x射線晶體衍射實(shí)驗(yàn)報(bào)告(專業(yè)版)
【正文】 圖(f)一個(gè)典型的測(cè)量結(jié)果畫面數(shù)據(jù)采集是自動(dòng)的，當(dāng)在X射線裝置中按下“SCAN”鍵進(jìn)行自動(dòng)掃描時(shí)，軟件將自動(dòng)采集數(shù)據(jù)和顯示結(jié)果：工作區(qū)域左邊顯靶臺(tái)的角位置和傳感器中接收到的X光光強(qiáng)R的數(shù)據(jù)；而右邊則將此數(shù)據(jù)作圖，其縱坐標(biāo)為X光光強(qiáng)R（單位是1/s），橫坐標(biāo)為靶臺(tái)的轉(zhuǎn)角（單位是o）。X光管圖(d)是由抽真空的石英管組成，（1）是接地的電子發(fā)射極，通電加熱后可發(fā)射電子；（2）為鉬靶，鉬靶受電子轟擊的面呈斜面，以利于X光水平方向射出。關(guān)鍵詞：布拉格公式 晶體結(jié)構(gòu) X射線波長引言：1895年，德國物理學(xué)家倫琴發(fā)現(xiàn)X射線，從此揭開了物理學(xué)的新篇章。為了表示晶面族的差異，可用密勒指數(shù)來表示晶面族，密勒指數(shù)就可以這樣確定，即限晶面族中離原點(diǎn)最近的晶面，如果此晶面在三個(gè)基本矢量a、b、c上的截距為a/h、b/k、c/l（h、k、l為不可約整數(shù)），則密勒指數(shù)為（h、k、l）。包括RESET、RRPLAY、SCAN（on\off）。圖(h) X射線在BaF晶體中的角度譜及高斯擬合注：（高斯擬合所用方程y=}當(dāng)n=1時(shí)，θ= O ，sinθ=若λ==，根據(jù)（4）式，得密勒指數(shù)測(cè)量值（h、k、l）=(,0,0)，理論值（h、k、l）=(4,0,0)則它的相對(duì)誤差分別為▽1=﹪若λ=λ（）=,同理密勒指數(shù)測(cè)量值（h、k、l）=(,0,0)，理論值（h、k、l）=(3,0,0)則它的相對(duì)誤差分別為
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