[管理學(xué)]第4章質(zhì)量控制技術(shù)講稿(編輯修改稿)
2025-01-04 01:33 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 6） XR12 ... nX X XXn? ? ??m a x m i nR X X??X RX圖 6 圖 建立數(shù)據(jù) XR ? 對(duì)于 圖，坐標(biāo)上刻度值的最大值與最小值之差應(yīng)至少為子組均值（）的最大值與最小值差的 2倍。對(duì)于圖，刻度值應(yīng)從最低值為 0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大差（）的 2倍。 (見圖 7) XRX ? 將均值和極差分別畫在其各自的圖上。將各點(diǎn)用直線連接起來從而得到可見的圖形和趨勢(shì)，應(yīng)確保所畫的和點(diǎn)在縱向是對(duì)應(yīng)的 (見圖 7) 圖 7 圖 “初始研究” XR（）及過程均值（） 在研究階段，計(jì)算： R X12 ... kR R RRk? ? ??12 ... kX X XXk? ? ?? ? 計(jì)算控制限 4322RRXXUC L D RL C L D RUC L X A RL C L X A R??????4D 3D 2A式中 為常數(shù)，在統(tǒng)計(jì)過程控制系數(shù)表中根據(jù)樣本容量的不同可以查取 制限的控制線 ? 將平均極差（ ）和過程均值（ ）畫成水平實(shí)線，各控制限（ 、 、 、 ）畫成水平虛線。（見圖 8） R XRUCL RLCL XUCL XLCL 圖 8 有控制線的 圖 XR ?超出控制線的點(diǎn)（見圖 9） 出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何一個(gè)控制限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要證據(jù)。任何超出控制限的點(diǎn)是立即進(jìn)行分析，找出存在特殊原因的信號(hào)。 ?超出極差上控制限原因 1）控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)瞄錯(cuò) 2）零件間的變化性或分布的寬度已經(jīng)增大 3）測(cè)量系統(tǒng)變化（例如，不同的檢驗(yàn)員或量具） 4）測(cè)量系統(tǒng)沒有適當(dāng)?shù)姆直媪? ?超出極差下控制限原因 1）控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)瞄錯(cuò) 2）分布的寬度變小 3）測(cè)量系統(tǒng)變化（包括數(shù)據(jù)編輯或變換） 圖 9 R圖 有超出控制線的點(diǎn)存在 ? 鏈（見圖 10） 有下列現(xiàn)象之一表明過程已經(jīng)改變或出現(xiàn)這種趨勢(shì) ? 連續(xù) 7點(diǎn)位于平均值的一側(cè) ? 連續(xù) 7點(diǎn)上升（后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn)）或下降； ? 輸出值的分布寬度增加，需要查找原因并糾正； ? 輸出值的分布寬度減小，這常常是一個(gè)好的狀態(tài)，應(yīng)推廣應(yīng)用。 圖 10 R圖 鏈（極差） ? 明顯的非隨機(jī)圖形（見圖 11） ? 多余 2/3以上的點(diǎn)落在離很近之處； ? 少于 2/3以下的點(diǎn)落在離很近的區(qū)域。 圖 11 R圖 非隨機(jī)模式 （極差圖 ) 對(duì)于極差數(shù)據(jù)內(nèi)的每個(gè)特殊原因進(jìn)行標(biāo)注，作一個(gè)過程操作分析，從而確定該原因并改進(jìn)對(duì)過程的理解，糾正條件并且防止它再發(fā)生。 (見圖 12) （極差圖） ? 在進(jìn)行初次過程研究或重新評(píng)定過程能力時(shí)，失控的原因已被識(shí)別和消除或制度化，然后應(yīng)重新計(jì)算控制限，以排除失控時(shí)期的影響 ? 由于出現(xiàn)特殊原因而從 圖中去掉的子組，也應(yīng)從 圖中去掉。修改后的 和 可用于重新計(jì)算 圖與 圖的控制限（見圖 12） RX XRR X圖 12 圖 重新計(jì)算控制線（極差） XR 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) ? 超出控制限的點(diǎn)（見圖 13） ? 鏈（見圖 14） ? 明顯的非隨機(jī)圖形（見圖 15） 識(shí)別和標(biāo)注特殊原因（均值圖）（見圖 16） 重新計(jì)算控制限（見圖 16） 其過程和方法與極差圖類似，這里不再詳細(xì)說明 圖 13 圖 超
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