【正文】 請 判定 過 程是否 穩(wěn) 定？如果不 穩(wěn) 定 該 如何 處 理？ 某公司為控制某型號產(chǎn)品的長度尺寸（規(guī)格為60177。 5），每 2小時(shí)取樣五個(gè)作測量，數(shù)據(jù)如下所示 ： 101 2 01 006 36 26 16 05 95 85 7S u b g r o u pMeansX = 5 9 . 9 03 . 0 S L = 6 2 . 5 6 3 . 0 S L = 5 7 . 2 51 050RangesR = 4 . 6 1 03 . 0 S L = 9 . 7 4 8 3 . 0 S L = 0 . 0 0 0X b a r / R C h a r t f o r 長 度102 Ｄ階段 過程能力解釋 D計(jì) 算 過 程的 標(biāo)準(zhǔn) 偏差 ； D計(jì) 算 過 程能力 ； D評價(jià)過 程能力 ； D 提高 過 程能力 ； D對 修改的 過 程 繪 制控制 圖并 分析 。 步 驟 D： 103 D計(jì) 算 過 程的 標(biāo)準(zhǔn) 偏差 ： ? 使用平均極差 Rbar來估計(jì)過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差： ? d2是 隨樣本容量變化的常數(shù)，見附錄《 控制圖的常數(shù)和公式表 》 。 2?dR=?104 D計(jì) 算 過 程能力 ： ? 過程能力 是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值與規(guī)范界限的距離，用 Z表示； ? 對單邊公差，計(jì)算： ? 對于雙向公差，計(jì)算： ? Z為 ZUSL或 ZLSL的最小值。 X USL Z = ? 或 Z = X LSL ? X USL ZUSL = ? 或 ZLSL = X LSL ? ? 使用 Z值和附錄 《 標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表 》 來估計(jì)多少比例的產(chǎn)品會超出規(guī)范值： ?注： USL為公差上限或 LSL為公差下限。 105 課堂練習(xí)： ? 請 依 照 上 個(gè)課堂練習(xí) 的 數(shù)據(jù) ， 計(jì) 算下列的各 項(xiàng) 指 標(biāo)結(jié) 果 ： ? ZUSL和 PZUSL； ? ZLSL和 PZLSL； ? Z和 PZ。 106 過程偏移系數(shù) K： K= x u （ USLLSL） / 2 X為質(zhì)量特性平均值； U為公差（規(guī)格）中心值； 107 過程能力指數(shù) CP： 內(nèi)變差只考慮到固定變差或組單邊規(guī)格下規(guī)格界限單邊規(guī)格上規(guī)格界限雙邊規(guī)格2?)(?3)(?3)(?6dRL S LXCXU S LCL S LU S LCppp====????108 pk C 過程能力指數(shù) 2??3?3),m i n (dRSxCxSCCCClplupuplpupk====???109 過程性能指數(shù) Ppk： 及組間變差都考慮進(jìn)去內(nèi)變差制程積效所表達(dá)的是組1)(??3?3),m i n (12====?=nxxSxPxSPPPPniilplupuplpupk???110 課堂練習(xí)： ? 請 依 照 上 個(gè)課堂練習(xí) 的 數(shù)據(jù) ， 計(jì) 算下列的各 項(xiàng) 指 標(biāo)結(jié) 果 ： ? Ca； ? Cp； ? Cpk； ? Ppk。 111 6 56 36 15 95 75 5U p p e r S p e cL o w e r S p e csM e a n 3 sM e a n + 3 sM e a nnkL S LU S LT a r gC p mC p kC P LC P UC pS h o r t T e r m C a p a b i l i t y 06 6 6 5 05 0 7 50 . 0 00 . 6 70 . 0 00 . 5 1 O b sP P M L S L E x p O b sP P M U S L E x p O b s % L S L E x p O b s % U S L E x p 1 . 9 8 1 95 3 . 9 5 9 26 5 . 8 5 0 85 9 . 9 0 5 01 0 0 . 0 0 0 0 . 0 1 9 5 5 . 0 0 0 6 5 . 0 0 0 * *0 . 8 20 . 8 20 . 8 60 . 8 4P r o c e s s C a p a b i l i t y A n a l y s i s f o r 長 度112 6 56 36 15 95 75 5U p p e r S p e cL o w e r S p e csM e a n 3 sM e a n + 3 sM e a nnkL S LU S LT a r gC p mP p kP P LP P UP pL o n g T e r m C a p a b i l i t y 07 7 4 2 05 9 5 80 . 0 00 . 7 70 . 0 00 . 6 0 O b sP P M L S L E x p O b sP P M U S L E x p O b s % L S L E x p O b s % U S L E x p 2 . 0 2 6 25 3 . 8 2 6 56 5 . 9 8 3 55 9 . 9 0 5 01 0 0 . 0 0 0 0 . 0 1 9 5 5 . 0 0 0 6 5 . 0 0 0 * *0 . 8 10 . 8 10 . 8 40 . 8 2P r o c e s s C a p a b i l i t y A n a l y s i s f o r 長 度113 建立不合格品率 控制 圖 （ Pchart） 的 步驟： A、 收集 數(shù)據(jù) B、計(jì) 算控制限 C、過 程控制解 釋 D、過 程能力解 釋 114 步 驟 A： Ａ 階段 收集數(shù)據(jù) A選擇 子 組 的容量、 頻 率及 數(shù) 量 ； 子 組 容量 分 組頻 率 子 組數(shù) 量 A計(jì) 算每 個(gè) 子 組 內(nèi)的不合格品率 ； A選擇 控 制圖的 坐 標(biāo) 刻度 ； A將 不合格品率描 繪 在控制 圖上。 115 A選擇 子 組 的容量、 頻 率及 數(shù) 量 ? 子 組 容量 ： ? 用 于計(jì)數(shù) 型 數(shù)據(jù) 的控制 圖 一般要求 較 大的子 組 容量 (例如 50～ 200)以便 檢驗(yàn) 出性能的 變化，一般希望每 組 內(nèi)能包括 幾個(gè) 不合格品，但樣 本 數(shù) 如果太 大 也 會 有不利之 處； ? 分 組頻 率 ： ? 應(yīng) 根 據(jù)產(chǎn) 品的 周 期 確 定分 組 的 頻 率以便 幫 助分析和 糾 正 發(fā)現(xiàn) 的 問題 。 時(shí)間隔 短 則 反 饋 快，但 與大 的子 組 容量的要求矛盾 ； ? 子 組數(shù) 量 ： ? 要大 于 等 于 25組 以上，才能判定其 穩(wěn)定 性。 116 A計(jì) 算每 個(gè) 子 組 內(nèi)的不合格品率 ? 記錄 每 個(gè)樣本組 的下列值 ： ? 被檢項(xiàng) 目的 數(shù) 量 ─ n ? 發(fā)現(xiàn) 的不合格 項(xiàng) 目的 數(shù) 量 ─ np ? 通 過這 些 數(shù)據(jù)計(jì) 算不合格品率 ： nnpndp ==117 A選擇 控 制圖的 坐 標(biāo) 刻度 ? 描 繪數(shù)據(jù)點(diǎn) 用的 圖應(yīng)將 不合格品率作 為縱坐標(biāo) ，子 組識 別 （小時(shí)、天等） 作 為橫 坐 標(biāo) 。 縱 坐 標(biāo) 刻度應(yīng)從 0到初步研究 數(shù)據(jù)讀數(shù) 中最大的不合格率值的 2倍。 劃圖區(qū)域 A將 不合格品率描 繪 在控制 圖 上 ? 將每個(gè)樣本組的不合格品率 P描繪在 控 制圖上；依次用直線連接，將這 些 點(diǎn)聯(lián) 成 線 通常有助 于發(fā)現(xiàn)異 常 圖 形和 趨勢；當(dāng)點(diǎn) 描完 后 ，粗 覽 一遍看看它 們 是否合理，如果任意一 點(diǎn) 比別的高出或低出 許多 ， 檢 查 計(jì) 算是否正 確； 記錄過 程的 變 化或者可能影 響過 程的 異 常 狀 況， 當(dāng)這 些情 況 被發(fā)現(xiàn)時(shí) ， 將 它 們記錄 在控制 圖 的 “ 備注 ” 部 分 。 118 Ｂ階段 計(jì)算控制限 B計(jì)算過 程平均不合格品率 ； B計(jì) 算上、下控制限 ； B畫線并標(biāo)注。 步驟 B： 119 n p p p LCL n p p p UCL p CL n n n d d d n n n p n p n p n p p p p k k k k k ) 1 ( 3 ) 1 ( 3 .... ...... .... .... 2 1 2 1 2 1 2 2 1 1 = + = = + + + + + + = + + + + + + = 中心線和控制限： 計(jì) 算 過程 平均不合格率 和上、下 控制限 120 畫線并標(biāo)注： ? 均值用 黑色 水平 實(shí)線 ； ? 控制限用 紅色 水平 虛線 ； ? 在初始研究階段，這些應(yīng)作為試驗(yàn)控制限。 ? 盡 量 讓樣 本 數(shù) 一致，如果 樣本數(shù) 一直在 變 化 ，會 如下 圖 ： 2 3 2 1 2 1 2 1 2 1 100 300 200 100 100 200 100 300 200 100 121 1 098765432100 . 0 40 . 0 30 . 0 20 . 0 10 . 0 0S a m p l e N u m b e rProportionP C h a r t f o r C 2P = 0 . 0 1 0 0 03 . 0 S L = 0 . 0 3 9 8 5 3 . 0 S L = 0 . 0 0 0122 ? 在實(shí)際應(yīng)用時(shí)，當(dāng)各樣本組容量與其平均值相差不超過 正負(fù) 25%時(shí)，可用平均樣本容量（ n）來計(jì)算控制限，當(dāng)樣本組容量的變化超過上述值時(shí)，則要求單獨(dú)計(jì)算這些特別小或特別大樣本時(shí)期內(nèi)的控制限。 ? 注意：任何處理可變控制限的程序都會變得麻煩，并且可能使解釋控制圖的人員造成混淆。如果可能的話，最好是調(diào)整數(shù)據(jù)收集計(jì)劃，從而使用固定的樣本容量。 123 Ｃ階段 過程控制用控制圖解釋 C 分析 數(shù)據(jù)點(diǎn) ，找出不 穩(wěn) 定 證據(jù)； C尋 找 并糾 正特殊原因 ； C 重新 計(jì) 算控制界限 。 超出控制限的 點(diǎn)； 鏈； 明 顯 的非 隨機(jī)圖 形 。 建立 p圖 的步 驟 C 124 C尋 找 并糾 正特殊原因 ? 當(dāng)從數(shù)據(jù) 中已 發(fā)現(xiàn) 了失控的情況 時(shí) ， 則 必 須 研究操作 過程以便 確定 其原因。然 后糾 正 該 原因 并盡 可能防止其再 發(fā) 生。由 于 特殊原因是通 過 控制 圖發(fā)現(xiàn) 的，要求 對 操作 進(jìn) 行分析，希望 操作者或 現(xiàn)場檢驗(yàn)員 有能力 發(fā)現(xiàn)變 差原因 并糾 正?？衫?諸 如排列 圖和 因果分析 圖 等 解決問題技術(shù) 。 C 重新 計(jì) 算控制界限 ? 當(dāng)進(jìn) 行初始 過 程研究或 對過 程能力重新 評價(jià)時(shí) ， 應(yīng)計(jì)算 試驗(yàn) 控制限 ； ? 一旦 控制圖穩(wěn)定和受控并且過程能力可接受 ， 則 可將 控制限延伸到 將來 的 時(shí) 期。它 們 便 變 成了 操作控制限 ，控制圖則成為 管理用控制圖 。 125 Ｄ階段 過程能力解釋 D計(jì) 算 過程 能力 ； D評價(jià)過 程能力 ； D改進(jìn)過 程能力 ； D繪 制 并 分析修改 后 的 過 程控制 圖。 建立 p圖 的 步驟 D 126 D計(jì) 算 過程 能力 ? 對于 p圖 ， 過 程能 力 是通 過工序 平均不 合格品 率 P來 表 示 ， 當(dāng) 所有 點(diǎn) 都受控 后 才 計(jì) 算 該值。如需要， 還 可以用符合 規(guī)范 的比例 (1P)來 表示。 ? 對于過 程能力的初步估 計(jì) 值， 應(yīng) 使用 歷史數(shù)