《納米粉體》ppt課件(文件)
【正文】 離子 ， 可稱其為 “ 鉛筆錐管 ” ， 在熒光屏上對應了一個 亮點 。 納 米 科 技 第二節(jié) 電子光學表面分析方法 在納米測量中的應用 五、原子探針場離子顯微鏡 原子探針場離子顯微鏡的優(yōu)缺點 測定金屬和合金表面的原子結構 ， 吸附于表面的吸附物原子結構； 研究樣品中點缺陷 、 位錯 、 界面缺陷等； FIM只能對金屬和合金的原子行為進行觀測 ， 分辨率特高； 由于樣品為針尖形 ， 實際的分析體積小于100nm 100nm 100nm， 對于納米材料的表面分析很合適 。 納 米 科 技 第二節(jié) 電子光學表面分析方法 在納米測量中的應用 五、原子探針場離子顯微鏡 工作原理和樣品制備 被電離且參與加速撞擊熒光屏成像的成像氣體原子 ， 每秒鐘大約有 103～ 104個 。 納 米 科 技 第二節(jié) 電子光學表面分析方法 在納米測量中的應用 五、原子探針場離子顯微鏡 工作原理和樣品制備 當彈跳中的偶極子進入這突出原子外的高場強區(qū) ，若氣體的偶極子 （ 極化原子 ） 的外層電子恰好符合樣品中原子的空能級的能態(tài) ， 那么氣體的極化原子的電子將有較高的幾率 ， 通過 “ 隧道效應 ” 穿過針尖樣品表面位壘而進入樣品 ， 氣體原子則發(fā)生了“ 場致電離 ” 變?yōu)閹д姷碾x子 。 納 米 科 技 第二節(jié) 電子光學表面分析方法 在納米測量中的應用 五、原子探針場離子顯微鏡 工作原理和樣品制備 通常場離子顯微鏡中都要充以103 ～ 102pa 的惰性氣體 （ 如 He、Ne等 ） ， 這種氣體叫做 成像氣體 。 納 米 科 技 第二節(jié) 電子光學表面分析方法 在納米測量中的應用 五、原子探針場離子顯微鏡 工作原理和樣品制備 在場離子顯微鏡中 ， 樣品是做成針尖形 ， 但從微觀看針尖還是不規(guī)則的 。 納 米 科 技 第二節(jié) 電子光學表面分析方法 在納米測量中的應用 四、俄歇電子譜儀 在納米測量中的應用 俄歇電子譜儀在納米薄膜的縱向分析、三維分析、多層膜的組分剖面分析等方面有突出的作用，但在空間分辨率上有缺點，因為俄歇電子的反應直徑在 1000nm（ 1μm），近期有望達到。
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