[管理學]第4章質(zhì)量控制技術講稿(編輯修改稿)
2025-01-04 01:33 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 6） XR12 ... nX X XXn? ? ??m a x m i nR X X??X RX圖 6 圖 建立數(shù)據(jù) XR ? 對于 圖，坐標上刻度值的最大值與最小值之差應至少為子組均值（）的最大值與最小值差的 2倍。對于圖，刻度值應從最低值為 0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大差（）的 2倍。 (見圖 7) XRX ? 將均值和極差分別畫在其各自的圖上。將各點用直線連接起來從而得到可見的圖形和趨勢，應確保所畫的和點在縱向是對應的 (見圖 7) 圖 7 圖 “初始研究” XR（）及過程均值（） 在研究階段，計算： R X12 ... kR R RRk? ? ??12 ... kX X XXk? ? ?? ? 計算控制限 4322RRXXUC L D RL C L D RUC L X A RL C L X A R??????4D 3D 2A式中 為常數(shù)，在統(tǒng)計過程控制系數(shù)表中根據(jù)樣本容量的不同可以查取 制限的控制線 ? 將平均極差（ ）和過程均值（ ）畫成水平實線，各控制限（ 、 、 、 ）畫成水平虛線。（見圖 8） R XRUCL RLCL XUCL XLCL 圖 8 有控制線的 圖 XR ?超出控制線的點（見圖 9） 出現(xiàn)一個或多個點超出任何一個控制限是該點處于失控狀態(tài)的主要證據(jù)。任何超出控制限的點是立即進行分析，找出存在特殊原因的信號。 ?超出極差上控制限原因 1）控制限計算錯誤或描點時瞄錯 2）零件間的變化性或分布的寬度已經(jīng)增大 3）測量系統(tǒng)變化（例如，不同的檢驗員或量具） 4）測量系統(tǒng)沒有適當?shù)姆直媪? ?超出極差下控制限原因 1）控制限計算錯誤或描點時瞄錯 2）分布的寬度變小 3）測量系統(tǒng)變化（包括數(shù)據(jù)編輯或變換） 圖 9 R圖 有超出控制線的點存在 ? 鏈（見圖 10） 有下列現(xiàn)象之一表明過程已經(jīng)改變或出現(xiàn)這種趨勢 ? 連續(xù) 7點位于平均值的一側 ? 連續(xù) 7點上升（后點等于或大于前點）或下降； ? 輸出值的分布寬度增加，需要查找原因并糾正； ? 輸出值的分布寬度減小，這常常是一個好的狀態(tài)，應推廣應用。 圖 10 R圖 鏈（極差） ? 明顯的非隨機圖形（見圖 11） ? 多余 2/3以上的點落在離很近之處； ? 少于 2/3以下的點落在離很近的區(qū)域。 圖 11 R圖 非隨機模式 （極差圖 ) 對于極差數(shù)據(jù)內(nèi)的每個特殊原因進行標注，作一個過程操作分析，從而確定該原因并改進對過程的理解，糾正條件并且防止它再發(fā)生。 (見圖 12) （極差圖） ? 在進行初次過程研究或重新評定過程能力時，失控的原因已被識別和消除或制度化，然后應重新計算控制限，以排除失控時期的影響 ? 由于出現(xiàn)特殊原因而從 圖中去掉的子組，也應從 圖中去掉。修改后的 和 可用于重新計算 圖與 圖的控制限（見圖 12） RX XRR X圖 12 圖 重新計算控制線（極差） XR 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點 ? 超出控制限的點（見圖 13） ? 鏈（見圖 14） ? 明顯的非隨機圖形（見圖 15） 識別和標注特殊原因（均值圖）（見圖 16） 重新計算控制限（見圖 16） 其過程和方法與極差圖類似，這里不再詳細說明 圖 13 圖 超
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