醫(yī)用x射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制培訓(xùn)教材(編輯修改稿)
2025-02-07 21:55 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 圖像傳感器，沒(méi)有攝像管，不用電子束掃描； ? 二是 CCD輸出的視頻信號(hào)中也有圖像信息、復(fù)位電平和干擾脈沖，它是一個(gè)電壓信號(hào)，而不象攝像管輸出的高阻電流信號(hào)。 目前國(guó)內(nèi) 主 要 CCDDR探測(cè)器技術(shù)參數(shù)說(shuō)明 探測(cè)器 KeenrayCCDDR探測(cè)器， 深圳藍(lán)韻研制 XDS3000探測(cè)器 萬(wàn)東研制 IDC 4K/3KCCD探測(cè)器 IDC研制 類型 針狀碘化銫 +非晶硅 硫氧化釓 +非晶硅 4K：針狀碘化銫 +非晶硅 3K：硫氧化釓 +非晶硅 影像尺寸 17″ 17″ 17″ 17″ 17″ 17″ 像素矩陣 4096 4096， 1680萬(wàn)像素 3072 3072， 940萬(wàn) 4K： 4096 4096， 1680萬(wàn)像素 3K： 3072 3072， 940萬(wàn) 像素尺寸 108um 143um 108um 極限空間分辨率 4K： 3K： 密度分辨率 65536灰階 16384灰階 16384灰階 動(dòng)態(tài)范圍 采集： 16比特 輸出： 16比特 采集： 12比特 輸出： 14比特 采集： 14比特 輸出： 14比特 圖像采集時(shí)間 6s 8s 8s 三、質(zhì)量控制 設(shè)備質(zhì)量控制檢測(cè)的分類 驗(yàn)收檢測(cè)： X射線診斷設(shè)備這裝完畢或重大維修后，為鑒定其性能指標(biāo)是否符合約定值需進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測(cè)。 狀態(tài)檢測(cè)： 在運(yùn)行中的設(shè)備，為評(píng)價(jià)其性能指標(biāo)是否符合要求而定期進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測(cè)。 穩(wěn)定性檢測(cè)： 為確定 X射線設(shè)備或在給定條件下獲得的數(shù)值相對(duì)于一個(gè)初始狀態(tài)的變化是否符合控制標(biāo)準(zhǔn)而進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測(cè)。 檢測(cè)及評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn) ? 《 醫(yī)用常規(guī) X射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制檢測(cè)規(guī)范 》（ WS762023） ? 《 醫(yī)用數(shù)字 X射線攝影（ DR）系統(tǒng)質(zhì)量控制檢測(cè)規(guī)范 》（ WS5212023） ——20231001實(shí)施 《 醫(yī)用常規(guī) X射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制檢測(cè)規(guī)范 》 ——替代 WS762023 WS762023的適用范圍 ? 本標(biāo)準(zhǔn)適用于醫(yī)用常規(guī) X射線診斷設(shè)備的質(zhì)量控制檢測(cè)，包括傳統(tǒng)屏片 X射線攝影設(shè)備、 X射線透視設(shè)備。數(shù)字 X射線攝影（ DR）通用性能指標(biāo)部分、介入放射學(xué)設(shè)備、移動(dòng)式 X射線攝影設(shè)備和便攜式 X射線設(shè)備可參照使用。 ? 不適用生產(chǎn)過(guò)程的質(zhì)量控制檢測(cè)。 常規(guī) X射線攝影設(shè)備的檢測(cè)項(xiàng)目與技術(shù)要求 常規(guī) X射線攝影設(shè)備的檢測(cè)項(xiàng)目與技術(shù)要求（續(xù)表） WS5212023 中對(duì)通用項(xiàng)目的要求 DR系統(tǒng)的通用檢測(cè)項(xiàng)目具體檢測(cè)方法 ? 管電壓 ? 輸出量重復(fù)性 ? 有用線束半值層 ? 曝光時(shí)間 X射線管電壓指示的偏離 ? 檢測(cè)方法：驗(yàn)收檢測(cè)時(shí)，在允許最大 X射線管電流的50%或多一些，加載時(shí)間約為 ，至少應(yīng)進(jìn)行 60kV、 80kV、 100kV 、 120kV或者電壓接近這些值的各檔測(cè)量（飛利浦為 79或 81kV） ? 要求： 177。 5kV或者 177。 5%，以較大者控制 輸出量重復(fù)性 ? 檢測(cè)方法：將探測(cè)器房子檢查床上照射野中心，以 80kV,適當(dāng)?shù)墓茈娏鲿r(shí)間積（ 50mAs）照射 5次，計(jì)算 80kV時(shí)每管電流時(shí)間積的輸出量，建立基線值時(shí)，以此 5次的平均值作為基線值，并以一下公式計(jì)算輸出量的重復(fù)性。輸出量重復(fù)性： 177。 10% 有用線束半值層 ? 檢測(cè)方法：分別將不同厚度（ 0mm，1mm~5mm）的鋁吸收片房子檢查床上方50cm（或 1/2SID）處，用同樣的條件進(jìn)行照射，依次測(cè)量并記錄空氣比釋動(dòng)能，并求得 80kV的半值層 ? 要求： ≥ 曝光時(shí)間指示偏離 (限驗(yàn)收檢測(cè) ) ? 檢測(cè)方法：采用數(shù)字式曝光計(jì)時(shí)儀器測(cè)量，重點(diǎn)檢測(cè)臨床常用時(shí)間檔 ? 要求： t≥ ， 177。 10%； t＜ ， 177。 2ms或 177。 15% X射線攝影設(shè)備的幾何學(xué)特性 ? 包括： ? （ SID指示的偏離） ? ? （ DR檢測(cè)不做要求） 幾何學(xué)特性檢測(cè)工具 有用線束垂直度偏離（ SID指示的偏離） ? SID：焦點(diǎn)到影像接收器之間的距離 ? 把 SID檢測(cè)筒置于診視床上，使得光野中心、 SID檢測(cè)筒中心以及暗盒中心于一垂直線上鎖住全部地位鎖，暗盒托盤全部推進(jìn)去，光野四邊每邊距 SID檢測(cè)筒4cm。選用適當(dāng)?shù)恼丈錀l件進(jìn)行照射后沖洗膠片。（曝光條件根據(jù)照射量適當(dāng)調(diào)整） 示意圖 光野與照射野四邊的偏離 光野與照射野四邊的偏離 ? 要求：四邊 177。 1cm，中心 177。 1cm DR系統(tǒng)專用檢測(cè)項(xiàng)目 暗噪聲 探測(cè)器劑量指示（ D
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