【文章內(nèi)容簡介】 何分析在網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)的剛度矩陣會導(dǎo)致一個戲劇性的變化，這與再分析技術(shù)不太相關(guān)。3. 擬議的方法我們把注意力放在這個文件中的工程問題，標量二階偏微分方程式(pde): 許多工程技術(shù)問題，如熱，流體靜磁等問題，可能簡化為上述公式。作為一個說明性例子，考慮散熱問題的二維模塊Ω如圖2所示。圖2二維熱座裝配熱量q從一個線圈置于下方位置列為Ωcoil。半導(dǎo)體裝置位于Ωdevice。這兩個地方都屬于Ω，有相同的材料屬性，其余Ω將在后面討論。特別令人感興趣的是數(shù)量，加權(quán)溫度Tdevice內(nèi)Ωdevice(見圖2)。一個時段，認定為Ωslot縮進如圖2，會受到抑制，其對Tdevice將予以研究。邊界的時段稱為Γslot其余的界線將稱為Γ。邊界溫度Γ假定為零。兩種可能的邊界條件Γslot被認為是:(a)固定熱源，即(kt)?n=q，(b)有一定溫度，即T=Tslot。兩種情況會導(dǎo)致兩種不同幾何分析引起的誤差的結(jié)果。設(shè)T(x，y)是未知的溫度場和K導(dǎo)熱。然后，散熱問題可以通過泊松方程式表示:其中H(x，y)是一些加權(quán)內(nèi)核?，F(xiàn)在考慮的問題是幾何分析簡化的插槽是簡化之前分析，如圖3所示。圖3defeatured二維熱傳導(dǎo)裝配模塊現(xiàn)在有一個不同的邊值問題，不同領(lǐng)域t(x，y):觀察到的插槽的邊界條件為t(x，y)已經(jīng)消失了，因為槽已經(jīng)不存在了（關(guān)鍵性變化）!解決的問題是:設(shè)定tdevice和t(x，y)的值，估計Tdevice。這是一個較難的問題，是我們尚未解決的。在這篇文章中，我們將從上限和下限分析Tdevice。這些方向是明確被俘引理4和6。至于其余的這一節(jié)，我們將發(fā)展基本概念和理論，建立這兩個引理。值得注意的是，只要它不重疊，定位槽與相關(guān)的裝置或熱源沒有任何限制。上下界的Tdevice將取決于它們的相對位置。我們需要的第一個概念是，伴隨矩陣公式表達法。應(yīng)用伴隨矩陣論點的微分積分方程，包括其應(yīng)用的控制理論，形狀優(yōu)化，拓撲優(yōu)化等。我們對這一概念歸納如下。相關(guān)的問題都可以定義為一個伴隨矩陣的問題，控制伴隨矩陣t_(x，y)，必須符合下列公式計算〔23〕:伴隨場t_(x，y)基本上是一個預(yù)定量，即加權(quán)裝置溫度控制的應(yīng)用熱源?？梢杂^察到，伴隨問題的解決是復(fù)雜的原始問題?？刂品匠淌窍嗤摹＿@些問題就是所謂的自身伴隨矩陣。大部分工程技術(shù)問題的實際利益，是自身伴隨矩陣，就很容易計算伴隨矩陣。另一方面，在幾何分析問題中，伴隨矩陣發(fā)揮著關(guān)鍵作用。表現(xiàn)為以下引理綜述:，即(Tdevicetdevice)可以歸納為以下的邊界積分比幾何分析插槽:在上述引理中有兩點值得注意:積分只牽涉到邊界гslot。這是令人鼓舞的?；蛟S，處理剛剛過去的被簡化信息特點可以計算誤差。右側(cè)牽涉到的未知區(qū)域T(x，y)的全功能的問題。特別是第一周期涉及的差異，在正常的梯度，即涉及[k(Tt)] ?n。這是一個已知數(shù)量邊界條件[kt]?n所指定的時段，未知狄里克萊條件作出規(guī)定[kt]?n可以評估。在另一方面，在第二個周期內(nèi)涉及的差異，在這兩個領(lǐng)域，即T管。 因為t可以評價，這是一個已知數(shù)量邊界條件T指定的時段。因此。、差額(tdevicetdevice)不等式然而，伴隨矩陣技術(shù)不能完全消除未知區(qū)域T(x，y)。為了消除T(x，y)我們把重點轉(zhuǎn)向單調(diào)分析。單調(diào)性分析是由數(shù)學家在19世紀和20世紀前建立的各種邊值問題。例如，一個單調(diào)定理:添加幾何約束到一個結(jié)構(gòu)性問題，是指在位移(某些)邊界不減少。觀察發(fā)現(xiàn)，上述理論提供了一個定性的措施以解決邊值問題。后來，工程師利用之前的“計算機時代”上限或下限同樣的定理，解決了具有挑戰(zhàn)性的問題。當然，隨著計算機時代的到來，這些相當復(fù)雜的直接求解方法已經(jīng)不為人所用。但是，在當前的幾何分析，我們證明這些定理采取更為有力的作用，尤其應(yīng)當配合使用伴隨理論。我們現(xiàn)在利用一些單調(diào)定理，以消除上述引理T(x，y)。遵守先前規(guī)定，右邊是區(qū)別已知和未知的領(lǐng)域，即T(x，y)t(x，y)。因此，讓我們在界定一個領(lǐng)域E(x，y)在區(qū)域為:e(x，y)=t(x，y)t(x，y)。據(jù)悉，T(x，y)和T(x，y)都是明確的界定，所以是e(x，y)。事實上，從公式(1)和(3)，我們可以推斷，e(x，y)的正式滿足邊值問題:解決上述問題就能解決所有問題。但是，如果我們能計算區(qū)域e(x，y)與正常的坡度超過插槽，以有效的方式，然后(Tdevicetdevice)，就評價表示e(X，Y)的效率，我們現(xiàn)在考慮在上述方程兩種可能的情況如(a)及(b)。例(a)邊界條件較第一插槽，審議本案時槽原本指定一個邊界條件。為了估算e(x，y)，考慮以下問題:因為只取決于縫隙，不討論域，以上問題計算較簡單。經(jīng)典邊界積分/邊界元方法可以引用。關(guān)鍵是計算機領(lǐng)域e1(x，y)和未知領(lǐng)域的e(x，y)。這兩個領(lǐng)域e1(x，y)和e(x，y)滿足以下單調(diào)關(guān)系:把它們綜合在一起，我們有以下結(jié)論引理。，當插槽具有邊界條件，東至以下限額的計算，只要求:(1)原始及伴隨場T和隔熱與幾何分析域(2)解決e1的一項問題涉及插槽:觀察到兩個方向的右側(cè)，雙方都是獨立的未知區(qū)域T(x，y)。例(b) 插槽Dirichlet邊界條件我們假定插槽都維持在定溫Tslot。考慮任何領(lǐng)域，即包含域和插槽。界定一個區(qū)域e(x，y)在滿足:現(xiàn)在建立一個結(jié)果與e(x，y)及e(x，y)。注意到，公式(7)的計算較為簡單。這是我們最終要的結(jié)果。 未知的裝置溫度Tdevice，當插槽有Dirichlet邊界條件，東至以下限額的計算，只要求:(1)原始及伴隨場T和隔熱與幾何分析。(2) 圍繞插槽解決失敗了的邊界問題，:再次觀察這兩個方向都是獨立的未知領(lǐng)域T(x，y)。4. 數(shù)值例子說明我們的理論發(fā)展，在上一節(jié)中，通過數(shù)值例子。設(shè)k = 5W/m?C, Q = 10 W/m3 and H = 。表1:結(jié)果表表1給出了不同時段的邊界條件。第一裝置溫度欄的共同溫度為所有幾何分析模式(這不取決于插槽邊界條件及插槽幾何分析)。最后一欄是實際的裝置溫度所得的全功能模式(前幾何分析)，是列在這里比較前列的。在全部例子中，我們可以看到最后一欄則是介于第二和第三列。T Tdevice T對于絕緣插槽來說，Dirichlet邊界條件指出，觀察到的各種預(yù)測為零。不同之處在于這個事實:在第一個例子，一個零Neumann邊界條件的時段，導(dǎo)致一個自我平衡的特點，因此，其對裝置基本沒什么影響。另一方面，有Dirichlet邊界條件的插槽結(jié)果在一個非自我平衡的特點，其缺失可能導(dǎo)致器件溫度的大變化在。不過，固定非零槽溫度預(yù)測范圍為20度到0度。這可以歸因于插槽溫度接近于裝置的溫度，因此，將其刪除少了影響。的確，人們不難計算上限和下限的不同Dirichlet條件插槽。圖4說明了變化的實際裝置的溫度和計算式。預(yù)測的上限和下限的實際溫度裝置表明理論是正確的。另外，跟預(yù)期結(jié)果一樣，限制槽溫度大約等于裝置的溫度。5. 快速分析設(shè)計的情景我們認為對所提出的理論分析什么如果的設(shè)計方案，現(xiàn)在有著廣泛的影響。研究顯示設(shè)計如圖5，現(xiàn)在由兩個具有單一熱量能源的器件。如預(yù)期結(jié)果兩設(shè)備將不會有相同的平均溫度。由于其相對靠近熱源，該裝置的左邊將處在一個較高的溫度。圖4估計式versus插槽溫度圖圖5雙熱器座圖6正確特征可能性位置為了消除這種不平衡狀況，加上一個小孔，固定直徑。五個可能的位置見圖6。兩者的平均溫度在這兩個地區(qū)最低。強制進行有限元分析每個配置。這是一個耗時的過程。另一種方法是把該孔作為一個特征，并研究其影響，作為后處理步驟。換言之，這是一個特殊的“幾何分析”例子，而擬議的方法同樣適用于這種情況。我們可以解決原始和伴隨矩陣的問題，原來的配置(無孔)和使用的理論發(fā)展在前兩節(jié)學習效果加孔在每個位置是我們的目標。目的是在平均溫度兩個裝置最大限度的差異。表2概括了利用這個理論和實際的價值。從上表可以看到，位置W是最佳地點，因為它有最低均值預(yù)期目標的功能。附錄II 外文文獻原文A formal theory for estimating defeaturing induced engineering analysis errorsSankara Hari Gopalakrishnan, Krishnan SureshDepartment of Mechanical Engineering, University of Wisconsin, Madison, WI 53706, United StatesReceived 13 January 2006。 accepted 30 September 2006AbstractDefeaturing is a popular CAD/CAE simplification technique that suppresses ‘small or irrelevant features’ within a CAD model to speedup downstream processes such as finite element analysis. Unfortunately, defeaturing inevitably leads to analysis errors that are not easily quantifiable within the current theoretical framework.In this paper, we provide a rigorous theory for swiftly puting such defeaturing induced engineering analysis errors. In particular, we focus on problems where the features being suppressed are cutouts of arbitrary shape and size within the body. The proposed theory exploits the adjoint formulation of boundary value problems to arrive at strict bounds on defeaturing induced analysis errors. The theory is illustrated through numerical examples.Keywords: Defeaturing。 Engineering analysis。 Error estimation。 CAD/CAE1. IntroductionMechanical artifacts typically contain numerous geometric features. However, not all features are critical during engineering analysis. Irrelevant features are often suppressed or ‘defeatured’, prior to analysis, leading to increased automation and putational speedup.For example, consider a brake rotor illustrated in Fig. 1(a). The rotor contains over 50 distinct ‘features’, but not all of these are relevant during, say, a thermal analysis. A defeatured brake rotor is illustrated in Fig. 1(b). While the finite element analysis of the fullfeatured model in Fig. 1(a) required over 150,000 degrees of freedom, the defeatured model in Fig. 1(b) required 25,000 DOF, leading to a significant putational speedup.Fig. 1. (a) A brake rotor and (b) its defeatured version.Besides an improvement in speed, there is usually an increased level of automation in that it is easier to automate finite element mesh generation of a defeatured ponent [1,2]. Memory requirements also decrease, while condition number of the discretized system improves。the latter plays an important role in iterative linear system solvers [3].Defeaturing, however, invariably results in an unknown ‘perturbation’ of the underlying field. The perturbation may be ‘small and localized’ or ‘large and spreadout’, depending on various factors. Fo