù)在 ?177。而全體男同學(xué)的平均身高為 175公分,標(biāo)準(zhǔn)差為 5公分。 ? 在實(shí)務(wù)上我們無(wú)法量測(cè)所有的母體,故我們希望透過(guò)合理的抽樣,然後以取得的樣本數(shù)據(jù) (樣本統(tǒng)計(jì)量 )來(lái)推估母體參數(shù) (平均值與標(biāo)準(zhǔn)差 )。 接下來(lái)的問(wèn)題是:如何以這些樣本數(shù)據(jù)來(lái)估算母體的平均值及標(biāo)準(zhǔn)差? World Class Quality CONFIDENTIAL 14 Unimicron 樣本數(shù)據(jù)的蒐集 首先,先分別算出各樣本組的平均值、全距以及標(biāo)準(zhǔn)差。而估計(jì)的方式共有兩種: (1) 以平均全距做估計(jì) (2) 以平均組標(biāo)準(zhǔn)差做估計(jì) 2? dR??4? cS??註:樣本
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