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控制圖講義統(tǒng)計過程控制(spc)-全文預(yù)覽

2025-02-26 20:39 上一頁面

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【正文】 而不會錯 , 檢查精度愈 高 。 整合協(xié)力廠商 , 使其依存度提高 。 如產(chǎn)品結(jié)構(gòu) 、 尺寸 、 試驗項目 、 方法 、 規(guī)格 、 不合格處理 、 質(zhì)量保證期間處理方式 、 包裝方法 、 運輸方法 ...。 合適的廠商輔導(dǎo)辦法 ( 培育 ) 。 73 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 掌握過程控制之主要因素 (1) 適當(dāng)?shù)脑O(shè)備(機械、治工具、計測器) 精度要足夠。 ? 定期維護保養(yǎng):周保養(yǎng)、月保養(yǎng)、季保養(yǎng)、年保養(yǎng)等(定期 檢查報告書)。 保養(yǎng)人員要有足夠之教育訓(xùn)練以提升保養(yǎng)技能(高 度自動化、無人化保全更為重要)。 (4) 設(shè)備之改善 保全人員、技術(shù)人員改善。 76 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 掌握過程控制之主要因素 (1)具備完整之作業(yè)標(biāo)準書(指導(dǎo)書)并與現(xiàn)行作業(yè)完全相 符。 使其完全了解并熟記在心里,能夠自己書寫、修訂是最理想的。 干部應(yīng)做檢查、審核與確認之工作。 (3) 嚴格遵守作業(yè)標(biāo)準書的內(nèi)容 要讓作業(yè)者知道遵守作業(yè)標(biāo)準書之重要性。 鼓勵找出更佳方法(問題、質(zhì)量、改善意識),使成 為目前所知最佳合理的方法。 作業(yè)者改善(如 :QCC)。 75 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 掌握過程控制之主要因素 (3) 正確之操作 有完整之操作說明。 ? 備品備件管理。 (2) 良好之保養(yǎng) ── 使性能穩(wěn)定 要有完善之設(shè)備管理規(guī)定,訂定年度保養(yǎng)計劃,并按計劃對 其進行保養(yǎng)。 ? 先進先出 ? 整理整頓 ? ABC分類管理 。 進料時作檢查或?qū)徍?。 要有清楚 、 明確之質(zhì)量要求 。 有適當(dāng)之廠商獎勵辦法 ( 激勵 、 考核制度 ) 。 (4) 提高人員能力或技能 教育培訓(xùn) 、 訓(xùn)練 、 再教育培訓(xùn) 。 自動檢查之采用 。 施予檢驗訓(xùn)練和培訓(xùn):測定值讀取方法 、 測定器正確使 用法 ...。 ( 對質(zhì)量負責(zé)之意識;我做之工作 , 由我保證 ) 。 67 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 掌握過程控制之主要因素 (1) 人人有足夠之質(zhì)量意識 。 (4)其它過程條件 ( 因素 ) 變更時 。 65 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 過程能力評價之時期 分定期與不定期兩種: :每周 、 每月 、 每季 。 。 。 , 決定最經(jīng)濟的作業(yè)水準 。 。 。 ,使其得到最佳之應(yīng)用。 59 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 過程能力等級判斷及處置建議- Cpk 等級 Cpk過程能力指數(shù) Process Capability Index 處 置 建 議 A ≦Cpk 過程能力足夠 B ≦Cpk < 過程能力尚可 , 應(yīng)再努力 。 求: (1) Cp (2) Cpk (3) P% 57 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 過程能力等級判斷及處置建議- Cp 等級 Cp過程精密度 Capability of precision 處置建議 A ≦Cp (T=8σ ) 此一過程甚為穩(wěn)定 , 可以將規(guī)格許容差縮小或勝任更精密之工作 。 54 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 過程能力分析 (精密度, Precision) CP = T/6σ (雙邊規(guī)格) CP = ( Su- ) / 3σ 或 ( - SL) / 3σ (單邊規(guī)格) (過程能力, Process Capability Index) Cpk =( 1- │ Ca│ ) Cp;( Su- ) / 3σ or( - SL) / 3σ (取最小的數(shù)值 ) XX55 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 過程能力分析 P↓ (綜合評價) (1) ZU = 3Cp( 1+ Ca)超出下限 PU% ZL = 3Cp( 1- Ca)超出上限 PL% P% = PU% + PL% 總不良率 (2) ZU =( SU- ) /σ , ZL =( SL- ) /σ (1) :過程平均值 (3) T :公差 (2) σ :過程標(biāo)準差 (4) Sc:規(guī)格中心 XX56 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 例:某產(chǎn)品的電性規(guī)格是 560177。 :過程的異常趨勢可實時對策 , 預(yù)防整批不良 ,以減 少浪費 。 6. 測量數(shù)據(jù)之有效數(shù)字位數(shù)未標(biāo)準化 。 3. 使用 SPC前未作充分準備 。(如圖 a) (2)連續(xù)六點繼續(xù)上升 (或下降 )-開始調(diào)查原因。 此種型態(tài)通常稱之為”不穩(wěn)定型”,如圖四。 此種型態(tài)通常稱之為“混合型”,因樣本中可能包括兩種 群體,其中一種偏大,另一種偏小,如圖二。 2. 少數(shù)的點子,落在控制界限附近。 與R = = = = = = A2, D4, D3 A2= , D4= , D3=負值(以 0代表) 25120XRnX?25254,1R24 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 R 繪圖步驟 (1) 控制圖 CL= = UCL= + A2 = + () ()= LCL= - A2 = - () ()= (2) R 控制圖: CL = = UCL= D4 = () ()= LCL= D3 = (0) ()= 0 XRX25 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 – R 繪圖步驟 X26 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 – R 控制圖 X27 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 Work shop – R 范例 某產(chǎn)品制成后 , 經(jīng)常發(fā)現(xiàn)不良品 , 今利用 –R控制圖控制其質(zhì)量特性 , 每天取樣 2次 , 每次樣本大小 n=5, 下表是 10天內(nèi)所收集之?dāng)?shù)據(jù) ( 由同一作業(yè)員操作同一部機器所得之?dāng)?shù)據(jù) ) , 試計算 –R控制圖之控制界限 , 并繪成控制圖 。 3σ % % 177。 1σ % % 177。 12 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 過程中只有普通原因 (偶因 )的變異 13 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 過程中有特殊原因 (異因 )的變異 14 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 第一種錯誤 α與第二種錯誤 β (α risk 。 普通原因 偶然原因 (偶因 ) 結(jié)果為 : 在統(tǒng)計的控制狀態(tài)下, 一般 原因
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