納米粉體ppt課件-閱讀頁
2025-05-18 03:30本頁面
【正文】 和電子探針 X射線能譜分析又稱 EDS，空間分辨率可達(dá)幾十納米； X射線波譜分析又稱 WDS，空間分辨率達(dá)幾百納米。 所謂 俄歇電子 是俄歇躍遷過程發(fā)射出的電子 。 納 米 科 技 第二節(jié) 電子光學(xué)表面分析方法 在納米測量中的應(yīng)用 四、俄歇電子譜儀 測試原理 檢測俄歇電子的能量和強(qiáng)度，可以獲得有關(guān)表面層化學(xué)成分的定性和定量信息。所以從縱向考慮，能反映 ～ 2nm范圍內(nèi)的材料特征（成分分析），但表面范圍還比較大，達(dá)不到納米尺度的要求。 它具有原子大小的分辨率和分辨單個原子的靈敏度 ， 還能辨別表面的化學(xué)狀態(tài) ， 是掃描隧道顯微分析出現(xiàn)以前分辨率最高 ， 可觀察到原子的最常用的儀器 。 如果在針尖上加一很強(qiáng)的正電壓 ， 那么針尖上的突出部分比平滑部分具有更高的電場 ， 當(dāng)其場強(qiáng)達(dá)到伏 /埃 （ V/197。 納 米 科 技 第二節(jié) 電子光學(xué)表面分析方法 在納米測量中的應(yīng)用 五、原子探針場離子顯微鏡 工作原理和樣品制備 “場蒸發(fā) ” 后針尖就變成沒有突出部分的 、 平滑的半球形 ，成為場離子顯微鏡合用的 樣品 ， 場蒸發(fā)還可以剝離表面層 ， 使樣品形成無污染的新鮮表面 。 納 米 科 技 第二節(jié) 電子光學(xué)表面分析方法 在納米測量中的應(yīng)用 五、原子探針場離子顯微鏡 工作原理和樣品制備 在外電場作用下 ， 氣體分子由于感應(yīng)變成 偶極子 ， 吸附于表面突出部位的原子上 。 納 米 科 技 第二節(jié) 電子光學(xué)表面分析方法 在納米測量中的應(yīng)用 五、原子探針場離子顯微鏡 工作原理和樣品制備 處于臺階邊緣的原子總是比平均的半球形表面具有更小的曲率半徑 ， 在它附近場強(qiáng)將更高 。 成像氣體的離子由于受到電場的加速而在針尖半球徑向方向上撞向觀察熒光屏 ， 即可 激發(fā)光信號 。 納 米 科 技 第二節(jié) 電子光學(xué)表面分析方法 在納米測量中的應(yīng)用 五、原子探針場離子顯微鏡 工作原理和樣品制備 針尖樣品表面上的一個原子對應(yīng)著熒光屏上的一個亮點(diǎn) 。 為了保證有足夠的分辨率 ， 樣品處于極低的溫度下 ， 由樣品致冷劑冷卻 ， 溫度在幾十到 100K， 針尖的半徑一般在 20～200nm， 分辨率可達(dá) 。
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