教你認(rèn)識(shí)半導(dǎo)體與測(cè)試設(shè)備(已改無(wú)錯(cuò)字)
2023-04-25 02:45:20 本頁(yè)面
【正文】 來(lái)表示數(shù)值，我們常見(jiàn)的也是最常用的模擬電路實(shí)例就是運(yùn)算放大器，簡(jiǎn)稱(chēng)運(yùn)放。 為幫助理解模擬和數(shù)字電路數(shù)值的基本差別，我們可以拿時(shí)鐘來(lái)比方。“模擬”時(shí)鐘上的指針連續(xù)地移動(dòng)，因此所有的任一時(shí)間值可以被觀察者直接讀出，但是所得數(shù)值的準(zhǔn)確度或者說(shuō)精度取決于觀察者認(rèn)知的程度。而在“數(shù)字”時(shí)鐘上，只有最小增量以上的值才能被顯示，而比最小增量小的值則無(wú)法顯示。如果有更高的精度需求，則需要增加數(shù)據(jù)位，每個(gè)新增的數(shù)據(jù)位表示最小的時(shí)間增量。 有的電路里既有數(shù)字部分也有模擬部分，如AD轉(zhuǎn)換器（ADC）將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)，DA轉(zhuǎn)換器（DAC）則相反，我們稱(chēng)之為“混合信號(hào)電路”（Mixed Signal Devices）。另一種描述這種混合電路的方法則基于數(shù)字部分和模擬部分占到電路的多少：數(shù)字部分占大部分而模擬部分所占比例較少歸于數(shù)字電路，反之則歸于模擬電路。(5)五、測(cè)試系統(tǒng)的種類(lèi) 一般認(rèn)為測(cè)試系統(tǒng)都是通用的，其實(shí)大部分測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)都是面向?qū)ｉT(mén)類(lèi)型的集成電路，這些專(zhuān)門(mén)的電路包括：存儲(chǔ)器、數(shù)字電路、模擬電路和混合信號(hào)電路；每種類(lèi)型下還可以細(xì)分成更多種類(lèi)，我們這里只考慮這四種類(lèi)型。 我們一般認(rèn)為存儲(chǔ)器是數(shù)字的，而且很多DC測(cè)試參數(shù)對(duì)于存儲(chǔ)類(lèi)和非存儲(chǔ)類(lèi)的數(shù)字器件是通用的，雖然如此，存儲(chǔ)器的測(cè)試還是用到了一些獨(dú)特的功能測(cè)試過(guò)程。帶內(nèi)存的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)使用一種算法模式生成器（APG，algorithmic pattern generator）去生成功能測(cè)試模型，使得從硬件上生成復(fù)雜的功能測(cè)試序列成為可能，這樣我們就不用把它們當(dāng)作測(cè)試向量來(lái)保存。存儲(chǔ)器測(cè)試的一些典型模型包括：棋盤(pán)法、反棋盤(pán)法、走0、走蝶形法，等等…… APG在器件的每次測(cè)試時(shí)生成測(cè)試模型，而不帶內(nèi)存的測(cè)試系統(tǒng)將預(yù)先生成的模型保存到向量存儲(chǔ)區(qū)，然后每次測(cè)試時(shí)從中取出數(shù)據(jù)。存儲(chǔ)器測(cè)試通常需要很長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間去運(yùn)行所要求的測(cè)試模型，為了減少測(cè)試成本，測(cè)試儀通常同時(shí)并行測(cè)試多顆器件。 模擬器件測(cè)試需要精確地生成與測(cè)量電信號(hào)，經(jīng)常會(huì)要求生成和測(cè)量微伏級(jí)的電壓和納安級(jí)的電流。相比于數(shù)字電路，模擬電路對(duì)很小的信號(hào)波動(dòng)都很敏感，DC測(cè)試參數(shù)的要求也和數(shù)字電路不一樣，需要更專(zhuān)業(yè)的測(cè)試儀器設(shè)備，通常會(huì)按照客戶的選擇在設(shè)計(jì)中使用特殊的測(cè)試儀器甚至機(jī)架。模擬器件需要測(cè)試的一些參數(shù)或特性包括：增益、輸入偏移量的電壓和電流、線性度、通用模式、供電、動(dòng)態(tài)響應(yīng)、頻率響應(yīng)、建立時(shí)間、過(guò)沖、諧波失真、信噪比、響應(yīng)時(shí)間、竄擾、鄰近通道干擾、精度和噪聲。 混合信號(hào)器件包括數(shù)字電路和模擬電路，因此需要測(cè)試系統(tǒng)包含這兩部分的測(cè)試儀器或結(jié)構(gòu)?；旌闲盘?hào)測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展為兩個(gè)系列：大部分?jǐn)?shù)字電路測(cè)試結(jié)構(gòu)、少量模擬測(cè)試結(jié)構(gòu)的系列，被設(shè)計(jì)成用于測(cè)試以數(shù)字電路為主的混合信號(hào)器件，它能有效地進(jìn)行DC參數(shù)測(cè)試和功能測(cè)試，但是僅支持少量的模擬測(cè)試；大部分模擬電路測(cè)試結(jié)構(gòu)、少量數(shù)字測(cè)試結(jié)構(gòu)的
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