主板診斷卡常見代碼含義及處理方法-wenkub
2023-07-08 16:01:34 本頁面
【正文】 碼：0D至0F 代碼含義：CMOS停開寄存器讀/寫測試 解決方法：檢查CMOS芯片、電池及周圍電路部分，可先更換CMOS電池，再用小棉球蘸無水酒精清洗CMOS的引腳及其電路部分，然后看開機檢查問題是否解決。 錯誤代碼：0D 代碼含義：視頻通道測試 解決方法：這也是一種較常見的故障現(xiàn)象，它一般表示顯卡檢測未通過。要解決這類故障，可首先對內(nèi)存實行除塵、清潔等工作再進行測試。 錯誤代碼：01 代碼含義：處理器測試 解決方法：說明CPU本身沒有通過測試，這時應(yīng)檢查CPU相關(guān)設(shè)備。一般遇到這種情況，可首先將電腦上除CPU外的所有部件全部取下，并檢查主板電壓、倍頻和外頻設(shè)置是否正確，然后再對CMOS進行放電處理，再開機檢測故障是否排除。修理方法：用熱風(fēng)槍對焊點均勻加熱至焊點熔化。 以下的說明中將選擇最常見的故障代碼及解決方法，至于其他更詳細的代碼含義，請讀者參考DEBUG卡的說明手冊。RUN燈：為運行燈，工作時就不停閃動。由于DEBUG卡的價格并不高（15元左右），因此它已成為很多DIY愛好者的必備工具之一。當(dāng)DEBUG卡插入PCI或ISA插槽后，啟動電腦時卡上自帶的顯示屏就會根據(jù)啟動的進度顯示出各種代碼。 主板加電后，首先要對CPU進行檢測，測試它各個內(nèi)部寄存器是否正常；接著BIOS將對CPU中其他所有的寄存器進行檢測，并判斷是否正確；然后是檢測和初始化主板的芯片組；接下來檢測動態(tài)內(nèi)存的刷新是否正常；然后將屏幕清成黑屏，初始化鍵盤；接下來檢測CMOS接口及電池狀況。BIOS燈：為BIOS運行燈，正常工作時應(yīng)不停閃動CLK燈：為時鐘燈。+12V，12V，+5V，+正常啟動電腦時,主板檢測卡顯示的代碼從開始顯示FF(或者00),然后不停跳動代碼,最后又顯示FF(或者00).如果主板有問題了,檢測卡顯示的代碼就會停在某個位置不動.實戰(zhàn)DEBUG診斷卡的使用 DEBUG卡的使用也很簡單，下面針對幾種常見的故障代碼和大家討論一下解決問題的方法。 特殊代碼00和ff及其它起始碼有三種情況出現(xiàn)：①已由一系列其它代碼之后再出現(xiàn)：00或ff，則主板ok。三. 檢查CPU附近的電解電容是否有爆裂，爆裂的電容上下都會鼓起，用肉眼很容易發(fā)現(xiàn)，可以用相同規(guī)格的電容換上，故障就會排除；四. CPU附近的功率三極管燒毀，可以用萬用表測量這些三極管，一般都表現(xiàn)為擊穿（電阻值接近為零），找相同或可以代用的三極管更換即可，搞修理多的朋友一般會從報廢主板上拆。如故障依舊，還可將CPU從主板上的插座上取下，仔細清理插座及其周圍的灰塵，然后再將CPU安裝好，并加以一定的壓力，保證CPU與插座接觸緊密，再將散熱片安裝妥當(dāng)，然后開機測試。如對CPU進行過超頻，請將CPU的頻率還原至默認頻率，并檢查CPU電壓、外頻和倍頻是否設(shè)置正確。如問題依舊，可嘗試用柔軟的橡皮擦清潔金手指部分，直到金手指重新出現(xiàn)金屬光澤為止，然后清理掉內(nèi)存槽里的雜物，并檢查內(nèi)存槽內(nèi)的金屬彈片是否有變形、斷裂或氧化生銹現(xiàn)象。這時應(yīng)檢查顯卡與主板的連接是否正常，如發(fā)現(xiàn)顯卡松動等現(xiàn)象，應(yīng)及時將其重新插入插槽中。 錯誤代碼：112B、2C、2D、2E、2F、3333333333A 代碼含義：測試顯卡 解決方法：該故障在AMI BIOS中較常見，可檢查顯卡的視頻接口電路、主芯片、顯存是否因灰塵過多而無法工作，必要時可更換顯卡檢查故障是否解決。錯誤代碼：1A、1B、222代碼含義：存儲器測試解決方法：同Award BIOS篇內(nèi)存故障的解決方法。CPU供電不良。測CPU地址線和數(shù)據(jù)線。 . 01 處理器測試1，處理器狀態(tài)核實,如果測試失敗，循環(huán)是無限的。如果鍵盤緩沖器含有數(shù)據(jù)就會失效。 ROM BIOS檢查部件正在進行或失靈。 05 如果不斷重復(fù)制造測試1至5，可獲得8042控制狀態(tài)。 已啟動ROM計算ROM BIOS檢查總和，以及檢查鍵盤緩沖器是否清除。 . 08 使CMOS計時器作初始準備，正常的更新計時器的循環(huán)。 核實鍵盤的基本保證測試，接著核實鍵盤命令字節(jié)。 第一個64K RAM芯片或數(shù)據(jù)線失靈，移位。 0C 測試8254通道1。檢查控制芯片已編程值是否符合初設(shè)置。 CMOS停開寄存器讀／寫測試；將計算CMOS檢查總和。 . 10 測試DMA通道0。 CMOS狀態(tài)寄存器已作初始準備，即將停用DMA和中斷控制器。 第一個64DK RAM第2位故障。 14 測試存儲器更新觸發(fā)電路。 第2通道計時器測試了一半；8254第2通道計時器即將完成測試。 第一個64DK RAM第6位故障。 18 測試視頻存儲器，如果安裝選用的視頻BIOS通過，由可繞過。 已開始更新存儲器，接著將完成存儲器的更新。 第一個64DK RAM第10位故障。 1C 測試CMOS檢查總和。 1E 測定系統(tǒng)存儲器的大小，并且把它和CMOS值比較。 20 測量固定的8259中斷位。 通過地址線測試；即將觸發(fā)奇偶性。 主中斷屏蔽寄存器測試正在進行或失靈。 24 測定1MB以上的擴展存儲器。 完成中斷矢量初始準備；將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始讀出8042的輸入／輸出端口。 開啟A20地址線；使之參入尋址。 28 確定超高速緩沖存儲器的控制或者特別的8042鍵盤控制器。 CMOS配置有效性的檢查正在進行。 2B 使磁碟驅(qū)動器和控制器作初始準備。 完成視頻ROM控制之前的處理；即將查看任選的視頻ROM并加以控制。 屏幕回掃測試正在進行或失靈。 2F 檢測數(shù)學(xué)協(xié)處理器，并使之作初始準備。 認為屏幕是可以工作的。 32 對主板上COM／LTP／FDD／聲音設(shè)備等I／O芯片編程使之適合設(shè)置值。 彩色監(jiān)視器（80列）是可以工作的。 停機測試正在進行或失靈。 保護方式中的意外中斷。 . 3A . 引用信息串顯示結(jié)束；即將顯示發(fā)現(xiàn)ESC信息。 按日計算的日歷時鐘測試正在進行或失靈。 . 并行端口測試正在進行或失靈。 調(diào)整CPU速度，使之與外圍時鐘精確匹配。 描述符表已準備好；即將進行虛擬方式作存儲器測試。 . 44 . 已實現(xiàn)中斷（如已接通診斷開關(guān)；即將使數(shù)據(jù)作初始準備以檢查存儲器在0：0返轉(zhuǎn)。 . 46 .
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