納米粉體ppt課件-資料下載頁
2025-05-03 03:30本頁面
【正文】 的半球形表面具有更小的曲率半徑 ， 在它附近場強將更高 。 納 米 科 技 第二節(jié) 電子光學表面分析方法 在納米測量中的應用 五、原子探針場離子顯微鏡 工作原理和樣品制備 當彈跳中的偶極子進入這突出原子外的高場強區(qū) ，若氣體的偶極子 （ 極化原子 ） 的外層電子恰好符合樣品中原子的空能級的能態(tài) ， 那么氣體的極化原子的電子將有較高的幾率 ， 通過 “ 隧道效應 ” 穿過針尖樣品表面位壘而進入樣品 ， 氣體原子則發(fā)生了“ 場致電離 ” 變?yōu)閹д姷碾x子 。 成像氣體的離子由于受到電場的加速而在針尖半球徑向方向上撞向觀察熒光屏 ， 即可 激發(fā)光信號 。 納 米 科 技 第二節(jié) 電子光學表面分析方法 在納米測量中的應用 五、原子探針場離子顯微鏡 工作原理和樣品制備 凡樣品尖端原子突出的部位 ， 成像氣體的極化原子最容易在它們的高場強區(qū)域發(fā)生電離 ， 即從這一區(qū)域在熒光屏形成了一加速離子的 “ 通道 ” ， 集中了大量 “ 射出 ” 的氣體離子 ， 可稱其為 “ 鉛筆錐管 ” ， 在熒光屏上對應了一個 亮點 。 納 米 科 技 第二節(jié) 電子光學表面分析方法 在納米測量中的應用 五、原子探針場離子顯微鏡 工作原理和樣品制備 針尖樣品表面上的一個原子對應著熒光屏上的一個亮點 。 納 米 科 技 第二節(jié) 電子光學表面分析方法 在納米測量中的應用 五、原子探針場離子顯微鏡 工作原理和樣品制備 被電離且參與加速撞擊熒光屏成像的成像氣體原子 ， 每秒鐘大約有 103～ 104個 。 為了保證有足夠的分辨率 ， 樣品處于極低的溫度下 ， 由樣品致冷劑冷卻 ， 溫度在幾十到 100K， 針尖的半徑一般在 20～200nm， 分辨率可達 。 納 米 科 技 第二節(jié) 電子光學表面分析方法 在納米測量中的應用 五、原子探針場離子顯微鏡 原子探針場離子顯微鏡的優(yōu)缺點 測定金屬和合金表面的原子結(jié)構(gòu) ， 吸附于表面的吸附物原子結(jié)構(gòu)； 研究樣品中點缺陷 、 位錯 、 界面缺陷等； FIM只能對金屬和合金的原子行為進行觀測 ， 分辨率特高； 由于樣品為針尖形 ， 實際的分析體積小于100nm 100nm 100nm， 對于納米材料的表面分析很合適 。
教學課件相關推薦
鄂ICP備17016276號-1