統(tǒng)計過程控制spc(文件)
【正文】 S FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。 Cpk是 CPU或者 CPL的最小值，公式如下： 2 3 3 d R LSL x CPL x USL CPU = = = Cp和 Cpk 僅僅當過程處于 穩(wěn)定狀態(tài)時 才有效。它考慮了過程的位置和能力。過程能力與由公差表示的最大可允許的變差進行比較。 本章的小結 35 統(tǒng)計過程控制(SPC) 四、過程能力和性能 雙邊公差的指數(shù)（ Cp和 Cpk、 Pp和 Ppk、 CR和 PR） 單邊公差的指數(shù) （ Cpk、 Ppk） 過程能力和過程性能概念 36 過程能力和過程性能的概念 過程能力： 僅適用于統(tǒng)計穩(wěn)定的過程，是過程固有變差的 6 范圍。 UCL CL LCL 如何定義“不受控”信號 30 UCL LCL R UCL R LCL 不受控制的過程的極差 （存在高于和低于極差均值的兩種鏈） 不受控制的過程的極差（存在長的上升鏈） 31 不受控制的過程的均值（長的上升鏈） 不受控制的過程的均值 （出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈） UCL X LCL UCL X LCL 32 典型特殊原因識別準則 典型特殊原因識別準則的匯總 1 一個點遠離中心線超過 3個標準差 2 連續(xù) 7點位于中心線一側 3 連續(xù) 6點上升或下降 4 連續(xù) 14點交替上下變化 5 2/3的點距中心線的距離超過 2個標準差（同一側） 6 4/5的點距中心線的距離超過 1個標準差（同一側） 7 連續(xù) 15個點排列在中心線 1個標準差范圍內（任一側） 8 連續(xù) 8個點距中心線的距離大于 1個標準差（任一側） 33 “ 三立即 ”原則： 操作者或現(xiàn)場管理者根據(jù)規(guī)定的取樣頻率和樣本容量抽取樣本組、 立即 計算 Xbar和 R并將其畫在控制圖中并與前點用短直線連接； 立即 應用特殊原因識別準則判定制造過程是否存在特殊原因； 如制造過程存在特殊的原因，操作著或現(xiàn)場管理者應 立即 分析不受控特殊原因并采取措施確保制造過程恢復到受控狀態(tài)。 因為子組極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差，因此， 首先應分析 R圖。 21 均值的 計 算： 極 差的 計 算： 如何計 算 Ｘ bar－Ｒ控制圖每 個 子 組 的 控制統(tǒng)計量 ? n n 2 1 x … x x X + + + = min max x x R = 22 k為子組數(shù) k R R R R k x x x x x k k + + + = + + + + = ..... ..... 2 1 3 2 1 極差平均值： 過程平均值： 中心線的計算公式 23 R D LCL R D UCL R CL R A X LCL R A X UCL X CL R R R X X X 3 4 2 2 = = = = + =
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