【正文】 ：分成幾類，避免重復(fù)及遺漏。Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 統(tǒng)計過程控制 SPC 1 培訓(xùn)師 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 概 述 ◎統(tǒng)計方法的定義：資料的收集、整理與解釋，并導(dǎo)出 結(jié)論或加以推廣。 ◎資料種類：計數(shù)值（間斷資料， Discrete Data） 計量值（連續(xù)資料， Continuous Data） ◎資料來源：原材料 過程（工序參考） 檢驗（產(chǎn)品特性） 2 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 群體與樣本 Ｎ μ s xn?3 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理的步驟 ：保存資料的真實性。 ：進行歸類。 ：繪成統(tǒng)計圖。成品經(jīng) 觀察、測量或測試可衡量其績效。 2. 績效報告： 從衡量成品得到有關(guān)過程績效的資料，由此提供過程的控 制對策或改善成品。 4. 成品改善： 對已經(jīng)制造出來的不良品加以選別，進行全數(shù)檢查并返工 / 返修或報廢。 Kσ 在內(nèi)之概率 在外之概率 μ177。 1σ % % μ177。 2σ % % μ177。 3σ % % 9 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 常態(tài)分配 10 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 控制界限的構(gòu)成 11 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 普 通 原 因 (偶因 ) 與 特 殊 原 因 (異因 ) 之變異 隨機變異 : 過程中變異因素是始終存在 ,且不易識別的原因造成的 , 并假定為過程所固有。 就是統(tǒng)計控制狀態(tài) (簡稱 穩(wěn)態(tài) )。 異常原因 (異因 ) 就是非統(tǒng)計控制狀態(tài) (簡稱 非穩(wěn)態(tài) )。β risk) α :虛發(fā)報警錯誤 (概率 ) β :漏發(fā)報警錯誤 (概率 ) 15 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 α :虛發(fā)報警錯誤 (概率 ) 過程正常而點子偶然超出控制界外 ,根據(jù)點出界就判異的原則 ,判斷過程處于異常 ,于是就犯了第一種錯誤 ,亦稱為虛發(fā)報警錯誤 ,通常將發(fā)生這種錯誤的概率記為 α 15 β :漏 發(fā)報警錯誤 (概率 ) 過程 已出現(xiàn)了異常 ,但仍會有部分產(chǎn)品 ,其質(zhì)量特性值的數(shù)值大小會位于控制界內(nèi) .如果抽取到這樣的產(chǎn)品 ,點子就會落在控制界內(nèi) ,而不能判斷過程出現(xiàn)了異常 ,從而犯了第二種錯誤 .亦稱為漏發(fā)報警錯誤 ,通常將發(fā)生這種錯誤的概率記為 β Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 第一種錯誤與第二種錯誤 (α risk 。 1σ % 177。 2σ % 177。 3σ % 177。 4σ % 177。 （ n = 5） RX ?RXX22 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 － R控制圖用數(shù)據(jù)表 X產(chǎn)品名稱：紫銅管 機械號碼： XXX 質(zhì)量特性：內(nèi)徑 操 作 者： XXX 測定單位： m/m 測 定 者： XXX 制造場所： XXX 抽樣期限： 自 年 月 日至 年 月 日 樣 組 測 定 值 R 樣 組 測 定 值 R X1 X2 X3 X4 X5 X1 X2 X3 X4 X5 1 50 50 49 52 51 3 14 53 48 47 52 51 6 2 47 53 53 45 50 8 15 53 48 49 51 52 5 3 46 45 49 48 49 4 16 46 50 53 51 53 7 4 50 48 49 49 52 4 17 50 52 49 49 49 3 5 46 48 50 54 50 8 18 50 49 50 49 51 2 6 50 49 52 51 54 5 19 52 49 52 53 50 4 7 47 49 50 48 52 5 20 50 47 50 53 52 6 8 48 50 46 49 51 5 21 52 49 51 53 50 4 9 50 50 49 51 53 4 22 55 54 51 51 50 5 10 49 51 51 46 48 5 23 50 54 52 50 49 5 11 51 50 49 46 50 5 24 47 51 51 52 52 5 12 50 50 49 52 51 3 25 53 51 51 50 51 3 13 49 49 49 50 55 6 1250 120 X X23 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 R 繪圖步驟 與Ｒ算出記入數(shù)據(jù)表內(nèi)。 X 組別 R 組別 R 1 23 11 9 2 8 12 8 3 22 13 7 4 12 14 4 5 7 15 6 6 8 16 6 7 15 17 10 8 6 18 9 9 7 19 7 10 12 20 10 28 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 P控制圖 (不良率 ) (1) 公組樣本大小 n相等時： CL ＝ UCL ＝ ＋ 3 LCL ＝ － 3 (2) n不等，且相差小于 20%時： CL ＝ UCL ＝ ＋ 3 LCL ＝ － 3 P )/nP(1P － n)/P(1P －－P －29 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 P控制圖 (不良率 ) (3) n不等，且相差大于 20%時： CL ＝ UCL ＝ ＋ 3 LCL ＝ － 3 )/niP－(1P )/niP－(1P30 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 P控制圖 (不良率 )