exafs原理及其在玻璃結(jié)構(gòu)分析中的應(yīng)用exafs-擴(kuò)展x射線精細(xì)結(jié)構(gòu)譜精品學(xué)習(xí)課件-資料下載頁
2025-01-19 09:23本頁面
【正文】 四方相 ZnF2中 Zn的第一配位殼層在R空間的擬合 玻璃樣品 中 Zn的第一配位殼層在R空間的擬合 晶化后樣品 中 Zn的第一配位殼層在 R空間的擬合 ZnF2晶體的第一配位殼層與理論曲線符合的很好；而晶化前后玻璃樣品第一配位殼層的峰值則比理論值更偏向的低 R方向，表明配位原子的分布不再符合 Gaussian型，結(jié)構(gòu)的無序度更大 傅立葉濾波處理后對(duì) 四方相 ZnF2中 Zn的第一配位殼層在 k空間的擬合 傅立葉濾波處理后對(duì) 晶化樣品 中 Zn的第一配位殼層在 k空間的擬合 傅立葉濾波處理后對(duì) 玻璃樣品 中 Zn的第一配位殼層在 k空間的擬合 S02為振幅衰減因子， R1和 R2為配位半徑（分別對(duì)應(yīng)于第一配位殼層中的 F1和 F2）， σ為無序因子（是熱無序和結(jié)構(gòu)無序共同作用的結(jié)果）。 EXAFS的測(cè)量方法和實(shí)驗(yàn)設(shè)備 EXAFS中有用的信息 ??只相對(duì)于吸收邊高度的百分之幾，因而要求有盡量 強(qiáng)而穩(wěn)定 的 X射線源，以得到比較高的信噪比，對(duì) 能量分辨率 也有相當(dāng)高的要求 幾種 EXAFS的測(cè)量方法 直接法：透射方法 間接方法： X射線熒光或俄歇電子或二次電子 透射法 熒光法 透過率 俄歇電子或熒光產(chǎn)額 同步輻射 X射線吸收譜實(shí)驗(yàn)裝置 樣品的制備 塊狀、粉末、和液體樣品也可測(cè)量熒光 液體樣品：用帶有窗口的器皿裝 金屬樣品：制成薄膜 粉末樣品：膠帶上 參考文獻(xiàn) [1] 馬禮敦，楊福家 .同步輻射應(yīng)用概論 .北京：復(fù)旦大學(xué)出版社， 2022 [2] 陸棟等 .固體物理學(xué) ,上海：上海科學(xué)技術(shù)出版社， 2022 [3]李志國(guó)，氟化鎵銦基玻璃析晶機(jī)理、結(jié)構(gòu)等性能的研究，同濟(jì)大學(xué)碩士學(xué)位論文，2022 [4] 馬禮敦，高等結(jié)構(gòu)分析，上海：復(fù)旦大學(xué)出版社， 2022
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