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控制圖講義統(tǒng)計過程控制(spc)(完整版)

2025-03-08 20:39上一頁面

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【正文】 繪點 、 實施 持 續(xù) 改 進 控 制 圖 控制圖判讀 處置措施 OK OK NG 19 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 控制圖的選擇 計數(shù)值 計量值 n=1 控制圖的選擇 數(shù)據(jù)性質(zhì)? 樣本大小 n=? 數(shù)據(jù)系不良數(shù) 或缺點數(shù) CL性質(zhì) ? n是否相等? 單位大小是 否相關(guān) n=? n≧ 2 n=2~5 n=3或 5 n≧ 10 不是 是 不是 是 缺點數(shù) 不良數(shù) RX~? 控制 圖 控制 圖 控制 圖 控制 圖 P 控制 圖 PN 控制 圖 U 控制 圖 C 控制 圖 ~X???RmX20 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 計量值/計數(shù)值控制圖公式匯總 n :子組大小 控制圖 CL UCL LCL 附注 計 量 值 R 均值 極差 μ , σ 未知 n=2~ 5最適當(dāng) n10以下 R σ μ , σ 未知 10≦n≦25 S R N=3 or 5較佳 R 與之 R圖相同 XRm X k:組數(shù) n:樣本大小 Rm 計 數(shù) 值 P P使用小數(shù) P使用 % Pn n= C 樣本大小相同時使用 , n=20 ~ 25 U 樣本大小不同時使用 (為階梯界限 )n=20~25 X~ X~ /kX?? R/kX/k S/k /k~ ? R/k?X 1)nRm/(kmR ??? nd/P ?? d/kdn ???C/kC ?? nC/U ??? RAX 2?RD4 S3SB 4 RAm~ 23?D 4 mREX 2?4 /nP)(1P3P ? )/nP(100 ?? )P(1Pn3n P ??C3C? /nU3U?X 2?RD3 S3SB 3 R~ 23?D3 XmR 3 )/nP(1P ? )/n(100PC /n3?P ?P 5/1 ~21 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 控制圖(平均值與全距) : (1) 控制圖 CL = UCL = + A2 LCL = - A2 (2) R 控制圖 CL = UCL = D4 LCL = D3 : 某工廠制造一批紫銅管,應(yīng)用 R控制圖來控制其內(nèi)徑,尺寸 單位為 m/m,利用下頁數(shù)據(jù)表之資料,求得其控制界限并繪圖。 4. 沒有點子超出控制界限外 (就是有也很少 )。 40 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 檢 定 規(guī) 則 (異常判定 ) 檢定規(guī)則 1: (模式 5) 連續(xù) 3點中有 2點在中心線同側(cè) A區(qū)或 A 區(qū)以外者 (口訣 :3分之 2A)(B區(qū)外 ) C:01σ B:1σ2σ A: 2σ3σ 檢定規(guī)則 2: (模式 6) 連續(xù) 5點中有 4點在中心線同側(cè) B區(qū)或 B 區(qū)以外者 (口訣 :5分之 4B) (C區(qū)外 ) 41 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 檢定規(guī)則 3: (模式 8) 連續(xù) 有 8點在中心線之兩側(cè),但 C區(qū)并無點子者。 4. 欠缺統(tǒng)計技術(shù) 。 :估計機器能力 , 可妥善安排適當(dāng)機器生產(chǎn)適 當(dāng)零件 。 C ≦Cp < (T=5σ ) 檢討規(guī)格及作業(yè)標(biāo)準(zhǔn) , 可能本過程不能勝任如此精密之工作 。 ,用于建立經(jīng)濟控制界限。 。 「質(zhì)量控制方案」,包括抽樣間隔、樣本大小及控制界限。 (2)機器設(shè)備修理完成時 。 了解自己工作之質(zhì)量重要性 。 新進人員培訓(xùn)應(yīng)重視 。 不斷地改善使工作更好做 , 而不會錯 , 檢查精度愈 高 。 如產(chǎn)品結(jié)構(gòu) 、 尺寸 、 試驗項目 、 方法 、 規(guī)格 、 不合格處理 、 質(zhì)量保證期間處理方式 、 包裝方法 、 運輸方法 ...。 73 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 掌握過程控制之主要因素 (1) 適當(dāng)?shù)脑O(shè)備(機械、治工具、計測器) 精度要足夠。 保養(yǎng)人員要有足夠之教育訓(xùn)練以提升保養(yǎng)技能(高 度自動化、無人化保全更為重要)。 76 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 掌握過程控制之主要因素 (1)具備完整之作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)書(指導(dǎo)書)并與現(xiàn)行作業(yè)完全相 符。 干部應(yīng)做檢查、審核與確認(rèn)之工作。 鼓勵找出更佳方法(問題、質(zhì)量、改善意識),使成 為目前所知最佳合理的方法。 75 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 掌握過程控制之主要因素 (3) 正確之操作 有完整之操作說明。 (2) 良好之保養(yǎng) ── 使性能穩(wěn)定 要有完善之設(shè)備管理規(guī)定,訂定年度保養(yǎng)計劃,并按計劃對 其進行保養(yǎng)。 進料時作檢查或?qū)徍?。 有適當(dāng)之廠商獎勵辦法 ( 激勵 、 考核制度 ) 。 自動檢查之采用 。 ( 對質(zhì)量負(fù)責(zé)之意識;我做之工作 , 由我保證 ) 。 (4)其它過程條件 ( 因素 ) 變更時 。 。 , 決定最經(jīng)濟的作業(yè)水準(zhǔn) 。 。 59 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 過程能力等級判斷及處置建議- Cpk 等級 Cpk過程能力指數(shù) Process Capability Index 處 置 建 議 A ≦Cpk 過程能力足夠 B ≦Cpk < 過程能力尚可 , 應(yīng)再努力 。 54 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 過程能力分析 (精密度, Precision) CP = T/6σ (雙邊規(guī)格) CP = ( Su- ) / 3σ 或 ( - SL) / 3σ (單邊規(guī)格) (過程能力, Process Capability Index) Cpk =( 1- │ Ca│ ) Cp;( Su- ) / 3σ or( - SL) / 3σ (取最小的數(shù)值 ) XX55 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 過程能力分析 P↓ (綜合評價) (1) ZU = 3Cp( 1+ Ca)超出下限 PU% ZL = 3Cp( 1- Ca)超出上限 PL% P% = PU% + PL% 總不良率 (2) ZU =( SU- ) /σ , ZL =( SL- ) /σ (1) :過程平均值 (3) T :公差 (2) σ :過程標(biāo)準(zhǔn)差 (4) Sc:規(guī)格中心 XX56 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 例:某產(chǎn)品的電性規(guī)格是 560177。 6. 測量數(shù)據(jù)之有效數(shù)字位數(shù)未標(biāo)準(zhǔn)化 。(如圖 a) (2)連續(xù)六點繼續(xù)上升 (或下降 )-開始調(diào)查原因。 此種型態(tài)通常稱之為
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