主板診斷卡常見代碼含義及處理方法(編輯修改稿)
2025-07-20 16:01 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 A頁面寄存器。 停用DMA控制器1以及中斷控制器1和2；即將視頻顯示器并使端口B作初始準備。 第一個64DK RAM第2位故障。 13 測試8741鍵盤控制器接口。 視頻顯示器已停用，端口B已作初始準備；即將開始電路片初始化／存儲器自動檢測。 第一個64DK RAM第3位故障。 14 測試存儲器更新觸發(fā)電路。 電路片初始化／存儲器處自動檢測結(jié)束；8254計時器測試即將開始。 第一個64DK RAM第4位故障。 15 測試開頭64K的系統(tǒng)存儲器。 第2通道計時器測試了一半；8254第2通道計時器即將完成測試。 第一個64DK RAM第5位故障。 16 建立8259所用的中斷矢量表。 第2通道計時器測試結(jié)束；8254第1通道計時器即將完成測試。 第一個64DK RAM第6位故障。 17 調(diào)準視頻輸入／輸出工作，若裝有視頻BIOS則啟用。 第1通道計時器測試結(jié)束；8254第0通道計時器即將完成測試。 第一個64DK RAM第7位故障。 18 測試視頻存儲器，如果安裝選用的視頻BIOS通過，由可繞過。 第0通道計時器測試結(jié)束；即將開始更新存儲器。 第一個64DK RAM第8位故障。 19 測試第1通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。 已開始更新存儲器，接著將完成存儲器的更新。 第一個64DK RAM第9位故障。 1A 測試第2通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。 正在觸發(fā)存儲器更新線路，即將檢查15微秒通／斷時間。 第一個64DK RAM第10位故障。 1B 測試CMOS電池電平。 完成存儲器更新時間30微秒測試；即將開始基本的64K存儲器測試。 第一個64DK RAM第11位故障。 1C 測試CMOS檢查總和。 . 第一個64DK RAM第12位故障。 1D 調(diào)定CMOS配置。 . 第一個64DK RAM第13位故障。 1E 測定系統(tǒng)存儲器的大小，并且把它和CMOS值比較。 . 第一個64DK RAM第14位故障。 1F 測試64K存儲器至最高640K。 . 第一個64DK RAM第15位故障。 20 測量固定的8259中斷位。 開始基本的64K存儲器測試；即將測試地址線。 從屬DMA寄存器測試正在進行或失靈。 21 維持不可屏蔽中斷（NMI）位（奇偶性或輸入／輸出通道的檢查）。 通過地址線測試；即將觸發(fā)奇偶性。 主DMA寄存器測試正在進行或失靈。 22 測試8259的中斷功能。 結(jié)束觸發(fā)奇偶性；將開始串行數(shù)據(jù)讀／寫測試。 主中斷屏蔽寄存器測試正在進行或失靈。 23 測試保護方式8086虛擬方式和8086頁面方式。 基本的64K串行數(shù)據(jù)讀／寫測試正常；即將開始中斷矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)。 從屬中斷屏蔽存器測試正在進行或失靈。 24 測定1MB以上的擴展存儲器。 矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)完成，即將開始中斷矢量的初始準備。 設(shè)置ES段地址寄存器注冊表到內(nèi)存高端。 25 測試除頭一個64K之后的所有存儲器。 完成中斷矢量初始準備；將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始讀出8042的輸入／輸出端口。 裝入中斷矢量正在進行或失靈。 26 測試保護方式的例外情況。 讀出8042的輸入／輸出端口；即將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始使全局數(shù)據(jù)作初始準備。 開啟A20地址線；使之參入尋址。 27 確定超高速緩沖存儲器的控制或屏蔽RAM。 全1數(shù)據(jù)初始準備結(jié)束；接著將進行中斷矢量之后的任何初始準備。 鍵盤控制器測試正在進行或失靈。 28 確定超高速緩沖存儲器的控制或者特別的8042鍵盤控制器。 完成中斷矢量之后的初始準備；即將調(diào)定單色方式。 CMOS電源故障／檢查總和計算正在進行。 29 . 已調(diào)定單色方式，即將調(diào)定彩色方式。 CMOS配置有效性的檢查正在進行。 2A 使鍵盤控制器作初始準備。 已調(diào)定彩色方式，即將進行ROM測試前的觸發(fā)奇偶性。 置空64K基本內(nèi)存。 2B 使磁碟驅(qū)動器和控制器作初始準備。 觸發(fā)奇偶性結(jié)束；即將控制任選的視頻ROM檢查前所需的任何調(diào)節(jié)。 屏幕存儲器測試正在進行或失靈。 2C 檢查串行端口，并使之作初始準備。 完成視頻ROM控制之前的處理；即將查看任選的視頻ROM并加以控制。 屏幕初始準備正在進行或失靈。 2D 檢測并行端口，并使之作初始準備。 已完成任選的視頻ROM控制，即將進行視頻ROM回復控制之后任何其他處理的控制。 屏幕回掃測試正在進行或失靈。 2E 使硬磁盤驅(qū)動器和控制器作初始準備。 從視頻ROM控制之后的處理復原；如果沒有發(fā)現(xiàn)EGA／VGA就要進行顯示器存儲器讀／寫測試。 檢測視頻ROM正在進行。 2F 檢測數(shù)學協(xié)處理器，并使之作初始準備。 沒發(fā)現(xiàn)EGA／VGA；即將開始顯示器存儲器讀／寫測試。 . 30 建立基本內(nèi)存和擴展內(nèi)存。 通過顯示器存儲器讀／寫測試；即將進行掃描檢查。 認為屏幕是可以工作的。 31 檢測從C800：0至EFFF：0的選用ROM，并使之作初始準備。 顯示器存儲器讀／寫測試或掃描檢查失敗，即將進行另一種顯示器存儲器讀／寫測試。 單色監(jiān)視器是可以工作的。 32 對主板上COM／LTP／FDD／聲音設(shè)備等I／O芯片編程使之適合設(shè)置值。 通過另一種顯示器存儲器讀／寫測試；卻將進行另一種顯示器掃描檢查。 彩色監(jiān)視器（40列）是可以工作的。 33 . 視頻顯示器檢查結(jié)束；將開始利用調(diào)節(jié)開關(guān)和實際插卡檢驗顯示器的關(guān)型。 彩色監(jiān)視器（80列）是可以工作的。 34 . 已檢驗顯示器適配器；接著將調(diào)定顯示方式。 計時器滴答聲中斷測試正在進行或失靈。 35 . 完成調(diào)定顯示方式；即將檢查BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)。 停機測試正在進行或失靈。 36 . 已檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)；即將調(diào)定通電信息的游標。 門電路中A－20失靈。 37 . 識別通電信息的游標調(diào)定已完成；即將顯示通電信息。 保護方式中的意外中斷。 38 . 完成顯示通電信息；即將讀出新的游標位置。 RAM測試正在進行或者地址故障＞FFFFH。 39 . 已讀出保存游標位置，即將顯示引用信息串。 . 3A . 引用信息串顯示結(jié)束；即將顯示發(fā)現(xiàn)ESC信息。 間隔計時器通道2測試或失靈。3B 用OPTI電路片（只是486）使輔助超高速緩沖存儲器作初始準備。 已顯示發(fā)現(xiàn)
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