【正文】 記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況，當(dāng)這些情況被發(fā)現(xiàn)時，將它們記錄在控制圖的 “備注 ”部份。107尋找并糾正特殊原因?qū)ふ也⒓m正特殊原因n 當(dāng)從數(shù)據(jù)中已發(fā)現(xiàn)了 非受 控的情況時，則必須研究操作過程以便確定其原因。108控制圖的即時性控制圖的即時性process TIME109重新計算控制限重新計算控制限n 當(dāng)進(jìn)行初始過程研究或?qū)^程能力重新評價時，應(yīng)重新計算 試 驗控制限，以更排除某些控制時期的影響，這些時期中控制狀態(tài)受到特殊原因的影響，但已被糾正。 對于 p圖，過程能是通過過程 平均不合率來表 示 ， 當(dāng)所有點(diǎn)都受控后才計算該值。167。 過程一旦表現(xiàn)出處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，該過程所保持的不合格平均水平即反應(yīng)了該系統(tǒng)的變差原因─ 過程能力。167。167。 在過程改變期間出現(xiàn)的特殊原因變差被識別并糾正后，過程將按一個新的過程均值處于統(tǒng)計控制狀態(tài)。117Case study組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10“n” 100 150 100 200 150 100 100 200 150 100“d” 1 0 1 3 2 1 0 2 1 0組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20“n” 150 200 100 150 100 100 150 200 200 150“d” 0 1 0 2 0 1 0 2 1 0組 21 22 23 24 25“n” 100 150 200 150 100“d” 0 1 2 0 1118Case study167。 “np”圖是 用 來度量一個檢驗中的不合格品的數(shù)量，與 p圖不同， np圖表示不合格品實際數(shù)量而不是與樣本的比率。 各 階段子組的樣本容量相同 。 樣本容量應(yīng)足夠大使每個子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個不合格品， 在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量。 C過程控制解釋：同 “p”圖的解釋。 請判定過程是否穩(wěn)定？167。167。 過程控制解釋n同 p圖解釋167。131Case study167。 “u”圖用來測量具有 容量不同的樣本 (受檢材料的量不同 )的子組內(nèi)每檢驗單位產(chǎn)品之內(nèi)的缺陷數(shù)量。 各子組樣本的容量彼此不必都相同，盡管使它的容量保持在其平均值的正負(fù) 25%以內(nèi)可以簡化控制限的計算。134B計算控制限計算控制限135過程控制解釋、過程能力解釋過程控制解釋、過程能力解釋167。過程能力為 u平均，即每報告單元缺陷數(shù)平均值。 如果是不穩(wěn)定該如何處理？138解析用控制圖改進(jìn)生產(chǎn)過程控制用控制圖受控狀態(tài)非受控說明： 控制用控制圖界限可直接延長描點(diǎn)使用 　　 控制用控制圖之界限應(yīng)定期修正控制界限重新計算非受控狀態(tài)受控狀態(tài)過程能力分析SPC控制流程控制流程139 Thanks! 謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH。 請計算出上表的 u控制圖的控制限？167。同 p圖解釋167。 記錄并描繪每個子組內(nèi)的單位產(chǎn)品缺陷數(shù)u=c/n167。 “u”圖和 “c”圖適用于相同的數(shù)據(jù)狀況，但如果樣本含有多于一個 “單位產(chǎn)品 ”的量，為使報告值更有意義時，可以使用 “u”圖，并且在不同時期內(nèi)樣本容量不同時必須使用 “u”圖。 請判定過程是否穩(wěn)定？167。 過程能力為 c平均值，即固定容量 n的樣本的缺陷數(shù)平均值。 檢驗樣本的容量 (零件的數(shù)量， 織 物的面 積 ，電線的長度等 )要求相等，這樣描繪的 c值將反映質(zhì)量性能的變化 (缺陷的發(fā)生率 )而不是外證的變化 (樣本容量 n)， 在數(shù)據(jù)表中記錄樣本容量；167。 “c”圖 用 來測量一個檢驗批內(nèi)的缺陷的數(shù)量， c圖要求樣本的容量或受檢材料的數(shù)量 恒 定 ，它主要用以下兩類檢驗：n 不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上 (例如每匹維尼 龍 上的瑕疪，玻璃上的氣泡或電線上 絕緣 層薄的點(diǎn) )，以及可以用不合格的平均比率表示的地方 (如每 100平方米維尼龍上暇疵 )。 D過程能力解釋：過程能力如下：123100 100 100 100 100 100 100 100 100 1001 2 1 0 1 2 1 2 0 2不合格品數(shù)不合格品數(shù) np圖圖124Case study組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10“n” 150 150 150 150 150 150 150 150 150 150“d” 1 0 1 3 2 1 0 2 1 0組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20“n” 150 150 150 150 150 150 150 150 150 150“d” 0 1 0 2 0 1 0 2 1 0組 21 22 23 24 25“n” 150 150 150 150 150“d” 0 1 2 0 1125Case study167。 記錄并描繪每個子組內(nèi)的不合格品數(shù) (np)。 受檢驗 樣本的容量必須相等 。 不合格品的實際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報告。 請判定過程是否穩(wěn)定？167?？勺鳛楝F(xiàn)行控制的基礎(chǔ)。這個變化時期對系統(tǒng)操作會是破壞性，可能造成新的控制問題，掩蓋系統(tǒng)變化后的真實效果。但是如果僅使用計數(shù)型數(shù)據(jù)將很雖理解問題所在，通常 盡 可能地追溯變差的可疑原因，并借助計量型數(shù)據(jù)進(jìn)行分 析 將有利于問題的解決116繪制并分析修改后的過程控制圖繪制并分析修改后的過程控制圖167。 必須對系統(tǒng)本身直接采取管理措施，否則過程能力不可能得到改進(jìn)。這些連續(xù)的受控的時期子組的 p值是該過程當(dāng)前能的更好的估計值。167。它們便變成了操作控制限 ，當(dāng)將來的數(shù)據(jù)收集記錄了后，就對照它來評價。由于特殊原因是通過控制圖發(fā)現(xiàn)的，要求對操作進(jìn)行分析，并且希望操作者或現(xiàn)場檢驗員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。n 控制限用水平 虛 線：一般為 紅 色 虛 線。劃 圖區(qū)域99A4將不合格品率描繪在控制圖上將不合格品率描繪在控制圖上n 描繪每個子組的 p值，將這些點(diǎn)連成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。n 分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的週期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。167。 C過程控制解釋167。 通常最好是記錄每對連續(xù)讀數(shù)間的差值 (例如第一和第二個讀數(shù)點(diǎn)的差，第二和第三讀數(shù)間的差等 )。167。167。 C過程控制解釋167。一般情況下，中位數(shù)圖用在樣本容量小于 10的情況，樣本容量為奇數(shù)時更為方便。 請判定過程是否穩(wěn)定？167。(同 XbarR圖解釋 )Xbars控制圖控制圖167。 Ppk78167。 Ca167。 如果過程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自 n=4調(diào)為 n=5時，那么其新控制限為何？70Ｄ過程能力解釋D1計算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差D2計算過程能力D3評價過程能力D4提高過程能力D5對修改的過程繪制控制圖并分析建立建立 XbarR圖的步驟圖的步驟 D71%%%μ +1σ +2σ +3σ1σ2σ3σLSL USLM過程能力過程能力72過程能力指數(shù)過程能力指數(shù) Ca73過程能力指數(shù)過程能力指數(shù) Cp74過程能力指數(shù)過程能力指數(shù) Cpk75過程性能指數(shù)過程性能指數(shù) Ppk7610 14 18T12 16μ Cp CPL CPU CPK Cpm13 2 T10 14 1812 1610 14 18T12 16μ Cp CPL CPU CPK Cpm1