教你認識半導體與測試設備(編輯修改稿)
2025-04-21 02:45 本頁面
【文章內容簡介】 手工是無法完成的，因此要用到自動測試設備（ATE，Automated Test Equipment）。 ATE是一種由高性能計算機控制的測試儀器的集合體，是由測試儀和計算機組合而成的測試系統(tǒng)，計算機通過運行測試程序的指令來控制測試硬件。測試系統(tǒng)最基本的要求是可以快速且可靠地重復一致的測試結果，即速度、可靠性和穩(wěn)定性。為保持正確性和一致性，測試系統(tǒng)需要進行定期校驗，用以保證信號源和測量單元的精度。 當一個測試系統(tǒng)用來驗證一片晶圓上的某個獨立的Die的正確與否，需要用ProbeCard來實現(xiàn)測試系統(tǒng)和Die之間物理的和電氣的連接，而ProbeCard和測試系統(tǒng)內部的測試儀之間的連接則通過一種叫做“Load board”或“Performance board”的接口電路板來實現(xiàn)。在CP測試中，Performance board和Probe card一起使用構成回路使電信號得以在測試系統(tǒng)和Die之間傳輸。 當Die封裝出來后，它們還要經(jīng)過FT測試，這種封裝后的測試需要手工將一個個這些獨立的電路放入負載板（Load board）上的插座（Socket）里，這叫手工測試（hand test）。一種快速進行FT測試的方法是使用自動化的機械手（Handler），機械手上有一種接觸裝置實現(xiàn)封裝引腳到負載板的連接，這可以在測試機和封裝內的Die之間提供完整的電路。機械手可以快速的抓起待測的芯片放入測試點（插座），然后拿走測試過的芯片并根據(jù)測試pass/fail的結果放入事先定義好的相應的Bin區(qū)。 三、半導體技術 有一系列的方法被用來生產(chǎn)和制造數(shù)字半導體電路，這些方法稱為半導體技術或工藝，常用的技術或工藝包括：TTL (TransistorTransistor Logic . bipolar logic), ECL (Emitter Coupled Logic), SOS (Silicon on Sapphire), and CMOS (Complimentary MetalOxide Semiconductor)。不管什么技術或工藝，出來的產(chǎn)品都要經(jīng)過測試，這里我們關注數(shù)字TTL和CMOS電路。 (4)四、數(shù)字和模擬電路 過去，在模擬和數(shù)字電路設計之間，有著顯著的不同。數(shù)字電路控制電子信號，表現(xiàn)為邏輯電平“0”和“1”，它們被分別定義成一種特殊的電壓分量，所有有效的數(shù)字電路數(shù)據(jù)都用它們來表示，每一個“0”或“1”表示數(shù)據(jù)的一個比特（bit）位，任何數(shù)值都可以由按照一定順序排列的“0”“1”比特位組成的二進制數(shù)據(jù)來表示，數(shù)值越大，需要的比特位越多。每8個比特一組構成一個Byte，數(shù)字電路中的數(shù)據(jù)經(jīng)常以Byte為單位進行處理。 不同于數(shù)字信號的“0”“1”界限分明（離散），模擬電路時連續(xù)的——在任何兩個信號電平之間有著無窮的數(shù)值。模擬電路可以使用電壓或電流
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