【正文】 LCL=規(guī)格下界限 =過程總偏差 = n=所有樣本的容量CP= USLLSL6σS^σS^K Xjj=1K＝X=_ ∑n Xii=1n－X=＝－－＝＝－－－－－－－－－R=XmaxX? 定義測量系統(tǒng)：該過程采用三班制生產(chǎn)，因此確定的測量系統(tǒng)為 3班各一位檢驗人員，共用一把卡尺，及各班生產(chǎn)的產(chǎn)品? 測量系統(tǒng)分析：經(jīng)分析測量系統(tǒng)誤差在可接受范圍? 確定抽樣數(shù)及抽樣頻率：抽樣子組容量為 5pcs，連續(xù)抽樣，抽樣頻率為每1小時抽樣一次。K Xjj=1K＝X=_∑ 1 個點，距離中心線超過 個標準差。 3 點中有 2 點，距離中心線超過 2 個標準差（在中心線的同一側）? 檢驗出下列點不合格 : 3, 7, 11, 27, 28XbarR圖98/171CECpanda LCD technology? 結論：過程存在變異的異常原因，過程處于非受控狀態(tài)，須進行分析和改善? 計算過程能力：? 因為該過程處于非受控狀態(tài)，故無法計算過程能力XbarR圖99/171CECpanda LCD technology判異細則：? 1點超控制限度? 連續(xù) 9點在目標值的一側? 連續(xù) 6點上升或下降? 連續(xù) 14點交替上下? 連續(xù) 3點中有 2點在同一側 2sigma線外? 連續(xù) 5點中有 4點在同一側 1sigma線外? 連續(xù) 15在 1sigma線內(nèi)? 連續(xù) 8中無一點在 1sigma線內(nèi)控制圖判異準則判異原則：?點出界就判異。?出現(xiàn)可查明原因。100/171CECpanda LCD technology檢驗 1 和 2? 檢驗 1 – 基本檢驗 . ? 由流程中的一個大的改變引起 .? 要求馬上采取行動 .? 檢驗 2? 由流程平均值改變引起UCLLCLAABCCB檢驗 1. 單個點超出區(qū)間 AxxUCLLCLAABCCBTest 2. 連續(xù)九個點都在中心線的同一側x?101/171CECpanda LCD technology檢驗 1 和 2 – 展示 規(guī)則 1規(guī)則 2? ? ?X杠UCLLCL? ? ?檢驗 1. 單個點超出區(qū)間 ATest 2. 連續(xù)九個點都在中心線的同一側102/171CECpanda LCD technology檢驗 3 和 4? 檢驗 3 – 向上或向下的趨勢? 有下列原因造成 限內(nèi)高度變動? 主要的特殊偏差原因之一? 檢驗 6? 另一個檢驗偏移的規(guī)則? 檢驗 5,相互關聯(lián)并顯示出某個特殊原因引起的流程高度變化狀態(tài)UCLLCLAABCCB檢驗 5. 連續(xù)三個點有兩個落在中心線同一側的 B區(qū)以外x xx UCLLCLAABCCB檢驗 6. 連續(xù)五個點中有四個落在中心線同一側 C區(qū)以外xx106/171CECpanda LCD technology檢驗 5 和 6 – 展示 X杠? ? ?UCLLCL? ? ?規(guī)則 5規(guī)則 6檢驗 5. 連續(xù)三個點有兩個落在中心線同一側的 B區(qū)以外檢驗 6. 連續(xù)五個點中有四個在中心線同一側 C區(qū)以外107/171CECpanda LCD technology檢驗 7 和 8? 檢驗 7 – 白色空間檢驗? 當組內(nèi)偏差大于組間偏差時發(fā)生,或? 陳舊的或算錯的控制限? 檢驗 8 – 平均值波動? 有混合現(xiàn)象? 過度控制? 同一個圖上有兩個流程在進行UCLLCLAABCCB檢驗 7. 連續(xù)十五個點在區(qū)間 C中(中線上下都有 )xUCLLCLAABCCB檢驗 8. 連續(xù)八個點在中線兩邊但不在區(qū)間 C內(nèi)x?108/171CECpanda LCD technology檢驗 7 和 8 – 展示 X杠? ? ?UCLLCL? ? ?規(guī)則 7 規(guī)則 8檢驗 7. 連續(xù)十五個點在區(qū)間 C中(中線上下都有 ) 檢驗 8. 連續(xù)八個點在中線兩邊但不在區(qū)間 C內(nèi)109/171CECpanda LCD technology判穩(wěn)細則： 在點子隨機排列的情況下，符合下列條件之一判穩(wěn)：? 連續(xù) 25個點，界外點數(shù)＝ 0，? 連續(xù) 35個點，界外點數(shù) ≦ 1，? 連續(xù) 100個點，界外點數(shù) ≦ 2。?無趨勢和其他模式。但是對于超出界限的點，仍然需要仔細分析具體的原因！110/171CECpanda LCD technology控制圖的解釋? 控制圖是探測特殊原因偏差的有力工具 . ? 如果發(fā)現(xiàn)了特殊原因 :1. 如果失控條件是一個趨勢的一部分 ,把該趨勢的起點和終點都標出來2. 對流程進行分析以確定引起失控條件 (OOC113/171CECpanda LCD technology異常原因（ XbarR圖）R圖超界 R圖非隨機趨勢 X圖超界 X圖非隨機趨勢?數(shù)據(jù)錯誤?控制界限計算錯誤?描點錯誤?測量系統(tǒng)變化?測量系統(tǒng)分辨力不足?過程變異分布寬度變寬?數(shù)據(jù)錯誤?控制界限計算錯誤?描點錯誤?測量系統(tǒng)變化?測量數(shù)據(jù)可能來自不同的總體?過程變異質(zhì)量特性發(fā)生變化?數(shù)據(jù)錯誤?控制界限計算錯誤?描點錯誤?測量系統(tǒng)變化?過程變異分布中心變化?數(shù)據(jù)錯誤?控制界限計算錯誤?描點錯誤?測量系統(tǒng)變化?測量數(shù)據(jù)可能來自不同的總體?過程變異位置發(fā)生變化5M1E(人，機，料，法，量，環(huán)）管理分析 以消除明顯的過程偏差114/171CECpanda LCD technologyXbarS圖? XbarS圖與 XbarR的比較? ? S圖的比較? (1)R可以比較靈敏的檢出子組內(nèi)個別值異常所造的過程偏差， S圖無法做到此點? (2)S圖描述過程分布寬度比 R圖更為準確? ? Xbar –S圖適用于子組容量較大 ,又可以方便計算 S 值得計量值數(shù)據(jù)過程控制 .115/171CECpanda LCD technologyXbarS圖? 確定進行控制的過程? 確定進行控制特性項目? 定義測量系統(tǒng)? 進行測量系統(tǒng)分析? 消除明顯的過程偏差? 收集數(shù)據(jù)? 確定子組樣本容量 :XbarS圖應用于子組樣本容量 =9的場合 ,在使用時一般每個子組取10個樣本 .? 確定子組抽樣頻率 :綜合考慮過程的穩(wěn)定性和經(jīng)濟性 ,至少每個班次抽樣一次? 確定子組數(shù)：一般而言子組數(shù)在 25個以上 ,這樣可以比較全面地判斷過程穩(wěn)定性? 建立 XbarS控制圖? 計算控制界限? 繪圖 ? 分析控制圖? 計算過程能力? 改善或維持116/171CECpanda LCD technologyXbarS圖? 計算控制界限? UCLx=X+A3S? LCLx=XA3S? CLx=X? UCLs=B4S? LCLs=B3S? CLs=S? n=子組容量? Xi=子組內(nèi)每個測量數(shù)據(jù)? X=子組平均值? K=子組數(shù)? Xj=每個子組的均值? Sj=每個子組的標準差? A3， B3， B4均為常數(shù)∑K Sjj=1K－S=∑=nXixniS=√＝－－＝＝－－－－－－－－－117/171CECpanda LCD technologyXbarS圖? 為對某產(chǎn)品孔徑 A的分布狀態(tài)有較為詳細的了解，決定用 Xbar –S圖對其進行控制，流程如下：? 確定需控制的過程和項目：? 控制過程為機加工過程，控制項目為某產(chǎn)品的孔徑 A，其規(guī)格為：∮ 177。? 抽取樣本：抽取 25組，樣本數(shù)據(jù)如下表118/171CECpanda LCD technologyXbarS圖119/171CECpanda LCD technologyXbarS圖? 計算控制界限? UCLx=X+A3S=+=? LCLx=XA3S==? CLx=X=? UCLs=B4S==? LCLs=B3S==? CLs=S=? n=子組容量? Xi=子組內(nèi)每個測量數(shù)據(jù)? X=子組平均值? K=子組數(shù)? Xj=每個子組的均值? Sj=每個子組的標準差? A3， B3， B4均為常數(shù)∑KSjj=1K－S=＝－－＝＝－－－－－－－－－= =120/171CECpanda LCD technologyXbarS圖? 將數(shù)據(jù)及控制界限作于 XbarS圖上? 分析 S圖：按 S圖的分析準則判斷，未發(fā)現(xiàn)異常? 分析 Xbar圖：按 Xbar 圖的分析準則判斷，未發(fā)現(xiàn)異常? 結論：根據(jù)對 S圖和 Xbar圖的分析，可以判斷過程處于受控狀態(tài)121/171CECpanda LCD technologyXbarS圖? 計算過程能力CP= USLLSL6σS/C4^ SC4CPU= USLXbar3σS/C4^CPK=Min[CPU， CPL]==()==()==()==122/171CECpanda LCD technologyXbarS圖? 計算過程能力? ZUSL=3CPU==? ZLSL=3CPL==? ZMin=Min[ZUSL， ZLSL]=? 計算過程合格率? 計算過程不合格率? 以 ZUSL=， PUSL=? 以 ZLSL=， PLSL=? 過程總不合格率 P=PUSL+PLSL=3178PPM? 計算過程合格率 =1P= CPK=＜ 1，因此該過程能力需要改善。直方圖 是一種表示一組數(shù)據(jù)分布情況的條形圖，表示不同數(shù)據(jù)值出現(xiàn)的頻數(shù)。直方圖的制作方法128/171CECpanda LCD technology 步驟：? 收集數(shù)據(jù) 約 100個數(shù)據(jù)? 計算極差 R＝ 最大值 L－ 最小值 S ? 適當分組 ? 確定組距 組距 H＝ 極差 R / 組數(shù) K ? 確定各組區(qū)界線? 計算落在各組中的數(shù)據(jù)數(shù)目? 在紙上畫直方圖 直方圖的制作方法129/171CECpanda LCD technology 組數(shù)選用表 數(shù)據(jù)數(shù)目 組數(shù) K50－ 100 6－ 10100－ 250 7－ 12250 以上 10－ 20 組數(shù)太少會掩蓋各組內(nèi)數(shù)據(jù)的變動情況，組數(shù)太多會使各組的高度參差不齊，從而看不出明顯的規(guī)律。 (b) 孤島形常見的直方圖形態(tài)137/171CECpanda LCD technologyc、 雙峰型 (Doublepeaked) 用兩臺有一定差別的設備或兩種原料所生產(chǎn)的產(chǎn)品混在一起，或是混合兩個人加工的產(chǎn)品。(c) 雙峰形(d) 斷齒型常見的直方圖形態(tài)138/171CECpanda LCD technologye、 偏向型 (Skewed) 偏左：由于某種原因使下限受限制時易發(fā)生 偏左型 。 (e) 偏向型常見的直方圖形態(tài)139/171CECpanda LCD technologyf、 陡壁型 (Truncated) 一般在產(chǎn)品質(zhì)量較差時為得到符合標準的產(chǎn)品，需要進行全數(shù)檢驗來剔除不合格品，當用剔除了不合格品后的產(chǎn)品數(shù)據(jù)作直方圖時容易產(chǎn)生這種類型。 (g) 平頂形h、 邊峰型 (Edgepeaked) 某個異常因素在起作用(a)邊峰型常見的直方圖形態(tài)141/171CECpanda LCD technology 對正常型直方圖，用數(shù)據(jù)散布范圍 B與標準范圍（公差） T進行比較，觀察直方圖是否都在標準范圍之中，以便了解生產(chǎn)過程中的質(zhì)量狀況。? 對于數(shù)據(jù)非正態(tài)分布的過程能力分析有兩種方法? 一、將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換后再用正態(tài)數(shù)據(jù)分析法進行分析計算? 二、用韋伯分布數(shù)據(jù)分析法? 以上均需要借助于 Minitab進行152/171CECpanda LCD technologyMinitab介紹? 它是數(shù)據(jù)分析與處理的軟件 ,如果你要做 6Sigma項目或 SPC的話 , 裝一個 Minitab是很有用的 ,它可很簡單的做出各類控制圖 \直方圖 ,根據(jù)樣本數(shù)