afm講稿(編輯修改稿)
2024-11-17 03:37 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 就會(huì)移動(dòng)。垂直方向的力會(huì)導(dǎo)致光斑向上或向下移動(dòng)，橫向力會(huì)導(dǎo)致光斑橫向移動(dòng)。 垂直或者橫向力可以下面的公式得出 IZ=(I1+I2)(I3+I4) IL=(I1+I4)(I2+I3) 垂直和橫向力是同時(shí)得到的，垂直方向的力IZ是被當(dāng)做AFM反饋回路的輸入?yún)?shù)的。,第十七頁，共三十九頁。,AFM對(duì)樣品掃描的精確控制是靠掃描器來實(shí)現(xiàn)的．掃描器中裝有壓電轉(zhuǎn)換器．壓電裝置在X，Y，Z三個(gè)方向上精確控制樣品或探針位置。目前構(gòu)成掃描器的基質(zhì)材料主要是鈦鋯酸鉛[Pb(Ti,Zr)O3]制成的壓電陶瓷材料．壓電陶瓷有壓電效應(yīng)，即在加電壓時(shí)有收縮特性，并且收縮的程度與所加電壓成比例關(guān)系．壓電陶瓷能將1mv~1000V的電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換成十幾分之一納米到幾微米的位移。,第十八頁，共三十九頁。,Dimension SPM Head,激光瞄準(zhǔn)螺絲,激光反射鏡,反光鏡調(diào)節(jié)螺絲,主透鏡,壓電管掃描器,跟蹤鏡頭,可移動(dòng)懸臂支架,可調(diào)探測器鏡,第十九頁，共三十九頁。,Contact Mode AFM,Operation can take place in ambient and liquid environments.,第二十頁，共三十九頁。,Contact Mode AFM,接觸模式可以分為兩種模式：恒高模式和恒力模式 在恒高模式中，探針在樣品表面以恒定的高度在移動(dòng)，懸臂的彎曲ΔZ，正比于相互作用力，這種彎曲被測量并用來生成AFM圖像 .,第二十一頁，共三十九頁。,Contact Mode AFM,接觸模式可以分為兩種模式：恒高模式和恒力模式 在恒力模式中，反饋系統(tǒng)使懸臂產(chǎn)生固定的彎曲，這樣反饋系統(tǒng)中的控制電壓，即加在探頭Z電極上的電壓，被測量并生成表面形貌圖。,第二十二頁，共三十九頁。,Contact Mode AFM,接觸模式中所用探針懸臂的彈性系數(shù)k比較小，這樣能提供更高的靈敏度并能表面對(duì)樣品表面造成影響。接觸模式很容易操作，但不適用于較軟的樣品和有機(jī)或生物材料，因?yàn)橹苯咏佑|會(huì)對(duì)樣品造成損傷。,第二十三頁，共三十九頁。,Noncontact mode Mode AFM,在非接觸模式中，這件和樣品之間的距離在幾十到幾百個(gè)197。之間。由于針尖和樣品之間的總的力在非接觸區(qū)域非常小，
環(huán)評(píng)公示相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1