塑封器件失效機理及其快速評估技術-資料下載頁
2025-07-13 22:38本頁面
【正文】 斷。②溫度沖擊。Hughes公司指出，溫度沖擊和隨機振動是考核元器件非工作狀態(tài)可靠性的最有效的高加速應力方法 [5]。統(tǒng)計分析表明，溫度沖擊能夠暴露元器件2/3的貯存潛在缺陷。而對于封裝對芯片存在溫變應力敏感以及封裝工藝存在缺陷的塑封器件，可以通過選擇合適的溫變參數(shù)（參照產品的使用等級）進行評價。參考MIL883E以及結合經驗參數(shù)，可以采用負溫30min，正溫30min，大于100個循環(huán)的試驗方案。溫度沖擊試驗后，除了進行聲學掃描檢查界面分層情況外，還要進行X射線檢查外引腳與芯片鍵合區(qū)的鋁線完整情況；最后要將器件開封，觀察芯片表面是否有裂紋、鈍化層表面是否有較多的劃傷，做出此批器件是否通過溫度沖擊試驗的判斷。在做出此批器件是否通過評價試驗的判斷時，若選取已知良好的器件對比進行評價，將會為被評價的塑封器件可靠性判斷提供非常有價值的參考信息。 可用于軍工高可靠用途的篩選美國航空航天局的Goddard空間飛行中心的報告指出，篩選能有效避免PEM由于缺陷而引起的早期失效，并給出了評價流程及參數(shù)，本文只列出流程圖（圖1）[6]，其余請參照文獻。4 結語影響塑封器件可靠性的各種失效機理所對應的失效表征可以采用加速試驗，使其在短期內的退化等效于長期累積的結果。元器件貯存可靠性的篩選和評價，要求以最充分暴露和檢測其各種缺陷和潛在缺陷為目的。高加速應力試驗正是缺陷評價、安全工作裕度評價和健壯設計評價的重要方法 [7]，在參考EIA和MIL標準的基礎上，根據(jù)不同塑封器件的產品手冊適當加速應力系數(shù)范圍，采用對比試驗可以很好地對缺陷品進行篩選。塑封器件的可靠性評價方法研究是一項長期的工作，本文所論述的可靠性評價方法適用于PEM缺陷的前期篩選，但對于 PEM的長期工作狀態(tài)可靠性，要通過大量的鑒定試驗才能做出判斷。9 / 9
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