【文章內(nèi)容簡介】 ◆ 如果僅存在變差的 普通原因，隨著時間 的推移，過程的輸出 形成一個穩(wěn)定的分布 并可預測。 ◆ 如果存在變差的特 殊原因，隨著時間的 推移，過程的輸出不 穩(wěn)定。 范圍 范圍 目標值線 預測 預測 目標值線 時間 時間 40 SPC統(tǒng)計制程管制 三、持續(xù)改進及 SPC概述 局部措施和對系統(tǒng)采取措施 ◆ 局部措施 通常用來消除變差的特殊原因通常由與過程直接相 關的人員實施通?？杉m正大約 15%的過程問題 ◆ 對系統(tǒng)采取措施 通常用來消除變差的普通原因幾乎總是要求管理措 施，以便糾正大約可糾正 85%的過程問題 41 SPC統(tǒng)計制程管制 三、持續(xù)改進及 SPC概述 過程控制及過程能力 1 ◆ 過程控制 范圍 不受控 (存在特殊原因 ) 受控 (消除了特殊原因 ) 時間 42 SPC統(tǒng)計制程管制 三、持續(xù)改進及 SPC概述 過程控制及過程能力 2 ◆ 過程能力 范圍 受控但沒有能力符合規(guī)范 (普通原因造成的變差太大 ) 受控且有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差已減少） 時間 規(guī)范下限 規(guī)范上限 43 SPC統(tǒng)計制程管制 三、持續(xù)改進及 SPC概述 過程改進循環(huán) ◆ 分析過程 本過程該做什么？ 會出現(xiàn)什么錯誤？ 本過程正在做什么？ 達到統(tǒng)計控制狀態(tài)？ 確定能力 P A C D C A D C A D P P ◆ 維護過程 監(jiān)視過程性能 查找過程變差的特殊原因并采取措施 ◆ 改進過程 改進過程從而更好地理解普通原因變差 減少普通原因變差 44 SPC統(tǒng)計制程管制 三、持續(xù)改進及 SPC概述 控制圖 1 控制上限 中心線 控制下限 ◆ 收集 收集數(shù)據(jù)并畫在圖上 ◆ 控制 根據(jù)過程數(shù)據(jù)計算實驗控制限識別變差的特殊原因并采取措施 ◆ 分析及改進 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施 重復這三個階段從而不斷改進過程 45 SPC統(tǒng)計制程管制 三、持續(xù)改進及 SPC概述 控制圖 2 ◆ 控制圖的益處： ● 供正在進行過程控制的操作者使用 ● 有助于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)地，可預測地保持下去 ● 使過程達到： ─ 更高的質(zhì)量 ─ 更低的單件成本 ─ 更高的有效能力 ● 為討論過程的性能提供共同的語言 ● 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南 46 SPC統(tǒng)計制程管制 四、管制圖的種類 計量型數(shù)據(jù) XR 均值和極差圖 計數(shù)型數(shù)據(jù) P chart 不良率管制圖 Xδ均值和標準差圖 nP chart 不良數(shù)管制圖 X med R 中位值極差圖 C chart 缺點數(shù)管制圖 XMR 單值移動極差圖 U chart 單位缺點數(shù)管制圖 47 SPC統(tǒng)計制程管制 五、管制圖的選擇方法 確定要制定控制圖的特性 是計量型數(shù)據(jù)嗎？ 關心的是不合格品率？ 關心的是不合格數(shù)嗎？ 樣本容量是否恒定？ 使用 np或 p圖 使用 p圖 樣本容量是否 桓 定？ 使用 c或 u圖 性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣 — 例如：化學槽液、批量油漆等？ 子組均值是否能很方便地計算？ 使用中 位數(shù)圖 使用單值圖XMR 是 使用 u圖 否 是 是 是 是 是 是 否 否 否 否 否 子組容量是否大于或等于 9？ 是否能方便地計算每個子組的 S值？ 使用 X— R圖 使用 X— R圖 使用 X— s圖 是 是 是 否 否 48 SPC統(tǒng)計制程管制 六、計數(shù)型數(shù)據(jù)管制圖 P圖 /不良率管制圖 1 ◆ P圖是用來測量在一批檢驗項目中不合格品（缺陷）項目的百分數(shù)。 ◆ 步驟： 1收集數(shù)據(jù)，選擇子組容量、頻率 和數(shù)量： 子組容量：需足夠大 (最好能恒定 )，并有包含幾個不合格品。 分組頻率：根據(jù)實際情況，兼容量大和信息反饋快的要求。 子組數(shù)量：收集的時間需足夠長，使得可以找到所有可能影響到過程 變差源，一般為 25組 2計算每個子組的不良率 (P)： P=np /n 3選擇控制圖的座標刻度并將不良率繪到圖上。 4計算管制界限： 計算過程不良率 (P bar): P bar=（ n1p1+n2p2+…+nkpk ） / (n1+n2+…+nk) 49 SPC統(tǒng)計制程管制 六、計數(shù)型數(shù)據(jù)管制圖 P圖 /不良率管制圖 2 計算控制上、下限 (P bar): nPPPLCLnPPPUC LPP)1(3)1(3??????注： 1從上述公式看出 ， 凡是各組容量不一樣 ， 控制限隨之變化 。 2在實際運用中 ， 當各組容量不超過其平均容量 25%時 ， 可用平均樣本 容量 n 代替 n來計算控制限 USL； LSL。 方法如下 ： A、 確定可能超出其平均值 177。 25%的樣本容量范圍。 B、 分別找出樣本容量超出該范圍的所有子組和沒有超出該范圍的子組。 C、 按上式分別計算樣本容量為 n 和 n 時的點的控制限 . UCL,LCL = P177。3 P (1– P )/n = P 177。 3 p ( 1– p)/n 50 SPC統(tǒng)計制程管制 六、計數(shù)型數(shù)據(jù)管制圖 P圖 /不良率管制圖 3 5劃線并標注 : 過程平均 （ P） 為水平實線 ， 控制限 （ USL； LSL） 為虛線 。 (初始研究時 ， 這些被認為是試驗控制限 。 ） 51 SPC統(tǒng)計制程管制 六、計數(shù)型數(shù)據(jù)管制圖 P圖 /不良率管制圖 4 練習：根據(jù)以下資料繪制一 P控制圖 spc 講義例 .xls 52 SPC統(tǒng)計制程管制 六、計數(shù)型數(shù)據(jù)管制圖 nP圖 /不合格品數(shù)管制圖 ◆ 采用時機： 不合格品的實際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報告。 各階段子組的樣本容量相同。 53 SPC統(tǒng)計制程管制 六、計數(shù)型數(shù)據(jù)管制圖 C圖 /不良 (缺陷 )數(shù)管制圖 ◆ 采用時機： C圖用來測量一個檢驗批內(nèi)的不合格（的缺陷）的數(shù)量， C圖 要求樣本的容量恒定或受檢驗材料的數(shù)量恒定，主要用于以下兩類檢驗： 1不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上（如：每條尼龍上的瑕疵，玻璃上的氣 泡或電線上絕緣層薄的點），以及可以用不合格的平均比率表示的地 方（如 100平方米上的缺陷） 2在單個的產(chǎn)品檢驗中可能發(fā)現(xiàn)不同原因造成的不合格。 54 SPC統(tǒng)計制程管制 六、計數(shù)型數(shù)據(jù)管制圖 u圖 /單位不良 (缺陷 )數(shù)管制圖 ◆ 采用時機： u圖用來測量具有不同的樣本（受檢材料的量不同）的子組內(nèi)每檢驗單 位產(chǎn)品之內(nèi)的不合格數(shù)量（可以用 不良率 表示）。 55 SPC統(tǒng)計制程管制 七、計量型數(shù)據(jù)管制圖 與過程相關的管制圖 1 過程 人員 方法 材料 環(huán)境 設備 1 2 3 4 5 6 計量單位： (mm, kg etc) 結果舉例 控制圖舉例 螺絲的外徑（ mm） 從基準面到孔的距離（ mm） 電阻（ Ω） 錫爐溫度（ 186。C ） 工程更改處理時間（ h） X圖 R圖 56 SPC統(tǒng)計制程管制 七、計量型數(shù)據(jù)管制圖 與過程相關的管制圖 2 不準確 不精密 測量方法必須保證始終產(chǎn)生準確和精密的結果 ? 準確 精密 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 57 SPC統(tǒng)計制程管制 七、計量型數(shù)據(jù)管制圖 控制圖的準備 ◆ 建立適合于實施的環(huán)境 排除阻礙人員公正的因素 提供相應的資源 管理者支持 ◆ 定義過程 根據(jù)加工過程和上下使用者之間的關系，分析每個階段的影響因素。 ◆ 確定待控制的特性。應考慮到： 顧客的需求 當前及潛在的問題區(qū)域 特性間的相互關系 ◆ 確定測量系統(tǒng) 規(guī)定檢測的人員、環(huán)境、方法、數(shù)量、頻率、設備或量具。 確保檢測設備或量具本身的準確性和精密性。 ◆ 使不必要的變差最小 確保過程按預定的方式運行。 確保輸入的材料符合要求。 恒定的控制設定值。 注：應在過程記錄表上記錄所有的相關事件，如：刀具更新，新的材料批次等，有利于下一步的過程分析。 58