5光電子能譜分析-在線瀏覽
2025-02-24 17:32本頁面
【正文】 態(tài) 。借助各種表面分析儀，對物體 10nm以內(nèi)的表面層進行分析，可得到的信息有：（ 1）物質(zhì)表面層（包括吸附層）的 化學(xué)成分 ，除氫元素以外的元素都可以從表面分析法獲得定性和定量的結(jié)果。表面分析可以得到的信息表面由于各種原因，具有與基體不同的物理化學(xué)性質(zhì)。7光電子能譜分析1概述電子能譜是一種研究物質(zhì)表面的性質(zhì)和狀態(tài)的物理方法。表面的含義 ：指固體最外層的 1～ 10個原子的表面層和吸附在它上面的原子、分子、離子或其它覆蓋層。（ 2）物質(zhì)表面層 元素所處的狀態(tài) 或 與其它元素間的結(jié)合狀態(tài)和結(jié)構(gòu) ，即元素所處的原子狀態(tài)、價態(tài)、分子結(jié)構(gòu)等信息。（ 4） 物質(zhì)表面層的物理性質(zhì) 。因此，在作表面分析工作時，不僅在制備樣品時要求在 高真空和超凈條件 下進行，而且在測試過程中也要注意儀器中的條件，以防止因污染而引起測試誤差。表面分析法的特點 表面分析一般是測定物質(zhì)表面的平均成分，不是體內(nèi)、也不是微區(qū)成分，它測定的是物質(zhì)受激發(fā)而發(fā)出的價電子或內(nèi)層電子的能量；與紅外光譜相比，紅外光譜給出的是分析指紋，或是基團特征，而 表面分析則可給出原子指紋，測定原子的價態(tài)（電子結(jié)構(gòu)）、原子和電子所處的能級，從而可以定出分子結(jié)構(gòu)。UPS光電子能譜 表面分析測定物質(zhì)表面層厚度在 10nm以內(nèi)的各種信息，所以與粒子逸出的深度緊密相關(guān)。激發(fā)源：離子束（ 2） 紫外光電子能譜 （ UPS）發(fā)射源（信號）：價電子（ 3） 俄歇電子能譜（ AES)發(fā)射源（信號）：俄歇電子 Electron Spectroscopy for Chemical Analysis ））發(fā)射源（信號）：電子 Eb隨元素而不同，并且有較高的分辨力，它不僅可以得到原子的第一電離能，而且可以得到從價電子到 K殼層的各級電子電離能，有助于了解離子的幾何構(gòu)型和軌道成鍵特征。光電子能譜的基本原理如果 hν大于 該電 子的 結(jié) 合能 Eb，那么電 子就將脫離原來受束 縛 的能 級 。過 程如下： 當(dāng)光與物質(zhì)起相互作用時并不總產(chǎn)生光電效應(yīng)，而是有一定的幾率。去激的方式一般有兩種可能，即發(fā)射特征 X射線：或發(fā)射俄歇電子：Conduction BandValence BandL2,L3L1KFermiLevelFree Electron Level光：光： Incident Xray 發(fā)射出的光電子發(fā)射出的光電子 Ejected Photoelectron1s2s2p光電效應(yīng) （ Photoelectric Process）
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