某科技公司反滲透系統(tǒng)故障診斷(編輯修改稿)
2025-03-18 13:39 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 膜元件 考察膜元件氧化、污染等。u 壓力容器末端膜元件 考察膜元件結(jié)垢等。u 其它性能明顯下降及外觀遭受破壞的膜元件u 不能肯定故障所在時(shí)，首端及末端膜元件都采樣分析u 進(jìn)行污染物清洗試驗(yàn)時(shí)，選取相連或并聯(lián)膜元件進(jìn)行對(duì)比觀察 21膜元件檢測(cè)方法 (Method for Elements Test)u 探針測(cè)試 Pressure vessel probing testu 真空度下降測(cè)試 Vacuum decay testu 膜元件及膜片標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試 Performance test under standard test condition for elements and couponsu 離子分離性能測(cè)試 Rejection test for ionic chargeu 膜元件解體分析 Autopsy analysis for elements u 染色測(cè)試 Dying testu 吡啶顯色實(shí)驗(yàn) Color charge test for PA dip in pyridine solution u 污染物分析及化學(xué)清洗試驗(yàn) Fouling analysis and cleaning experiment 22現(xiàn)代分析方法在膜技術(shù)中的應(yīng)用(Application of Modern Analytic Techniques in Membrane Technology)u 光學(xué)顯微鏡法 light microscope techniqueu 掃描電子顯微鏡法 SEM/TEM techniqueu 能量色散 X射線法 EDX techniqueu 紅外光譜法 FTIR techniqueu ICP分析 ICP technique23定位泄漏點(diǎn)－探針測(cè)試 Ⅰ (ProbingⅠ ) 使用軟管插入壓力容器進(jìn)行探針技術(shù)測(cè)定產(chǎn)水電導(dǎo)率可以定位壓力容器內(nèi)膜元件的泄漏點(diǎn)。 A flexible tube is inserted through the permeate port of a vessel to measure the permeate concentration at known intervals through the vessel.u 對(duì)高透鹽率的壓力容器進(jìn)行探針實(shí)驗(yàn)。 Performed on vessels identified by the pressure vessel profile.u 定位膜元件或 “O” 型圈等為高透鹽率源。 Locates the elements or orings which are the source of high salt passage. u 所需工具： 1/4英寸軟管、手持式電導(dǎo)率儀、盛水容器、中心管堵頭等。 Tools:1/4 plastic tube, handy EC meter, container etc.24壓力容器探針測(cè)試 Ⅱ (Pressure Vessel ProbingⅡ )32cm 32cmSampling pointsHandy EC Meter88Permeate Maine Line電導(dǎo)率(conductivity)End cap/adaptor problemInterconnector problemNormal25壓力容器探針測(cè)試?yán)?Ⅲ (Probing Sample Ⅲ )電導(dǎo)率出現(xiàn)躍變u 當(dāng)然，我們也可以對(duì)單支膜元件進(jìn)行探針測(cè)試確定膜元件哪個(gè)部位出現(xiàn)泄漏，在很多情況下這也是非常重要及有效的方法。比如受背壓破壞的膜元件產(chǎn)水端的透鹽率一般高于進(jìn)水端的透鹽率。 Absolutely, we also can use probing to testify there is leakage for a single element or not and locate which point maybe leak, which is very important and efficient way for checking back pressure damage.n 膜元件泄漏點(diǎn)l 正常膜元件26真空度下降測(cè)試 (Vacuum Decay Test) 用于判斷膜元件發(fā)生高透鹽率，可用于單元件及壓力容器的檢查。用真空度下降速率判斷膜元件機(jī)械完整性及是否發(fā)生泄漏。未受泄漏的膜元件可以維持一定的真空度。此方法可以用于化學(xué)損傷及機(jī)械泄漏的區(qū)別。步驟如下：u 排干膜元件內(nèi)積水，用塞子把膜元件一端中心管堵住；u 將產(chǎn)水中心管一端連接到真空表和真空泵上；u 將膜元件置于 100~300mbar的絕對(duì)壓力下；u 關(guān)閉隔斷閥且觀察真空表上的讀數(shù)，當(dāng)真空度快速下降（每分鐘大于100mbar)時(shí)，說(shuō)明膜元件有泄露的嫌疑；u 撤卸連接管路，釋放真空度；u 多次重復(fù)測(cè)試。壓力容器真空度下降測(cè)試與膜元件真空度下降測(cè)試相同。膜元件或壓力容器真空泵堵頭27膜元件性能標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試(Performance Test under Standard Test Condition for Elements)u 為了正確評(píng)估膜元件及膜片性能，在一定標(biāo)準(zhǔn)條件下（ TDS、溫度、壓力、濃度、 pH、濃水流量），膜元件及膜片運(yùn)行一定時(shí)間后，測(cè)定脫鹽率和產(chǎn)水通量；u 不同類型膜元件及膜片具有不同的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件；u 將以上結(jié)果對(duì)照該類型膜元件及膜片的標(biāo)準(zhǔn)性能參數(shù)，判斷膜元件損壞的程度。u 脫鹽率換算為 TDS計(jì)算u 原水為進(jìn)水濃度和濃水濃度的平均值，計(jì)算公式如下： 28平板膜片性能測(cè)試(Performance Test under Standard Test Condition for Coupons)u 從解體后的膜元件中取下具有代表性的膜頁(yè)；u 從選定的膜頁(yè)特定位置取樣裁剪膜片；u 在測(cè)定膜片性能之前最好把膜片放入純水中浸泡 1030分鐘；u 將裁剪的膜片放入膜池中，在標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件下穩(wěn)定運(yùn)行 12小時(shí)，然后對(duì)所測(cè)膜片運(yùn)行 3060分鐘取水樣分析脫鹽率和產(chǎn)水通量；u 將所得的數(shù)據(jù)對(duì)比新膜標(biāo)準(zhǔn)條件下的性能參數(shù)，分析性能的變化。產(chǎn)水中心管3 19584進(jìn)水 濃水29離子分離性能測(cè)試 Ⅰ(Rejection Test for Ionic ChargeⅠ)所謂離子分離性能，就是膜對(duì)不同價(jià)態(tài)離子的截留率。一般來(lái)說(shuō)，聚酰胺反滲透膜對(duì)二價(jià)離子的脫除率大于一價(jià)離子。在相同的測(cè)試條件下，當(dāng)膜片發(fā)生機(jī)械泄漏及化學(xué)破壞時(shí)，其對(duì)不同價(jià)態(tài)離子的截留趨勢(shì)與正常膜片是不同的，因此可以用來(lái)判斷機(jī)械泄漏及化學(xué)破壞（如
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