第六章spc教材及cpk基礎(chǔ)知識(shí)(編輯修改稿)
2025-02-03 15:17 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 Lower Control Limit Upper Control Limit Center Line Sample Number or Time Sample Quality Characteristic 張 錫 紅 過(guò)程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn) 2 . 漂移或走動(dòng) ? k個(gè)連續(xù)點(diǎn) (通常 7,8或 9)在中心線一側(cè) ? 5個(gè)連續(xù)點(diǎn)中有 4點(diǎn)超出 1?(同側(cè) ) ? 3個(gè)連續(xù)點(diǎn)中有 2個(gè)超出 2?(同側(cè) ) 漂移或走動(dòng)的普遍原因 ? 新的工人 ,方法 ,原料或機(jī)器 ? 檢查方法或標(biāo)準(zhǔn)變化 ? 操作技能和 /或主動(dòng)性變化 Upper Control Limit Center Line Sample Number or Time Sample Quality Characteristic Lower Control Limit + 2? + 1? 2? 1? 張 錫 紅 過(guò)程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn) 3 . 趨勢(shì) － k個(gè)連續(xù)點(diǎn) (通常 5,6或 7)向同一方向移動(dòng) ? 趨勢(shì)的普遍原因 －新的工人 ,方法 ,原料或機(jī)器 －檢查方法或標(biāo)準(zhǔn)變化 －操作技能和 /或主動(dòng)性變化 Upper Control Limit Center Line Sample Number or Time Sample Quality Characteristic Lower Control Limit + 2? + 1? 2? 1? 張 錫 紅 過(guò)程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn) 4 . 分層 多個(gè)點(diǎn)集中于中心線 ,通常在 177。 1? 界線內(nèi) ? 分層的普遍原因 控制界線的不正確計(jì)算 量?jī)x對(duì)分辨工件失效 檢查員捏造數(shù)據(jù) . 抽樣時(shí)從每一不同組內(nèi)收集收一個(gè)或更多的單位產(chǎn)品 Upper Control Limit Center Line Sample Number or Time Sample Quality Characteristic Lower Control Limit + 2? + 1? 2? 1? 張 錫 紅 過(guò)程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn) 5 . 混合 ? 控制點(diǎn)多集中于控制界線 ? 混合的普遍的原因 ? 兩個(gè) (或更多 )交疊分布 ? 操作員過(guò)度控制 Upper Control Limit Center Line Sample Number or Time Sample Quality Characteristic Lower Control Limit + 2? + 1? 2? 1? 張 錫 紅 過(guò)程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn) 6 . 循環(huán)或固期性 : 任何前移的 ,重復(fù)的圖形 ? 循環(huán)或周期性的普遍原因 ? 系統(tǒng)的環(huán)境變化 ? 溫度 ? 操作者疲勞操作員轉(zhuǎn)班 ? 機(jī)器設(shè)定造成的波動(dòng) 維護(hù)安排 刀具磨損 Upper Control Limit Center Line Sample Number or Time Sample Quality Characteristic Lower Control Limit + 2? + 1? 2? 1? 張 錫 紅 ?如客戶沒(méi)有特別要求 ,本公司目前只使用以下三種判斷準(zhǔn)則 : ? 1. 超差 : 一點(diǎn)或多點(diǎn)超出控制上、下控制限。 ? 2. 趨勢(shì)： ６個(gè)點(diǎn)連續(xù)上升或下降。 ? 3. 漂移： ９個(gè)點(diǎn)連續(xù)在控制圖中心線的上方 或下方。 過(guò)程控制不穩(wěn)定的基本表現(xiàn) 張 錫 紅 Ｄ． XR圖制程能力解釋 １．計(jì)算過(guò)程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 R是子組極差的平均值 ，ｄ 2 是隨樣本容量變化的常數(shù) ｄ 2 常數(shù)表 σ = R / d2 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 張 錫 紅 ? 過(guò)程能力是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來(lái)描述的過(guò)程均值與規(guī)范界限的距離 .用Z表示 ,用 z值和標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表來(lái)估計(jì)多少比例的超出規(guī)范值 .(是一個(gè)近似值 ) ? 對(duì)于單邊容差 : 式中 :USL、 LSL 等于公差規(guī)格上限、下限 , X 等于測(cè)量的過(guò)程均值。 對(duì)于雙向容差： ZUSL = Z = XLSL σ Z = σ USLX 或 XLSL USLX σ ZLSL = σ Zmin=Zusl 或 ZLSL的最小值 式中： USL、 LSL 等于公差規(guī)格上限、下限， Z值為負(fù)值時(shí)說(shuō)明過(guò)程均值超過(guò)規(guī)范 張 錫 紅 Z值標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布常數(shù)表 張 錫 紅 Zmin也可轉(zhuǎn)化為能力指數(shù) CPK，定義如下： ? CPK = Zmin 3 = CPU （即 USLX 3 σ CPL 即（ XLSL 3 σ ）或 ）的最小值 式中： USL和 LSL為工程規(guī)范上、下限， X為過(guò)程均值， σ為過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)偏差。 Zmin=3的過(guò)程，其能力指數(shù) CPK= 。如果 Zmin=4,則過(guò)程能 指數(shù)為 CPK= (SPC軟件中所有的 ZSCORE) 張 錫 紅 均值與標(biāo)準(zhǔn)差圖 Ｘ－Ｓ Ａ．收集數(shù)據(jù) 計(jì)算子組的Ｓ標(biāo)準(zhǔn)差 式中：Ｘ、 X和 n分別代表子組的單值、均值和樣本容量。
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