質量管理常用工作方法概述(編輯修改稿)
2025-03-01 15:53 本頁面
【文章內容簡介】 Sigma)是統(tǒng)計學的用語 ,又叫 「 標準偏差 」 。 從母集團的中心值中個別值散布的程度 ,即表示散布的大小。 什么叫 ?水準？品質特性值是正態(tài)分布時 ,從平均值到規(guī)格界限為止距離相當于標準偏差幾倍的測度， Process散布越小， ?水準越大。 達成 Six Sigma， 跟摘樹頂端的水果是一樣的。越接近最佳階段難度越高。 因此 3 → 6 σ 。 19,600倍改善 2 → 3 σ : 5倍改善 3 → 4 σ : 10倍改善 4 → 5 σ : 27倍改善 5 → 6 σ : 70倍改善 3? 水準 4? Process 改善 掉在地上的果實 倫理于直觀 結矮的果實 7種基本工具 大部分水果 Process 特性化和最佳 化 最好吃的水果 5? 改善設計 6? 達成 Six Sigma Tree 第六節(jié) CPK 2 308,537 3 66,807 4 6,210 5 233 6 1. CPK： Complex Process Capability index 的縮寫 ,是現(xiàn)代企業(yè)用于表示制程能力的指標 .制程能力越強才越可能生產出高質量、可靠性高 ,讓客戶放心的產品 . 2. 制程能力指標是一種表示制程水平高低的方法 ,其實質作用是反映制程合格率的高低。 3. 制程能力的研究在于確認這些特性符合規(guī)格的程度 ,以保證制程成品的良率在要求的水準之上 ,可作為制程持續(xù)改善的依據(jù) .而規(guī)格依上下限有分成單邊規(guī)格及雙邊規(guī)格。 4. 單邊規(guī)格 :只有規(guī)格上限和規(guī)格中心或只有規(guī)格下限和規(guī)格中心的規(guī)格稱為單邊規(guī)格 . 5. 雙邊規(guī)格 :有規(guī)格上下限與中心值 ,而上下限與中心值對稱的規(guī)格稱為雙邊規(guī)格 . 6. 當我們的產品通過了 GRR的測試之后，我們即可開始 Cpk值的測試。 CPK基礎知識 2 308,537 3 66,807 4 6,210 5 233 6 CPK相關的專業(yè)術語 Ca:制程的準確度： 用來衡量「實際平均值」與「規(guī)格中心值」之一致性。對于單邊規(guī)格 ,因不存在規(guī)格中心 ,因此不存在 Ca。對於雙邊規(guī)格 ,Ca=(ˉxC)/(T/2)。 規(guī)格中心值與實際生產中心值的比值 ,一般此值為 0＜ Ca＜ 1,而且越小越好 ,Ca ＜ 宜。 Cp:制程精確度 :用來衡量「規(guī)格公差寬度」與「制程變異寬度」之比例。 對於單邊規(guī)格： 只有上限和中心值， Cpu = | USLˉx | / 3σ。 只有下限和中心值， Cpl = | ˉx LSL | / 3σ 。 對於雙邊規(guī)格： Cp=(USLLSL) / 6σ σ=R/d2 規(guī)格范圍與實際制程的控制規(guī)格范圍的比值 ,越大越好 ,Cp=(USLLSL)/6σ。 Cpk, Ca, Cp三者的關系 : Cpk = Cp * ( 1 |Ca|),Cpk是 Ca及 Cp兩者的中和反應 ,Ca反應的是位置關系 (集中趨勢 ),Cp反應的是散布關系 (離散趨勢 ) . 當選擇制程站別 Cpk來作管控時 ,應以成本做考量的首要因素 ,且考慮品質特性對后制程的影響度。 計算取樣數(shù)據(jù)至少應有 20~25組數(shù)據(jù)，方具有一定代表性。 PPK:制程績效指數(shù)，也叫性能指數(shù)，是一種綜合性指數(shù)（組內 +組間）： PPK=MIN（ USL， PPL） PPU=（ USLˉX） /3σ PPL=（ ˉXLSL） /3σ ， σ =√∑ （ X1ˉX） 2 /(n1) 2 308,537 3 66,807 4 6,210 5 233 6 Cpk—— 過程能力指數(shù) =（ 1Ca)*Cp= Min(CPL,CPU),CPK值越大表示品質越佳。 Cp=(USLLSL)/6S:Potential Process Capability Ratio CPU=CPKu =(USLMean)/3S=|USLˉx|/ 3 σ CPL=CPKl =(MeanLSL)/3S=|ˉx LSL|/ 3σ USL (Upper specification limit): 規(guī)格上限。 LSL (Low specification limit): 規(guī)格下限。 Mean(平均值 ),用 ˉx = (x1+x2+...+xn) / n : 平均值。 Std Dev(標準差 ):Standard Deviation ═ σ (Sigma) T =USL– LSL:規(guī)格公差， U =(USL+LSL)/ 2：規(guī)格中心。 Target Value(目標值 ) 相關專業(yè)術語 Cp定義 (Definition) Potential Process Capability Ratio(Cp) USL LSL Process Spread 6 S = LSL Spec Width USL Process Width = Cp ε TU TL T/2 Cpk定義 (Definition) Remark:當我們考量 Cp時 ,是假設 Spec之中心點 (Target Value)與實際制程能力曲線之中心點 (Mean)是一致的 . 這是一個理想情形 ,但實際上制程能力曲線是因某些制程條件而產生飄移(Target≠ Mean).所以會產生一個 Correlation factor(K). Process Capability Index(Cpk) Cpk Cp*(1k) = Mean Closer Spec limit 3 S
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