【正文】 : A 近3個月工序或產(chǎn)品的改進(jìn)效果如何? B 你的改善能為公司節(jié)約多少錢或時間, 數(shù)據(jù)? C 你怎樣得到的, 請出示數(shù)據(jù)? D 你的效果和結(jié)論的文件?,6 SIGMA的方法,?,6σ Tools,Basic 分層法、Flow Chart、Histogram 、Pareto Diagram 、Fish Bone Chart、散布圖、控制圖、IPO圖、SOP Advance MSA、Cpk analysis、SPC、相關(guān)分析、回歸分析、方差分析、FMEA Professional DOE Others 質(zhì)量損失函數(shù)、QFD、抽樣與檢驗,?,IPO 工序輸入輸出圖 Flow Chart 流程圖 FE因果圖/魚骨圖 SOP 標(biāo)準(zhǔn)操作程序,Module I 第一單元,?,工序輸入輸出圖,INPUTS輸入 Sources of Variability People 人力 Materials 材料 Equipment 設(shè)備 Policies 政策 Procedures 步驟 Methods 方法 Environment 環(huán)境,Outputs輸出 Measures of Performance Perform a service 提供一項服務(wù) Produce a product 生產(chǎn)一件產(chǎn)品 Complete a task 完成一項任務(wù),Process 工序 綜合所有的輸入以最終達(dá)到所需的輸出,對工序操作的描述,產(chǎn)品的規(guī)格,要求等,?,工序輸入輸出圖(IPO),定義 是通過羅列輸入輸出變量和輸出特征而對工序給出的一種直觀的表示 作用 清楚的展求工序過程, 認(rèn)識輸入變量與輸出響應(yīng)之間的關(guān)系 使用原因 更好地理解工序以及輸入輸出之間的關(guān)系,?,Process Mapping(PF)工序流程,定義 是一種幫助分析工序的工具, 它把工序分解成多個細(xì)小的步驟 作用 幫助我們識別工序中的復(fù)雜性和各種問題, 找出多余的步驟和不必要的循環(huán), 對可以改進(jìn)的地方進(jìn)行簡化和標(biāo)準(zhǔn)化 使用的原因 為了認(rèn)識工序中實際的步驟和流程,?,測量Measure,重新設(shè)計,分析Analyze,改善Improve,控制Control,能力ok?,是否改設(shè)計?,能力ok?,Y,N,6 SIGMA的方法,N,Y,N,Y,確定目標(biāo)Define,?,因果圖/魚骨圖(CE),定義 通常用象魚骨一樣的圖來表示對輸出有可能影響的因素 作用 圍繞一個問題或焦點, 集中一個團(tuán)體知識和意見作出一個圖, 以找到影響工序的因素 使用的原因 鑒別和找到所有可能影響一個工序或問題的原因, 并且最終找到根本原因 1) 找出作SOP需的控制項。 2) 找出需實驗改善的項。 作出一個工序的流程圖(PF)并優(yōu)化, 在寫SOP時, 將按PF的順序步驟寫。 按流程順序?qū)慡OP草稿, 并控制住所有的C項。 按作出的SOP草稿, 討論并實驗確定X項, 將其變?yōu)镃項, 并在最終的SOP中控制。 100250數(shù), 1020組。 推論: 二項分布的極限分布是正態(tài)分布。 2. 車間的100臺機床是互相獨立的, 已知每臺機器的實際工作時間為全部時間的80%, 任意時間內(nèi)有75臺以上機器在工作的幾率為0.89。 4. 人壽公司有3000個同一年齡段的人投保, 在1年里這些人死亡率是0.1%, 參加保險的人在一年中交100元, 死時家屬可以領(lǐng)走10000元, (1) 保險公司一年獲利200000元的機率為0.9548。,?,對正態(tài)分布曲線下的特定面積，可以由以下公式求出Z值，再由正態(tài)分布表求出： Z=(Xu)/σ Z為從正態(tài)分布中X到中心值u的數(shù)值。 Cpk,Cp 潛在工序能力,Cp= Process capability potential 潛在工序能力 用于衡量一個工序的加工能力的重要參數(shù) 基于以下假設(shè): 1.工序為普通工序,即服從正態(tài)分布。 有:,Lower spec limit(LSL)規(guī)格下限,Upper spec limit(USL)規(guī)格上限,平均值Y,?,Cp amp。 2.工序為受控。 Cpk,對于單向公差, 有: 1. Cp不適用, 或者可以認(rèn)為Cp=Cpk。,?,σlevel =min [(USLY)/ σ, (YLSL)/ σ] 工序的 σ水平,σcapability 工序的σ能力,Lower spec limit(LSL)規(guī)格下限,Upper spec limit(USL)規(guī)格上限,平均值Y,Mean=Y 平均值 S=standard variability≈ σ 標(biāo)準(zhǔn)偏差 D.P.M.= Defect Per Million 百萬產(chǎn)品中的缺陷率,σlevel amp。 2. 要求有99.73%以上的產(chǎn)品的值應(yīng)落在1+/0.1之間。 4. 此工序的σ=標(biāo)準(zhǔn)偏差0.1/3mm。,你知道圖紙上的一個值1+/0.1原來有這么多的意義嗎?,?,Cpk capability level,?,Cp long team and short team,長期和短期的工序能力,?,Process Capability amp。 Cpk2=1.01, σlevel2=3.02 。Cpk,σ相同, 對1+/0.5和1+/1的兩種規(guī)格, Cpk不同. σ=0.194, Cpk(0,2)=1.71, Cpk(0.5,1.5)=0.856, σlevel(0,2)=5.13, σlevel(0.5,1.5)=2.568,對于同樣的產(chǎn)品, 規(guī)格不同, Cpk不同, σlevel也不同 增加Cpk的方法: 2. σ不變, 規(guī)格加寬。 Cpk2=1.03, σlevel2=3.08 。 而100個6σ工序,良率也可達(dá)99.966%,?,工序1,流程數(shù), σ水平與良率,工序3,工序2,工序20,工序1,CHANGE TO,工序3,工序2,工序10,每個工序σ水平相同, 假定為4 σ, 將工序數(shù)從20個改為10個, 直通率提高5.7% 。又稱管制圖。 取樣昂貴,費時。 而異因總是在一個方向上的,不會因為平均而抵消. 因此Xbar圖檢出異因的能力高. R圖的靈敏度不如Xbar圖高.,?,Control Chart 控制圖,?,控制圖的繪制,(1)收集數(shù)據(jù) 選擇控制的參數(shù) 能測定的產(chǎn)品或工序的參數(shù) 與客戶使用及生產(chǎn)關(guān)系重大的參數(shù) 對下工序影響較大的參數(shù) 經(jīng)常出問題的參數(shù) 關(guān)鍵工序的參數(shù),?,(2) 決定樣本大小n及抽樣間隔 N約在4~10個之間，不宜太大 同一組的數(shù)據(jù)最好在同一生產(chǎn)條件及同一短時間內(nèi)取樣 初期分析的制程最好在較小的的間隔連繼取樣，控制狀態(tài)下之工序可加長其間隔 每組樣本可識別日期、時間等 不影響生產(chǎn)及可接受的成本下,控制圖的繪制,?,控制圖的繪制,(3)計算控制上下限, 對XbarR, 只需算出σ即可 XbarR P chart UCL=Xbar+3 UCLp= Pbar +3 CL=Xbar CLpr= Pbar LCL=Xbar3 LCLp= Pbar –3,?,QC7大手法之五:控制圖找異常, XR控制圖的數(shù)值計算,子組平均值：,子組極差：R =,總平均值：,極差平均值：,X控制圖控制線：,R控制圖控制線：,?,Pn不良品控制圖,先決條件: 每次抽樣數(shù)必須保持不變, 且抽檢時的樣品數(shù)與判定Pn圖時, 樣本的數(shù)量要相等, 否則要用P控制圖. 作圖步驟: 1. 搜集數(shù)據(jù). 確定樣本大小時, 不良品最好在1—5 個以上, 測取20—25組. 2. 計算平均不良品率P和平均不良品數(shù)Pn。 2. 計算每組的不良率P。 4. 計算控制上下限。 6. 也可以作百分率的不良率作控制圖,?,C控制圖,計點控制圖. 在一定單位上, 樣本N固定時, 用來控制缺陷. 1. 收集數(shù)據(jù), 樣本不變, 從中測定缺陷C, 取25組以上。 3. 計算控制界線。 2. 計算每單位上的平均缺陷數(shù)。 4. 計算控制上下限。 連續(xù)35個點最多1個點在界線外。 注意: 對以上點落在界限線外的情況也必須按上頁16字處理. 另, 連續(xù)15點集中在中心線附近需重新繪控制圖,?,異常判斷,1. 控制圖上點超過控制界限； 2. 控制圖上點的排列分布有缺陷； 鏈： 連續(xù)7點出現(xiàn)在中心線CL一側(cè)； 偏離：連續(xù)的11點中至少有10點出現(xiàn)在一側(cè)時； 連續(xù)的14點中至少有12點出現(xiàn)在一側(cè)時； 傾向：連續(xù)7點不斷的上升或下降； 周期：呈階梯形周期變動、波狀周期變動、大小波動等； 接近：連續(xù)3點中有2點在外側(cè)的1/3帶狀區(qū)間內(nèi)； 連續(xù)7點中有3點在外側(cè)的1/3帶狀區(qū)間內(nèi)； 連續(xù)10點中有4點在外側(cè)的1/3帶狀區(qū)間內(nèi)。 缺點: 繁瑣 2. 分層隨機抽樣 將母體進(jìn)行分層, 再從各層中進(jìn)行抽樣. 優(yōu)點: 樣本代表性好。 缺點: 代表性差, 抽樣誤差大 4. 系統(tǒng)隨機抽樣 在時間或空間上按一定間隔從批量中抽取. 優(yōu)缺點: 同群隨機抽樣,?,各種抽樣方法的區(qū)別,500個產(chǎn)品, 分別裝在50箱中, 總共抽50個. 1. 將500個倒在一起混合, 編號, 用查隨機表或抽簽或擲骰子抽取為單純隨機抽樣。 3. 從50箱中用單純隨機抽樣的方法抽5箱來全檢為整群隨機抽樣 4. 每隔10箱抽1箱來全檢為系統(tǒng)隨機抽樣。 INSPECTION,檢驗: 用一定的方法測定產(chǎn)品, 將其結(jié)果與質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)比較, 從而作出合格與不合格的判定. 檢驗是一種測定, 比較和判斷的活動. 其即適用于產(chǎn)品, 也適用于過程, 即適用于單件產(chǎn)品, 也適用于成批產(chǎn)品. 可分為: 1. 進(jìn)料檢驗。 3. 最終檢驗. 也可分為: 1. 全檢。 有以下作用: 1. 保證作用, 保證不合格的原料不投產(chǎn), 不合格的半成品不投入下工序, 不合格的成品不出廠。 3. 監(jiān)督作用: 對產(chǎn)品的狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)督。 2. 檢驗費用少, 成品中有致命危害的項目. 全檢不等于全數(shù)保證, 在檢驗項目多, 檢驗數(shù)量大的情況下, 即使全檢也不能保證無缺陷. 因此, 在生產(chǎn)中全檢的產(chǎn)品, 也無法保證完全無缺陷.,?,抽檢,用于: 破壞性檢驗。 產(chǎn)品數(shù)量多或檢驗的項目多。 旨在進(jìn)行工序狀態(tài)的監(jiān)督和控制. 單位產(chǎn)品: 為實施抽樣檢驗需要而劃分的基本單位。 2. 批合格概率 對批質(zhì)量(合格或不合格率)已知的批, 按給定抽檢方案判該批為合格的可能性大小.,?,