統(tǒng)計(jì)過程控制spc-wenkub
2023-02-08 17:30:21 本頁(yè)面
【正文】 圖形。 SPC常用術(shù)語(yǔ)解釋 5 波動(dòng)的概念是指在現(xiàn)實(shí)生活中沒有兩件東西是完全一樣的。如操作方法的微小變動(dòng)、機(jī)床的微小振動(dòng)、刀具的正常磨損、夾具的微小松動(dòng)、材質(zhì)上的微量差異等。如原材料不合格、設(shè)備出現(xiàn)故障、工夾具不良、操作者不熟練等。 10 上 控 制限 (UCL) 中心 線 (CL) 下控制限 (LCL) 控制 圖 的 定義 收集 收集數(shù)據(jù)并描點(diǎn)在圖上 控制 從過程數(shù)據(jù)計(jì)算試運(yùn)行控制限 識(shí)別變差的特殊原因并采取措施 分析及改進(jìn) 量化普通原因變差，采取措施將它減小 重復(fù)這三個(gè)階段從而持續(xù)地改進(jìn)過程 11 工序處于穩(wěn)定狀態(tài)下，其分布通常符合正態(tài)分布。 控制 圖 的 設(shè)計(jì) 12 % % % μ +1σ +2σ +3σ 1σ 2σ 3σ 控制 圖 的 設(shè)計(jì) 13 % % μ 177。 % % μ 177。 控制 圖 的 設(shè)計(jì) 中心線ＣＬ＝分析的統(tǒng)計(jì)量的均值 上控制限ＵＣＬ＝ＣＬ＋３＊均值的標(biāo)準(zhǔn)差 下控制限ＬＣＬ＝ＣＬ－３＊均值的標(biāo)準(zhǔn)差 中心線 下控制限線 上控制限線 15 計(jì)量型數(shù)據(jù) XR 均值和極差圖 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù) p chart 不合格品率控制圖 XS均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖 np chart不合格品數(shù)控制圖 XR 中位值極差圖 c chart 不合格數(shù)控制圖 XMR單值移動(dòng)極差圖 u chart單位產(chǎn)品不合格數(shù)控制圖 ~ 控制 圖 的 類型 16 確定要使用控制圖的特性 否 否 是 是 使用 np或 p圖 否 使用 p圖 否 使用 u圖 是 是 使用 c或 u圖 是 是 使用單值圖 XMR 是計(jì)量型 數(shù)據(jù)嗎？ 關(guān)心的是 不合格產(chǎn)品的 百分比嗎？ 關(guān)心的是 不合格數(shù)嗎？ 樣本容量 是否恒定？ 樣本容量 是否恒定？ 性質(zhì)上是否均勻 或不能按子組取樣 —例如：化學(xué)槽液、 批量油漆等？ 接下頁(yè) 控制 圖 的 選用程序 17 是 否 使用 X— R圖 是 否 使用 X— R圖 使用 X— s圖 注：本圖假設(shè)測(cè)量系統(tǒng)已經(jīng)過評(píng)價(jià) ,并且是適用的。（即其中之一或兩者均不受控）進(jìn)而采取適當(dāng)?shù)拇胧Ｔ谀且稽c(diǎn)之前可能已經(jīng)發(fā)生了特殊原因。 如果一個(gè)控制圖從來沒有顯示失控，那么我們應(yīng)該認(rèn)真 的思考一下這個(gè)過程是否應(yīng)該使用控制圖。 2? dR=?2? dR=?如果過程處于統(tǒng)計(jì)受控狀態(tài)，過程能力將非常接近過程性能，當(dāng)過程的能力和性能 6 之間存在較大差別時(shí)表示有特殊原因存在。計(jì)算公式如下： Cp不受過程位置的影響，這個(gè)指數(shù)只是針對(duì)雙邊公差而計(jì)算的。 Cpk 和 Cp應(yīng)該總是一起進(jìn)行評(píng)價(jià)和分析。 案例練習(xí) 43 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK IT
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