【文章內(nèi)容簡介】 Ac=1 , Re=2。 抽樣樣本大小為 : 125 3. 查減量單次抽樣計(jì)劃書 : Ac=0 , Re=2。 抽樣樣本大小為 : 32 YIP, QIP 介紹 ( REV:R00 ) 一 . YIP Yield improve program, 良率改進(jìn)活動(dòng) . QIP Quality improve program, 品質(zhì)改善活動(dòng) . 二 . YIP 主導(dǎo)者 : 每個(gè)廠之 PQC, 每日開 QIP 主導(dǎo)者 : 每個(gè)廠之 PQE, 每個(gè)星期開 三 . 內(nèi)容 : 1. 每天之不良現(xiàn)象檢討 ( YIP 比較側(cè)重此項(xiàng) ) 2. 建設(shè)品質(zhì)制度 : 如 首件制度 , 實(shí)配制度等等 3. QIP 中需檢討 YIP 中尚未解決的事 4. QIP 應(yīng)解決普遍存在的問題 四 . 會(huì)議要點(diǎn) : 1. 不良現(xiàn)象應(yīng)讓與會(huì)者明了 , 盡量地應(yīng)帶不良品去會(huì)議室 2. 分析根本原因 3. 動(dòng)作 : 暫 時(shí)措施是什麼 。 永久措施是什麼 。 怎樣再發(fā)防止 4. 動(dòng)作由誰負(fù)責(zé) 5. 動(dòng)作幾時(shí)開始 , 幾時(shí)完成 6. 效果確認(rèn) 必須要對措施之效果作追蹤 , 必需時(shí)必須調(diào)查措施 7. 每次會(huì)議應(yīng)檢討上一次會(huì)議之落實(shí)情況 五 . 會(huì)議決議之格式 , 見附件 產(chǎn)品之追溯性 ( REV: R00 ) 我們有如下之產(chǎn)品追溯措施 : Card 控制 , 其中包括 : 機(jī)型 (MODEL), 料號(hào) (P/N), 版本 (REV.), 日期 (DATE), 流水號(hào) (S/N), 各個(gè)站別的簽名 、 版本控制 ( Revision Control ) 其中包括各單件之版本 , 組合件之版本 number control 4. 各種印章 , 如 PC 廠 , 沖壓廠的印章 。 塑膠材料上生產(chǎn)日期 5. 部件上的料號(hào) , 穴號(hào) PQE 巡回稽核程序 ( REV: R00 ) 一 . 定義 1. 投入機(jī)種之生產(chǎn)條件與規(guī)格查核依 MPI 2. 各區(qū)段及各作業(yè)站操作品質(zhì)依 TPI/API 確認(rèn) 3. 工程變更之執(zhí)行狀況 ( ECO/MN 等 ) 4. 治工具之適用及堪用狀況之監(jiān)督 5. 測試設(shè)備設(shè)定狀況及使用情形之稽核 6. 有危害品質(zhì)之人 , 事 , 物 , 設(shè)備之查報(bào) 7. 安規(guī)要求 二 . 流程 : PQE 每周作稽核工作 開 始 依 CHECK LIST 檢查 結(jié) 果 發(fā)出稽核報(bào)告 OK NG 知會(huì)責(zé)任單位 問題處理改善動(dòng)作 PQE 稽核 結(jié) 果 依矯正及預(yù)防措施程序處理 NG PQE 制程稽核 稽核人 : 稽核日期 : 一 . 功能測試 1. 高壓測試 項(xiàng)目 規(guī)格 檢驗(yàn)狀況 A. 漏電電流 =10mA B. 電壓設(shè)定 ( 依 TPI ) C. 電流 20m? D. 時(shí)間設(shè)定 3 秒 E. 有無自檢 每天必須自檢 2. 接地電阻 A. 接地測試電流 25 A B. 接地測試電阻 =50m? C. 時(shí)間設(shè)定 3 秒 D. 頻率設(shè)定 50HZ E. 有無自檢 每天必須自檢 3. 電源電壓輸出測試 A. +5V B. 5V C. +12V D. 12V 4. FDD 測試 A. 有無按要求去操作 5. 測燈線與測風(fēng)扇 A. 操作員是否正確的使用治具 生產(chǎn)線狀況 OQA 狀況 測試人員對測試有無正確的 所有功能測試必要時(shí)應(yīng)加 掌握 以抽查 PAGE: 1 OF 2 稽核人 : 稽核日期 : 檢查項(xiàng)目 狀況 1. QII 是否完成 2. OQA 的作業(yè)彩圖是否懸掛 , 懸掛的 是否正確 3. OQA 功能測試有無按規(guī)定去做 如 : 燈線必須測 , 風(fēng)扇必須測 SPEAK 必須測 4. OQA 的作業(yè)與物品擺放有無問題 5. 生產(chǎn)線的 MPI 有無懸掛 , 懸掛的 是否正確 6. 生產(chǎn)線的 TPI 有無懸掛 , 懸掛的 是否正確 7. OQA,P/L 等的電動(dòng)起子是否每天校 驗(yàn) 8. 在線測 FDD 的操作員是否有按規(guī) 定戴靜電環(huán) , 靜電環(huán)有無校驗(yàn) 9. 不良品與良品是否確實(shí)劃分區(qū)域去 擺放 , 是否對應(yīng) FDD 所用的磁盤是否從資料中 心發(fā)行 ( 應(yīng)有資料中心的印章 ) 校驗(yàn) 之懸掛是否為最新日期的 , 標(biāo)示的正確與否 D/C 的發(fā)行章 18. PAGE: 2 OF 2 PC PQE 產(chǎn)品稽核 制程能力 ( REV: R00 ) 一 .Ca: 制程準(zhǔn)確度 ( Capability of accuracy ) 1. 從生產(chǎn)過程中所獲得之資料其實(shí)績平均值 ( X ) 與規(guī)格中心值 ( u ) 之間偏差之 程度 . 實(shí)績中心值 規(guī)格中心值 ( Xu ) Ca= %= % 規(guī)格許容差 T/2 T=SUSL=規(guī)格上限 規(guī)格下限 ( 或公差 ) Ca 值越小 , 品質(zhì)愈接近規(guī)格要求之水準(zhǔn) 2. 等級(jí)評(píng)定 : 等 級(jí) Ca 值 A | Ca | =% B %| Ca | 25% C 25%| Ca | 50% D 50% | Ca | 二 . 制程精密度 Cp( Capability of precision ) 1. 希望制造出來之各個(gè)產(chǎn)品之品質(zhì)水準(zhǔn)都能在規(guī)格上下限之許容范圍內(nèi) 規(guī)格許容差 規(guī)格公差 Cp= = 3σ 6σ Cp 值愈大愈好 2. 等級(jí) 評(píng)定 : 等 級(jí) Cp 值 A =Cp B =Cp C =Cp D Cp 三 . Cpk 制程能力指數(shù) ( 綜合指數(shù) ) 1. Cpk 是綜合 Ca 和 Cp 兩值之指數(shù) , 其計(jì)算式為 : | Xu | 設(shè) : K= = | Ca | T/2 T Cpk=( 1k ) = ( 1| Ca | ) Cp 6σ 當(dāng) Ca=0 時(shí) , Cpk=Cp 單邊規(guī)格時(shí) , Cpk 即以 Cp 值計(jì) , 但需取絕對值 2. 等級(jí)評(píng)定 : 等級(jí) Cpk 值 A =Cpk B =Cpk C Cpk 3. 等級(jí)之處置 a. A 級(jí) : 制程能力足夠 b. B 級(jí) : 制程能力尚可 , 應(yīng)再努力 c. C 級(jí) : 制程應(yīng)加以改善 四 . 影響 Cpk 之要素 : a. 實(shí)際測量值 b. 尺寸公差 計(jì)量值與計(jì)數(shù)值管制圖 ( REV: R00 ) 一 . 管制圖 ( control chart ) 之分類 : a. 計(jì)量值管制圖 X – R: 平均值與全距管制圖 X – R: 中位數(shù)與全距管制圖 XRm: 個(gè)別值與全距移動(dòng)管制圖 Xδ : 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 b. 計(jì)數(shù)值管制圖 : pChart: 不良率管制圖 PnChart: 不良數(shù)管制圖 CChart: 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 UChart: 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 其中 , X – R: 平均值與全距管制圖 , PChart: 不良率管制圖 用的比較普遍 二 . 概念 : 1. 樣本平均值 : x , X = 1/nΣ Xi 如 : 一孔徑測量如下 : 9 點(diǎn)鐘 : 測量數(shù)據(jù)為 : , , , 這一時(shí)段平均值 X1 為 : 10 點(diǎn)鐘 : 測量數(shù)據(jù)為 : , , , 這一時(shí)段平均值 X2 為 : 群體平均值 : X= 如上例中 , X=( X1+X 2)/2=(+)/2= 2. 極差 R: 最大值 最小值 ,如上例中 9 點(diǎn)鐘時(shí) R1=。 10 點(diǎn)鐘時(shí) R2= 平均極差 R: R = (Σ Ri)/k 上述例子中 9,10 點(diǎn)鐘 R=( R1+R2)/2 = 3. 中心值 : CL=u( 或 x ) 上控制限 : UCL=u+3σ 下控制限 : LCL=u3σ UCL=u+3σ 3σ 3σ ~ Σ X k 4. S— 平方和 S= Σ (XiX ) 5. S 變異數(shù) 平方和 ( S ) 除以數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù) ( n ) 6. δ 標(biāo)準(zhǔn)差 變異數(shù) ( S ) 加以開平方即得標(biāo)準(zhǔn)差 三 . XR Chart 圖 : 1. 平均值與全距管制圖者 , 是平均值管制圖 ( X – Chart ) 和全距管制圖 ( RChart ) 兩者合並使用 , 平均值管制圖系 管制平均值之變化 , 即分配之集中趨勢之變化 。 全距管制圖則管制變異之程度 , 即分配之散布狀況 . 2. 群體之 u 及σ未知與已知時(shí)之公式 : 管制圖類別 群體之 u 及σ未知時(shí) 群體之 u 及σ已知時(shí) 平 均 值 CLx =X CLx =u 管 制 圖 UCLx =X+A2R UCLx =u+Aσ LCLx = XA2R LCLx =u Aσ 全 距 CLr=R CLr = d2σ 管 制 圖 UCLr=D4R UCLr = D2σ LCLr=D3R LCLr = D1σ 注 : 工廠中之制造工程其群體之 u 及σ大多為未知 , 故建立 XR 管制圖時(shí) , 均常采用群體之 u 及σ未知之公式計(jì)算 3. 判定 : a. 如制程分配范圍在規(guī)格界限內(nèi) , 且中心規(guī)格附近 , 可認(rèn)為制程能力能滿足規(guī)格要求 b. 如產(chǎn)品分配范圍之寬度比規(guī)格界限之寬度為窄 , 但由於中心離規(guī)格中心偏離一方 , 致使產(chǎn)品上限或下限超出規(guī)格界限 , 此時(shí)宜調(diào)整制程平均值 , 使與規(guī)格中心一致 . c. 如產(chǎn)品分配范圍之寬度比規(guī)格界限之寬度為寬 , 表示制程能力不足 . 4. 例子 見附葉 UCL=u3σ 2 2 2 四 . pChart : 不良率管制圖 : 1. 計(jì)算公式 : P=Pn/n= 不良個(gè)數(shù) / 總檢驗(yàn)數(shù) 平均不良率 P =Σ Pn/Σ n= 總不良數(shù) / 總檢驗(yàn)數(shù) 標(biāo)準(zhǔn)差 : σ = √ 管制線 : 中心線 : CL=P 上管制限 UCL=P + 3 √ 下管制限 LCL=P – 3 √ 2. 例子如附頁 P ( 1 P ) /n P ( 1 P ) /n P( 1P ) n 供應(yīng)商分等程序 ( REV: R00 ) 一 . 目的 : 建立供應(yīng)商分等之目的在於明瞭各供應(yīng)商交貨品質(zhì) , 提供采購時(shí)參考及作為 IQC 改進(jìn)交貨品質(zhì)之依據(jù) 二 . 作業(yè)流程 : 1. 記錄建檔 : IQC 在檢驗(yàn)完畢後將結(jié)果鍵入 MIS 系統(tǒng) 2. IQC 固定 ISSUE 月 , 季 , 年報(bào) , 在每月 20 號(hào)直接使用 MIS 系統(tǒng)功能 , 產(chǎn)生廠商交貨狀況報(bào)表 3. 交貨 RATI