x射線晶體衍射實驗報告-資料下載頁
2025-08-02 23:25本頁面
【正文】 K(4,0,0)2 oK(4,0,0)3 oK(6,0,0)3 oK(6,0,0) 已知BaF晶體的晶格常數(shù)（a0=）及X射線相應波長，求密勒指數(shù)（h、l、k）。圖(h) X射線在BaF晶體中的角度譜及高斯擬合注：（高斯擬合所用方程y=}當n=1時，θ= O ，sinθ=若λ==，根據(jù)（4）式，得密勒指數(shù)測量值（h、k、l）=(,0,0)，理論值（h、k、l）=(4,0,0)則它的相對誤差分別為▽1=﹪若λ=λ（）=,同理密勒指數(shù)測量值（h、k、l）=(,0,0)，理論值（h、k、l）=(3,0,0)則它的相對誤差分別為▽1=﹪相對而言，線系為K更具真實性。四、實驗總結 本實驗充分說明了X射線在晶體結構分析方面的巨大作用，使我了解了X射線的衍射原理及晶體結構分析的常用方法。了解X射線實驗儀的構造及正確操作步驟，體會在實驗儀及相關軟件的配合下，會對實驗研究提供方便。該實驗亦使我對科學技術有了進一步認識。在斯老師的指導下，我對實驗的科學與安全操作有了更為深刻的理解，相信在以后的實驗過程中會有一定的幫助及啟發(fā)意義。 專業(yè)整理分享
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