各種儀器分析的基本原理及譜圖表示方法(編輯修改稿)
2025-08-31 14:08 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 ：樣品與參比物處于同一控溫環(huán)境中，記錄維持溫差為零時，所需能量隨環(huán)境溫度或時間的變化譜圖的表示方法：熱量或其變化率隨環(huán)境溫度或時間的變化曲線提供的信息：提供聚合物熱轉(zhuǎn)變溫度及各種熱效應(yīng)的信息靜態(tài)熱―力分析 TMA分析原理：樣品在恒力作用下產(chǎn)生的形變隨溫度或時間變化譜圖的表示方法：樣品形變值隨溫度或時間變化曲線提供的信息：熱轉(zhuǎn)變溫度和力學(xué)狀態(tài)動態(tài)熱―力分析 DMA分析原理：樣品在周期性變化的外力作用下產(chǎn)生的形變隨溫度的變化譜圖的表示方法：模量或tgδ隨溫度變化曲線提供的信息：熱轉(zhuǎn)變溫度模量和tgδ透射電子顯微術(shù) TEM分析原理：高能電子束穿透試樣時發(fā)生散射、吸收、干涉和衍射，使得在相平面形成襯度，顯示出圖象譜圖的表示方法：質(zhì)厚襯度象、明場衍襯象、暗場衍襯象、晶格條紋象、和分子象提供的信息：晶體形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相結(jié)構(gòu)和晶格與缺陷等掃描電子顯微術(shù) SEM分析原理：用電子技術(shù)檢測高能電子束與樣品作用時產(chǎn)生二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線等并放大成象譜圖的表示方法：背散射象、二次電子象、吸收電流象、元素的線分布和面分布等提供的信息：斷口形貌、表面顯微結(jié)構(gòu)、薄膜內(nèi)部的顯微結(jié)構(gòu)、微區(qū)元素分析與定量元素分析等原子吸收 AAS原理：通過原子化器將待測試樣原子化，待測原子吸收待測元素空心陰極燈的光，從而使用檢測器檢測到的能量變低，從而得到吸光度。吸光度與待測元素的濃度成正比。(Inductive coupling high frequency plasma)電感耦合高頻等離子體 ICP原理：利用氬等離子體產(chǎn)生的高溫使用試樣完全分解形成激發(fā)態(tài)的原子和離子，由于激發(fā)態(tài)的原子和離子不穩(wěn)定，外層電子會從激發(fā)態(tài)向低的能級躍遷，因此發(fā)射出特征的譜線。通過光柵等分光后，利用檢
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