【正文】 這就是由于兩種硫原子所處的化學環(huán)境不同而造成內(nèi)殼層電子結(jié)合能的化學位移，利用它可以推測出化合物的結(jié)構(gòu)。 ? 方法：通過測定譜中不同元素內(nèi)層光電子峰的結(jié)合能直接進行元素定性分析。 ? Xray: 原子外層電子從 L層躍遷到 K層產(chǎn)生的射線。el temperature in CaMnO 3? δ ceramics: Synthesized by two different methods 總結(jié) ?本章著重介紹三個問題： ?1 精確測量晶體的點陣常數(shù) ?2 物相定性 和定量分析 ?3 應力測定 總結(jié) 1 精確測量晶體的點陣常數(shù) ?X射線點陣常數(shù)精確測定中的關(guān)鍵是θ 角，為獲得精確的點陣常數(shù)要盡量選擇高角度的 θ 角。 ? 字母索引 ?? 戴維 ? K法，已知樣品中某些元素做相分析時用，先推測出可能的化合物，然后根據(jù)英文名稱查對確定。 Page ? 8 X射線的強度 ?X射線衍射理論能將晶體結(jié)構(gòu)與衍射花樣有機地聯(lián)系起來，它包括衍射線束的方向、強度和形狀?，F(xiàn)在 X射線衍射法已成為科學技術(shù)上應用相當廣泛的方法之一，遍及物理、化學、礦物、巖石、金相、冶金、陶瓷、水泥等各個科學技術(shù)領(lǐng)域，成為生產(chǎn)和科學研究中重要的有些領(lǐng)域甚至是不可缺少的分析工具。 ， ? 代如公式有 D?MnO2（ 131） = 260 197。 ?具體應力測定方法有 sin2ψ 法和０ 186。 定性分析 特點 ? 盡管 X射線可穿透樣品很深但只有樣品近表面一薄層發(fā)射出的光電子可逃逸出來，電子的逃逸深度和非彈性散射自由程為同一數(shù)量級范圍。由圖 512可知，除氫以外，其它元素的譜峰均清晰可見。 圖 514 還原后鉛玻璃的 Pb4f譜線 四、固體表面相的研究 由于水泥熟料中的硅酸鹽遇水后的水化過程發(fā)生在固 液界面，用光電子能譜研究表面的水化產(chǎn)物的組成，不僅可以了解它的成分變化，而且對硅酸鈣的初期水化反應機理也提供了有價值的信息。 ? 定性分析時一般利用元素的主峰（該元素最強最尖銳的特征峰），自旋 — 軌道分裂形成的雙峰結(jié)構(gòu)情況有助于識別元素。 光電子能譜的應用 ? 元素的定性分析 ? 元素的定量分析 ? 固體表面相的研究 ? 化合物結(jié)構(gòu)的鑒定 Page ? 64 一、元素定性分析 ? ?XPS產(chǎn)生的光電子的結(jié)合能僅與元素種類以及所激發(fā)的原子軌道有關(guān)。 ?宏觀應力測定是測應力作用下晶面間距的變化，晶面間距變化的表現(xiàn)是 θ 角變化。 ）； ?為衍射峰的寬度（弧度單位）； k為常數(shù)（與 ?的定義有關(guān)， ?用積分寬計算晶粒大小時， k = 1； ?用半高寬計算時，則取 k = 。 1. 峰位 ? 定性相分析，確定晶系，指標化， 計算晶胞參數(shù)等 2 . 峰強 ? 計算物相含量，計算結(jié)晶度 3 . 峰形 ? 估計結(jié)晶度高低，計算晶粒尺寸 1. 晶體樣品的物相分析 我們說 X射線衍射最主要的用途是定性物相分析。 Page ? 9 Ｘ 射線衍射花樣所含各種信息 半 高 寬 結(jié)晶性 晶粒尺寸 晶格畸 變 非晶 結(jié)晶度 Page ? 10 10 Page ? 11 薄膜法光路 薄膜 衍射光路 標準衍射光路 襯底 薄膜 (100nm) Page ? 12 薄膜法功能與特點 ?適合測定從 10nm至 100nm厚的薄膜。而衍射指標隨結(jié)構(gòu)不同而異 晶胞參數(shù)與結(jié)構(gòu)的測定 ? 對于簡單立方 P： 1： 2： 3： 4： 5： 6： 8： 9... 缺 7 ? 對于體心立方 I： 2： 4： 6： 8： 10： 12： 14： 16： 18... 1： 2： 3： 4： 5： 6： 7： 8： 9... 不缺 7 ? 對于面心立方 F： 3： 4： 8： 11： 12： 16： 19： 20... ? 求晶胞參數(shù) a = ? ( h2+k2+l2 ) 1/2 / 2sin ? （ 4） ? 求晶胞中原子或分子數(shù) Z = V*D*N0 / M （ 5） ? 式中： V為單胞體積， D為所測試樣的密度， M為分子（或原子）量， N0阿佛伽德羅數(shù)。 ?定性分析原理是：至今還沒發(fā)現(xiàn)有兩個物相的衍射譜數(shù)據(jù)完全相同，因此可以根據(jù)衍射譜數(shù)據(jù)區(qū)分物相。 61 X射線光電子能譜分析 電子能譜分析是一種研究物質(zhì)表層元素組成與離子狀態(tài)的表面分析技術(shù) 。