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正文內(nèi)容

原子發(fā)射光譜法(1)-資料下載頁

2025-05-12 17:52本頁面
  

【正文】 若內(nèi)標(biāo)元素與被測元素的電離電位相近,分析線對激發(fā)電位也相近,這樣的分析線對稱為“ 均勻線對 ”。 ⑤ 分析線對波長應(yīng)盡可能接近。 分析線對兩條譜線應(yīng)沒有自吸或自吸很小,并不受其它譜線的干擾。 ⑥ 內(nèi)標(biāo)元素含量一定的。 ( 1)標(biāo)準(zhǔn)曲線法 在確定的分析條件下,用 三個或三 個以上含有不同濃度被測元素的標(biāo)準(zhǔn)樣品與試樣在相同的條件下激發(fā)光譜,以 分析線強(qiáng)度 I或內(nèi)標(biāo)分析線對強(qiáng)度比 R或 lgR對濃度 c或 lgc做校準(zhǔn)曲線 。再由校準(zhǔn)曲線求得試樣被測元素含量。 ①攝譜法 將標(biāo)準(zhǔn)樣品與試樣在同一塊感光板上攝譜,求出一系列黑度值,由乳劑特征曲線,求出未知元素含量。 分析線與內(nèi)標(biāo)線的黑度都落在感光板正常曝光部分,可直接用分析線對黑度差 △ S與 lgc建立校準(zhǔn)曲線。選用的分析線對波長比較靠近,此分析線對所在的感光板部位乳劑特征相同。 若分析線對黑度 S1, 內(nèi)標(biāo)線黑度 S2, 則 S1 = ?1lgH1 – i1 = ?1 lgI1 – i 1 S2 = ?2lgH2 – i2 = ?2 lgI2 – i 2 因分析線對所在部位乳劑特征基本相同,故 ?1 = ?2 = ? i1 = i2 = i 因此黑度差 △ S = S1 –S2 = ? ( lgI1 lgI2 ) = ?lgI1 / I2 =?lgR △ S = ?blgc + ?lga 上式為 攝譜法定量分析內(nèi)標(biāo)法的基本關(guān)系式 。 △ S = ?blgc + ?lga 分析線對黑度值都落在乳劑特征曲線直線部分,分析線與內(nèi)標(biāo)線黑度差△ S 與被測元素濃度的對數(shù) lgc呈線性關(guān)系。 ②光電直讀法 ICP光源穩(wěn)定性好, 一般可以不用內(nèi)標(biāo)法 ,但由于有時(shí)試液粘度等有差異而引起試樣導(dǎo)入不穩(wěn)定,也采用內(nèi)標(biāo)法。 ICP光電直讀光譜儀商品儀器上帶有內(nèi)標(biāo)通道,可自動進(jìn)行內(nèi)標(biāo)法測定。 光電直讀法中,在相同條件下激發(fā)試樣與標(biāo)樣的光譜,測量標(biāo)準(zhǔn)樣品的電壓值 U和 Ur, U和 Ur分別為分析線和內(nèi)標(biāo)線的電壓值;再繪制 lgUlgc或 lg( U/Ur ) lgc校準(zhǔn)曲線 ;最后,求出試樣中被測元素的含量。 ( 2)標(biāo)準(zhǔn)加入法 當(dāng)測定低含量元素時(shí), 找不到合適的基體來配制標(biāo)準(zhǔn)試樣時(shí) ,一般采用標(biāo)準(zhǔn)加入法。 設(shè)試樣中被測元素含量為 Cx ,在幾份試樣中分別加入不同濃度 C C2 、 C3 ? 的被測元素;在同一實(shí)驗(yàn)條件下,激發(fā)光譜,然后測量試樣與不同加入量樣品分析線對的強(qiáng)度比 R。 在被測元素濃度低時(shí),自吸系數(shù) b = 1,分析線對強(qiáng)度 R?c, Rc圖為一直線,將直線外推,與橫坐標(biāo)相交截距的絕對值即為試樣中待測元素含量 Cx 。 lgR = blgc + lg a 光譜背景 是指在線狀光譜上,疊加著由于 連續(xù)光譜 和 分子帶狀光譜等所造成的譜線強(qiáng)度(攝譜法為黑度)。 ( 1)光譜背景來源 a. 分子輻射 在光源作用下,試樣與空氣作用生成的分子氧化物、氮化物等分子發(fā)射的帶狀光譜。如 CN, SiO、 AlO等分子化合物解離能很高,在電弧高溫中發(fā)射分子光譜。 b. 連續(xù)輻射 在經(jīng)典光源中熾熱的電極頭,或蒸發(fā)過程中被帶到弧焰中去的固體質(zhì)點(diǎn)等熾熱的固體發(fā)射的連續(xù)光譜。 c. 譜線的擴(kuò)散 分析線附近有其它元素的強(qiáng)擴(kuò)散性譜線(即譜線寬度較大),如 Zn、 Sb、Pb、 Bi、 Mg等元素含量較高時(shí),會有很強(qiáng)的擴(kuò)散線。 景 。這種連續(xù)背景都隨電子密度的增大而增大,是造成 ICP光源連續(xù)背景輻射的重要原因,火花光源中這種背景也較強(qiáng) 。 雜散光 也造成不同程度的背景。 雜散光 是指由于光譜儀光學(xué)系統(tǒng)對輻射的散射,使其通過非預(yù)定途徑,而直接達(dá)到檢測器的任何所不希望的輻射。 ( 2)背景的扣除 攝譜法 測出背景的黑度 SB,然后測出被測元素譜線黑度為分析線與背景相加的黑度 S(L+B)。由乳劑特征曲線查出 lgI(L+B) 與 lgIB , 再 計(jì)算出 I(L+B) 與 IB ,兩者相減,即可得出 IL,同樣方法可得出內(nèi)標(biāo)線譜線強(qiáng)度 I(IS) 。 注意: 背景的扣除不能用黑度直接相減,必須用譜線強(qiáng)度相減。 光電直讀光譜儀 由于光電直讀光譜儀檢測器將譜線強(qiáng)度積分的同時(shí)也將背景積分,因此需要扣除背景。 ICP光電直讀光譜儀中都帶有自動校正背景的裝置。 ( 1)光譜儀 一般多采用中型光譜儀,但對譜線復(fù)雜的元素(如稀土元素等)則需選用色散率大的大型光譜儀。 ( 2)光源 可根據(jù)被測元素的含量、元素的特征及分析要求等選擇合適的光源。 ( 3)狹縫 在定量分析中,為了減少由乳劑不均勻所引入的誤差,宜使用較寬的狹縫,一般可達(dá) 20?m 。 ( 4)內(nèi)標(biāo)元素和內(nèi)標(biāo)線 ( 5)光譜緩沖劑 試樣組份影響弧焰溫度,弧焰溫度又直接影響待測元素的譜線強(qiáng)度。這種由于其它元素存在而影響待測元素譜線強(qiáng)度的作用稱為 第三元素的影響 。對于成分復(fù)雜的樣品,第三元素的影響往往非常顯著,并引起較大的分析誤差。 為了減少試樣成分對弧焰溫度的影響,使弧焰溫度穩(wěn)定,試樣中加入一種或幾種輔助物質(zhì),用來抵償試樣組成變化的影響,這種物質(zhì)稱為 光譜緩沖劑 。 常用的緩沖劑有: 堿金屬鹽類 用作揮發(fā)元素的緩沖劑; 堿土金屬鹽類 用作中等揮發(fā)元素的緩沖劑, 碳粉 也是緩沖劑常見的組份。 此外,緩沖劑還可以稀釋試樣,這樣可減少試樣與標(biāo)樣在組成及性質(zhì)上的差別。在礦石光譜分析中,緩沖劑的作用是不可忽視的。 ( 6)光譜載體 進(jìn)行光譜定量分析時(shí), 在樣品中加入一些有利于分析的高純度物質(zhì)稱為 光譜載體 。它們多為一些化合物、鹽類、碳粉等。載體的作用 主要是增加譜線強(qiáng)度,提高分析的靈敏度,并且提高準(zhǔn)確度和消除干擾等。 ①控制試樣中的蒸發(fā)行為 通過化學(xué)反應(yīng),使試樣中被分析元素從難揮發(fā)性化合物(主要是氧化物)轉(zhuǎn)化為低沸點(diǎn),易揮發(fā)的化合物,使其提前蒸發(fā),提高分析的靈敏度。 載體量大可控制電極溫度,從而控制試樣中元素的蒸發(fā)行為并可改變基體效應(yīng)。 基體效應(yīng) 是指試樣組成和結(jié)構(gòu)對譜線強(qiáng)度的影響,或稱元素間的影響。 ②穩(wěn)定與控制電弧溫度 電弧溫度由電弧中電離電位低的元素控制,可選擇適當(dāng)?shù)妮d體,以穩(wěn)定與控制電弧溫度,從而得到對被測元素有利的激發(fā)條件。 ③ 電弧等離子區(qū)中大量載體原子蒸氣的存在,阻礙了被測元素在等離子區(qū)中自由運(yùn)動范圍,增加它們在電弧中的停留時(shí)間,提高譜線強(qiáng)度。 ④ 穩(wěn)定電弧,減少直流電弧的漂移,提高分析的準(zhǔn)確度 金冊網(wǎng)( ) 152 此文檔由 (您的第三方檢測信息專家)提供。 若想獲得更多資料,敬請?jiān)L問
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