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硅工藝簡易筆記(編輯修改稿)

2025-07-13 15:11 本頁面
 

【文章內容簡介】 :被濺射出的原子動能很大,1050eV(蒸發(fā): );故, 還可實現離子注入。n 優(yōu)點:臺階覆蓋好(遷移能力強)。第六章 化學氣相淀積n 定義:一種或數種物質的氣體,以某種方式激活后,在襯 底發(fā)生化學反應,并淀積出所需固體薄膜的生長技術。CVD工藝的特點 CVD工藝的溫度低,可減輕硅片的熱形變,抑制缺 陷的生成,減輕雜質的再分布,適于制造淺結器件及 VLSI;n 薄膜的成分精確可控、配比范圍大,重復性好;n 淀積速率一般高于物理淀積,厚度范圍大;n 膜的結構完整致密,與襯底粘附好,臺階覆蓋性好。 CVD的基本過程①傳輸:反應劑從氣相(平流主氣流區(qū))經附面層(邊界層) 擴散到(Si)表面;②吸附:反應劑吸附在表面;③化學反應:在表面進行化學反應,生成薄膜分子及副產 物;④淀積:薄膜分子在表面淀積成薄膜;⑤脫吸:副產物脫離吸附;⑥逸出:脫吸的副產物和未反應的反應劑從表面擴散到氣 相(主氣流區(qū)),逸出反應室。 Grove模型hg氣相質量轉移系數ks表面化學反應速率Cs = Cg/(1+ks/hg)兩種極限:a. hg ks時, Cs → Cg ,n 反應控制;b. hg ks時, Cs → 0,n 擴散控制;n Grove模型一般表達式: G=[kshg/(ks+hg)](CT/N1)Y,(Cg=YCT) n 兩個結論: (無稀釋氣體)或Y(有稀釋氣體)成正比; ,G由ks 、hg中較小者決定:n hg ks,G=(CTksY)/N1 ,反應控制;hg ks,G=(CThgY)/N1 ,擴散控制;n 影響淀積速率的因素①主氣體流速Um 結論:擴散控制的G與Um1/2成正比②淀積速率與溫度的關系n 低溫下,hg ks, 反應控制過程,故 G與T呈指數關系;n 高溫下,hg ks, 質量輸運控制過程, hg對T不敏感,故 G趨于平穩(wěn)。 CVD技術1. APCVD(常壓 CVD )n 定義:氣相淀積在1個大氣壓下進行;n 淀積機理:氣相質量輸運控制過程。n 優(yōu)點:淀積速率高(100nm/min);操作簡便;n 缺點:均勻性差;臺階覆蓋差; 易發(fā)生氣相反應,產生微粒污染。n 可淀積的薄膜:Si外延薄膜;SiOpolySi、Si3N4薄 膜。2. LPCVD(低壓 CVD )n 定義:在27-270Pa壓力下進行化學氣相淀積。n 淀積機理:表面反應控制過程。n 優(yōu)點:均勻性好(177。3-5%,APCVD: 177。10%); 臺階覆蓋好;效率高、成本低。n 缺點:淀積速率低;溫度高。n 可淀積的薄膜: polySi、 Si3N4 、 SiOPSG、 BPSG、W等。3. PECVD(等離子體增強CVD)n 定義: RF激活氣體分子(等離子體),使其在低溫 (室溫)下發(fā)生化學反應,淀積成膜。n 淀積機理:表面反應控制過程。n 優(yōu)點:溫度低(200-350℃);更高的淀積速率;附著 性好;臺階覆蓋好;電學特性好;n 缺點:產量低;n 淀積薄膜:金屬化后的鈍化膜( Si3N4 );多層布 線的介質膜( Si3N4 、SiO2)。 CVD多晶硅n 工藝:LPCVD熱分解(通常主要采用);氣體源:氣態(tài)SiH4;總反應式: SiH4(吸附) = Si(固體)+2H2(g)n 特點: ①與Si及SiO2的接觸性能更好; ②臺階覆蓋性好。n 缺點: SiH4易氣相分解。n 用途:歐姆接觸、柵極、互連線等材料。 CVD SiO2的方法1. 低溫CVD ①氣態(tài)硅烷源 n 硅烷和氧氣: APCVD、LPCVD、PECVD n 硅烷和N2O(NO) :PECVDn 優(yōu)點:溫度低;反應機理簡單。n 缺點:臺階覆蓋差。 ②液態(tài)TEOS源:PECVDn 淀積機理: Si(OC2H5)4+O2 250425℃ SiO2+H2O+CXHYn 優(yōu)點:安全、方便;厚度均勻;臺階覆蓋好。n 缺點:SiO2膜質量較熱生長法差; SiO2膜含C、有機原子團。2. 中溫LPCVD SiO2n 溫度:680730℃n 化學反應:Si(OC2H5)4 → SiO2+2H2O+4C2H4n 優(yōu)點:較好的保形覆蓋; 缺點:只能在Al層淀積之前進行。 CVD Si3N4n Si3N4薄膜的用途: ①最終鈍化膜和機械保護層; ②掩蔽膜:用于選擇性氧化; ③DRAM電容的絕緣材料; ④MOSFETs中的側墻; ⑤淺溝隔離的CMP停止層。第七章 外延216。 定義:在單晶襯底上,按襯底晶向生長一層新的單 晶薄膜的工藝技術。n 應用 ①雙極器件與電路: 輕摻雜的外延層——較高的擊穿電壓; 重摻雜的襯底降低集電區(qū)的串聯(lián)電阻。 ②CMOS電路: 避免了閂鎖效應:降低漏電流。216。 外延的分類 ①按工藝分類:n 氣相外延(VPE):硅的主要外延工藝;n 液相外延(LPE):ⅢⅤ化合物的外延;n 固相外延(SPE):離子注入退火過程;n 分子束外延(MBE,Molecular Beam Epitaxy) 外延生長模型216。
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