【正文】
S FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。 Cpk是 CPU或者 CPL的最小值,公式如下: 2 3 3 d R LSL x CPL x USL CPU = = = Cp和 Cpk 僅僅當(dāng)過(guò)程處于 穩(wěn)定狀態(tài)時(shí) 才有效。它考慮了過(guò)程的位置和能力。過(guò)程能力與由公差表示的最大可允許的變差進(jìn)行比較。 本章的小結(jié) 35 統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制(SPC) 四、過(guò)程能力和性能 雙邊公差的指數(shù)( Cp和 Cpk、 Pp和 Ppk、 CR和 PR) 單邊公差的指數(shù) ( Cpk、 Ppk) 過(guò)程能力和過(guò)程性能概念 36 過(guò)程能力和過(guò)程性能的概念 過(guò)程能力: 僅適用于統(tǒng)計(jì)穩(wěn)定的過(guò)程,是過(guò)程固有變差的 6 范圍。 UCL CL LCL 如何定義“不受控”信號(hào) 30 UCL LCL R UCL R LCL 不受控制的過(guò)程的極差 (存在高于和低于極差均值的兩種鏈) 不受控制的過(guò)程的極差(存在長(zhǎng)的上升鏈) 31 不受控制的過(guò)程的均值(長(zhǎng)的上升鏈) 不受控制的過(guò)程的均值 (出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長(zhǎng)鏈) UCL X LCL UCL X LCL 32 典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則的匯總 1 一個(gè)點(diǎn)遠(yuǎn)離中心線超過(guò) 3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差 2 連續(xù) 7點(diǎn)位于中心線一側(cè) 3 連續(xù) 6點(diǎn)上升或下降 4 連續(xù) 14點(diǎn)交替上下變化 5 2/3的點(diǎn)距中心線的距離超過(guò) 2個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差(同一側(cè)) 6 4/5的點(diǎn)距中心線的距離超過(guò) 1個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差(同一側(cè)) 7 連續(xù) 15個(gè)點(diǎn)排列在中心線 1個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差范圍內(nèi)(任一側(cè)) 8 連續(xù) 8個(gè)點(diǎn)距中心線的距離大于 1個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差(任一側(cè)) 33 “ 三立即 ”原則: 操作者或現(xiàn)場(chǎng)管理者根據(jù)規(guī)定的取樣頻率和樣本容量抽取樣本組、 立即 計(jì)算 Xbar和 R并將其畫(huà)在控制圖中并與前點(diǎn)用短直線連接; 立即 應(yīng)用特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則判定制造過(guò)程是否存在特殊原因; 如制造過(guò)程存在特殊的原因,操作著或現(xiàn)場(chǎng)管理者應(yīng) 立即 分析不受控特殊原因并采取措施確保制造過(guò)程恢復(fù)到受控狀態(tài)。 因?yàn)樽咏M極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差,因此, 首先應(yīng)分析 R圖。 21 均值的 計(jì) 算: 極 差的 計(jì) 算: 如何計(jì) 算 X bar-R控制圖每 個(gè) 子 組 的 控制統(tǒng)計(jì)量 ? n n 2 1 x … x x X + + + = min max x x R = 22 k為子組數(shù) k R R R R k x x x x x k k + + + = + + + + = ..... ..... 2 1 3 2 1 極差平均值: 過(guò)程平均值: 中心線的計(jì)算公式 23 R D LCL R D UCL R CL R A X LCL R A X UCL X CL R R R X X X 3 4 2 2 = = = = + =